测量平台系统和测量系统技术方案

本申请公开了一种测量平台系统和测量系统，用于安装测量装置，其中，包括平台装置以及处理器装置，其中平台装置包括：箱体；设置于箱体表面的安装机构，用于安装测量装置；以及设置于箱体内的陀螺仪以及加速度计，其中陀螺仪和加速度计用于检测与测量装置的姿态和/或位置相关的位姿检测信息，并且处理器装置配置用于根据位姿检测信息，对测量装置所测量的测量信息进行校正。

Measurement platform system and measurement system

【技术实现步骤摘要】
测量平台系统和测量系统
本申请涉及测量
，特别是涉及一种测量平台系统和测量系统。
技术介绍
在使用测量装置对被测物体进行测量的过程中，例如使用光管测量装置对被测物体的平行度或者角度检测的过程中，容易受到颤动、抖动等外界的干扰。尤其是在手持仪器进行测量时，受到手部的颤抖的影响，会使得测量装置的光轴的位置和角度都受到干扰，从而导致测量结果产生较大误差。此外，测量装置在安装固定过程中也可能会出现安装位置以及安装姿态的偏差，从而也容易导致测量结果产生较大误差。对于由于测量装置的位置和角度偏差导致的测量结果产生较大误差的技术问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本公开提供了一种测量平台系统和测量系统，以至少解决现有技术中存在的由于测量装置的位置和角度偏差导致的测量结果产生较大误差的技术问题。根据本申请的实施例，提供了一种测量平台系统，用于安装测量装置。系统包括平台装置以及处理器装置。其中，平台装置包括：箱体；设置于箱体表面的安装机构，其中安装机构用于安装测量装置；以及设置于箱体内的陀螺仪以及加速度计，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量平台系统，用于安装测量装置(300)，其特征在于，包括平台装置(100)以及处理器装置(200)，其中/n所述平台装置(100)包括：箱体(110)；设置于箱体(110)表面的安装机构(120)，用于安装所述测量装置(300)；以及设置于所述箱体(110)内的陀螺仪(130)以及加速度计(140)，其中所述陀螺仪(130)和所述加速度计(140)用于检测与所述测量装置(300)的姿态和/或位置相关的位姿检测信息，并且/n所述处理器装置(200)配置用于根据所述位姿检测信息，对所述测量装置(300)所测量的测量信息进行校正。/n

【技术特征摘要】
1.一种测量平台系统，用于安装测量装置(300)，其特征在于，包括平台装置(100)以及处理器装置(200)，其中
所述平台装置(100)包括：箱体(110)；设置于箱体(110)表面的安装机构(120)，用于安装所述测量装置(300)；以及设置于所述箱体(110)内的陀螺仪(130)以及加速度计(140)，其中所述陀螺仪(130)和所述加速度计(140)用于检测与所述测量装置(300)的姿态和/或位置相关的位姿检测信息，并且
所述处理器装置(200)配置用于根据所述位姿检测信息，对所述测量装置(300)所测量的测量信息进行校正。


2.根据权利要求1所述的测量平台系统，其特征在于，所述陀螺仪(130)包括彼此垂直设置的多个陀螺仪(130a、130b、130c)，并且所述加速度计(140)包括彼此垂直设置的多个加速度计(140a、140b、140c)。


3.根据权利要求2所述的测量平台系统，其特征在于，根据所述位姿检测信息，对所述测量装置(300)所测量的测量信息进行校正的操作，包括：
利用捷联惯导算法，根据位姿检测信息，确定所述测量装置(300)的姿态信息和/或位置信息；以及
利用所确定的姿态信息和/或位置信息，对所述测量信息进行校正。


4.根据权利要求3所述的测量平台系统，其特征在于，利用所确定的姿态信息和/或位置信息，对所述测量信息进行校正的操作，包括：
利用所确定的姿态信息，对所述测量装置(300)所测量的与被测物体的姿态相关的目标姿态信息进行校正。


5.根据权利要求1所述的测量平台系统，其特征在于，所述处理器装置(200)为设置于箱体(110)内的处理器，并且所述箱体(110)上设置有测量信息输入接口(190)，其中所述测量信息输入接口(190)用于接收所述测量信息，并且其中，所述处理器配置用于：
从所述测量信息输入接口(190)...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨君，徐唐进，习先强，孙化龙，
申请(专利权)人：天津时空经纬测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12