【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】天线孔径中的DC偏移校正相关申请的交叉引用本专利申请要求于2017年9月20日提交的申请序列号为62/561,110、题目为“RF纹波校正(RFRIPPLECORRECTION)”的相应临时专利申请,以及于2017年9月28日提交的申请序列号为62/564,877、题目为“RFTFT天线孔径中的DC偏移校正(DCOFFSETCORRECTIONINANRFTFTANTENNAAPERTURE)”的临时专利申请的优先权,并且通过引用并入这些临时专利申请。
本专利技术的实施例涉及具有液晶(LC)的射频(RF)装置的领域;更特别地,本专利技术的实施例涉及对具有液晶(LC)的射频(RF)装置的驱动和控制,已经对其进行RF纹波、闪烁或其他观察。
技术介绍
使用液晶(LC)的显示装置通常使用一种以一定间隔使施加在LC上的驱动电压的极性反转的驱动方法。这些间隔通常称为时间帧或帧。这样做是为了防止或最小化LC装置内可以导致该LC装置内存储电压的电荷捕获。这些电荷来自多种源,主要来自LC装置中的污染物或材料降解。持续应用给定极性分离污染物(例如,有机酸)的电荷,并将它们移动到LC装置的边界,电荷可能在该边界处粘附。通过使所施加电压的极性反转,可减少这些带电物质的分离和转移。然而,难以使电压对称地反转,因此会产生“净DC偏移”。也可能出现称为“闪烁”的情况,这是当在正帧期间施加的电压的绝对值和在负帧期间施加的电压的绝对值之间存在足够大的差值造成,使得正帧和负帧中的LC的光学特性不同且肉眼可见。在显示器中,这些可被 ...
【技术保护点】
1.一种天线,包括:/n天线元件阵列,具有液晶(LC);/n驱动电路,联接到所述阵列并具有多个驱动器,所述多个驱动器中的每个驱动器联接到所述阵列的天线元件,并且可操作以将驱动电压施加到所述天线元件;以及/n电压校正逻辑,联接到所述驱动电路以调整驱动电压,以补偿在驱动极性的第一间隔期间施加到每个天线元件的所述LC的第一电压的第一幅值和在与所述第一间隔的驱动极性相反的驱动极性的第二间隔期间施加到所述每个天线元件的LC的第二电压的第二幅值之间的偏移。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170920 US 62/561,110;20170928 US 62/564,877;20181.一种天线,包括:
天线元件阵列,具有液晶(LC);
驱动电路,联接到所述阵列并具有多个驱动器,所述多个驱动器中的每个驱动器联接到所述阵列的天线元件,并且可操作以将驱动电压施加到所述天线元件;以及
电压校正逻辑,联接到所述驱动电路以调整驱动电压,以补偿在驱动极性的第一间隔期间施加到每个天线元件的所述LC的第一电压的第一幅值和在与所述第一间隔的驱动极性相反的驱动极性的第二间隔期间施加到所述每个天线元件的LC的第二电压的第二幅值之间的偏移。
2.根据权利要求1所述的天线,其中所述电压校正逻辑可操作以调整所述电压,以使所述第一幅值和所述第二幅值之间的所述偏移基本上接近于零。
3.根据权利要求1所述的天线,其中公共电压被施加到所述阵列中的天线元件,并且进一步地,其中所述电压校正逻辑可操作以调整所述公共电压以补偿所述偏移。
4.根据权利要求1所述的天线,其中所述第一间隔和所述第二间隔是正帧和负帧。
5.根据权利要求4所述的天线,其中所述电压校正逻辑可操作以基于正帧和负帧之间的光传输差异来确定校正电压。
6.根据权利要求5所述的天线,进一步包括一个或多个光学透明结构,所述光学透明结构包括测试结构和观察窗口,所述测试结构具有与所述阵列中的天线元件基本相当的光学特性,所述观察窗口用以获得所述测试结构中的所述LC的光学响应,以用于确定校正值。
7.根据权利要求6所述的天线,其中公共电压被施加到所述阵列中的天线元件,并且进一步地,其中所述电压校正电路可操作以基于消除值来调整针对至少一个天线元件的所述公共电压,所述消除值产生以光学消除所述一个或多个光学透明结构中的RF元件波形。
8.根据权利要求6所述的天线,其中所述测试结构位于与波导相关联的波导区域的外部,所述波导将RF能量传送到所述阵列中的所述天线元件。
9.根据权利要求6所述的天线,其中所述测试结构位于所述阵列内。
10.根据权利要求1所述的天线,其进一步包括控制器,所述控制器联接到所述驱动电路,以周期性地使施加在所述天线元件的所述LC上的差分电压的极性反转。
11.一种方法,包括:
(a)驱动天线中的元件;
(b)观察正帧和负帧之间的光传输差异;
(c)调整所述元件上的公共电压以消除闪烁;
(d)通过使用经调整的公共电压来调整旧的正帧电压和负帧电压来建立新的正帧电压和负帧电压;
(e)将所述新的正帧电压...
【专利技术属性】
技术研发人员:林·史蒂夫,卡格达斯·瓦雷尔,
申请(专利权)人:集美塔公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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