【技术实现步骤摘要】
闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质
本专利技术涉及电力采集终端领域，具体而言，涉及一种闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质。
技术介绍
随着电力采集终端产品的飞速发展，在这些终端产品中存储系统数据和用户数据的芯片大都采用闪存(NANDFLASH)实现，因此闪存存储对整个电力设备的系统安全来说是极为重要的。闪存作为存储终端各类数据的主要器件，擦写次数有限的，若频繁擦写将会对其寿命产生影响。因此在新品测试阶段、生产阶段、现场运行阶段均需要注重对闪存寿命的检测，因此，如果能够在使用的过程中实现对其寿命进行检测，就可以在失效发生前采取相应的措施以免遭受数据丢失的损失。目前，传统的闪存寿命测试方法是编写独立的测试程序进行测试，这就造成测试代码冗余且维护量大，同时不能兼容所有的平台的产品(集中器、专变、通信模块等)，不利于各类产品对寿命的有效、高效评估。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质，用于解决现有测试方法不能兼容所有平台，不利于...
【技术保护点】
1.一种闪存寿命测试方法，其特征在于，应用于任意一种电力采集终端；所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区不同；所述方法包括：/n根据环境识别参数确定所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；所述环境识别参数与所述闪存寿命测试区具有对应关系；/n获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；/n当所述块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。/n
【技术特征摘要】
1.一种闪存寿命测试方法，其特征在于，应用于任意一种电力采集终端；所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区不同；所述方法包括：
根据环境识别参数确定所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；所述环境识别参数与所述闪存寿命测试区具有对应关系；
获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；
当所述块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。
2.根据权利要求1所述的闪存寿命测试方法，其特征在于，所述在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值的步骤包括：
根据所述区容量值、块容量值确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的块个数；
根据所述测试时长和所述块个数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。
3.根据权利要求2所述的闪存寿命测试方法，其特征在于，所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值满足以下关系式：
寿命值*s＝(unitn)(((Nmax*(n*(1-p))/Nreal*t)/(T/s)))
其中，Nmax、n、p、Nreal、T分别表征所述任意一种电力采集终端对应闪存的最大擦写次数、块个数、块容坏率、所述实际累计擦写次数、所述实际累计擦写次数和最大使用时长；t表征所述测试时长，s表征所述寿命值扩大的倍数；unitn表征所述寿命值的数据类型。
4.根据权利要求1所述闪存寿命测试方法，其特征在于，所述获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数的步骤包括；
获取所述任意一种电力采集终端对应闪存的区容量值、块容量值、擦写次数初始值和所述测试时长内的擦写总次数；
根据所述测试时长内的擦写总次数和所述擦写次数初始值确定所述实际累计擦写次数。
5.根据权利要求1所述闪存寿命测试方法，其特征在于，所述方法还包括：统计所述任意...
【专利技术属性】
技术研发人员：范存全，刘宁，黄孟孟，
申请(专利权)人：宁波三星医疗电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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