闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供的闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质，涉及电力采集终端领域，方法应用于任意一种电力采集终端，包括：根据环境识别参数确定任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；环境识别参数与寿命闪存测试区具有对应关系；获取任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；当块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据区容量值、块容量值和实际累计擦写次数确定任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值；本发明专利技术通过设置环境识别参数来区分不同的电力采集终端产品，解决了现有技术不能兼容所有产品的问题，实现各类电力采集终端产品对闪存寿命有效、高效测试的目的。

Flash memory life test method, device, power acquisition terminal and storage medium

【技术实现步骤摘要】
闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质
本专利技术涉及电力采集终端领域，具体而言，涉及一种闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质。
技术介绍
随着电力采集终端产品的飞速发展，在这些终端产品中存储系统数据和用户数据的芯片大都采用闪存(NANDFLASH)实现，因此闪存存储对整个电力设备的系统安全来说是极为重要的。闪存作为存储终端各类数据的主要器件，擦写次数有限的，若频繁擦写将会对其寿命产生影响。因此在新品测试阶段、生产阶段、现场运行阶段均需要注重对闪存寿命的检测，因此，如果能够在使用的过程中实现对其寿命进行检测，就可以在失效发生前采取相应的措施以免遭受数据丢失的损失。目前，传统的闪存寿命测试方法是编写独立的测试程序进行测试，这就造成测试代码冗余且维护量大，同时不能兼容所有的平台的产品(集中器、专变、通信模块等)，不利于各类产品对寿命的有效、高效评估。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质，用于解决现有测试方法不能兼容所有平台，不利于各类产品对寿命的有效、高效评估的问题。为了解决实现解决上述问题的目的，本专利技术采用的技术方案如下：第一方面，本专利技术提供一种闪存寿命测试方法，应用于任意一种电力采集终端；所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区不同；所述方法包括：根据环境识别参数确定所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；所述环境识别参数与所述闪存寿命测试区具有对应关系；获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；当所述块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。可选地，所述在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值的步骤包括：根据所述区容量值、块容量值确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的块个数；根据所述测试时长和所述块个数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。可选地，所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值满足以下关系式：寿命值*s＝(unitn)(((Nmax*(n*(1-p))/Nreal*t)/(T/s)))，其中，Nmax、n、p、Nreal、T分别表征所述任意一种电力采集终端对应闪存的最大擦写次数、块个数、块容坏率、所述实际累计擦写次数、所述实际累计擦写次数和最大使用时长；t表征所述测试时长，s表征所述寿命值扩大的倍数；unitn表征所述寿命值的数据类型。可选地，所述获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数的步骤包括；获取所述任意一种电力采集终端对应闪存的区容量值、块容量值、擦写次数初始值和所述测试时长内的擦写总次数；根据所述测试时长内的擦写总次数和所述擦写次数初始值确定所述实际累计擦写次数。可选地，所述方法还包括：统计所述任意一种电力采集终端对应闪存的每个分区中的每个块的擦写次数，擦写总次数，平均擦写次数以及所述每个块的最小擦写次数和最大擦写次数。第二方面，本专利技术提供一种闪存寿命测试装置，部署于任意一种电力采集终端内所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区不同；包括：确定模块和获取模块；所述确定模块，用于根据环境识别参数确定所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；所述环境识别参数与所述闪存寿命测试区具有对应关系；所述获取模块，用于获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；所述确定模块，用于当所述块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。可选地，所述确定模块具体用于：根据所述区容量值、块容量值确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的块个数；根据所述测试时长和所述块个数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。可选地，所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值满足以下关系式寿命值*s＝(unitn)(((Nmax*(n*(1-p))/Nreal*t)/(T/s)))，其中，Nmax、n、p、Nreal、T分别表征所述任意一种电力采集终端对应闪存的最大擦写次数、块个数、块容坏率、所述实际累计擦写次数、所述实际累计擦写次数和最大使用时长；t表征所述测试时长，s表征所述寿命值扩大的倍数；unitn表征所述寿命值的数据类型。第三方面，本专利技术提供一种电力采集终端，包括处理器和存储器，所述存储器存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令，所述处理器可执行所述机器可执行指令以实现第一方面所述的闪存寿命测试方法。第四方面，本专利技术提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的闪存寿命测试方法。与现有技术相比，本专利技术的技术方案实现的技术效果如下：本专利技术提供的一种闪存寿命测试方法、装置、电力采集终端及存储介质，应用于任意一种电力采集终端；所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区不同；所述方法包括：根据环境识别参数确定所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；所述环境识别参数与所述闪存寿命测试区具有对应关系；获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；当所述块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值；与现有技术相比，本专利技术通过在测试程序中设置环境不同的识别参数来区分不同的电力采集终端产品，使得本方法能够应用于任意一种电力采集终端中，解决了现有技术不能兼容所有产品的问题，再测试的过程中通过环境识别参数确定电力采集终端对应的闪存寿命测试区之后，通过确定寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数，便可以在测试时长内获得任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值，实现各类电力采集终端产品对寿命的有效、高效测试的目的。本专利技术实施例的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术实施例了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在所写的说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种闪存寿命测试方法的示意性流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种闪存寿命测试方法的示意性流程图；图3为本专利技术实施例提供的一种闪存寿命测试方法的示意性流程图；图4为本专利技术实施例提供的一种闪存寿命测试装置的功能模块意图；图5为本专利技术实施例提供的一种电力采集终端的结构性框本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种闪存寿命测试方法，其特征在于，应用于任意一种电力采集终端；所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区不同；所述方法包括：/n根据环境识别参数确定所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；所述环境识别参数与所述闪存寿命测试区具有对应关系；/n获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；/n当所述块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。/n

【技术特征摘要】
1.一种闪存寿命测试方法，其特征在于，应用于任意一种电力采集终端；所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区不同；所述方法包括：
根据环境识别参数确定所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区；所述环境识别参数与所述闪存寿命测试区具有对应关系；
获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数；
当所述块容量值大于预设阈值时，在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。


2.根据权利要求1所述的闪存寿命测试方法，其特征在于，所述在测试时长内根据所述区容量值、所述块容量值和所述实际累计擦写次数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值的步骤包括：
根据所述区容量值、块容量值确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的块个数；
根据所述测试时长和所述块个数确定所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值。


3.根据权利要求2所述的闪存寿命测试方法，其特征在于，所述任意一种电力采集终端对应闪存的寿命值满足以下关系式：
寿命值*s＝(unitn)(((Nmax*(n*(1-p))/Nreal*t)/(T/s)))
其中，Nmax、n、p、Nreal、T分别表征所述任意一种电力采集终端对应闪存的最大擦写次数、块个数、块容坏率、所述实际累计擦写次数、所述实际累计擦写次数和最大使用时长；t表征所述测试时长，s表征所述寿命值扩大的倍数；unitn表征所述寿命值的数据类型。


4.根据权利要求1所述闪存寿命测试方法，其特征在于，所述获取所述任意一种电力采集终端对应的闪存寿命测试区的区容量值、块容量值和实际累计擦写次数的步骤包括；
获取所述任意一种电力采集终端对应闪存的区容量值、块容量值、擦写次数初始值和所述测试时长内的擦写总次数；
根据所述测试时长内的擦写总次数和所述擦写次数初始值确定所述实际累计擦写次数。


5.根据权利要求1所述闪存寿命测试方法，其特征在于，所述方法还包括：统计所述任意...

【专利技术属性】
技术研发人员：范存全，刘宁，黄孟孟，
申请(专利权)人：宁波三星医疗电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33