基于光学相干层析成像不均匀性评估的微区分析方法技术

一种基于光学相干层析成像不均匀性评估的微区分析方法，采用扫频光学相干层析成像仪，在透明和半透明的玻璃、陶瓷及宝玉石等无机材料及其工艺品上进行二维和三维扫描，根据非均质材料对光的吸收和散射的差异，确定瓷釉和玻璃中的析晶或未熔融原料以及宝玉石中的包裹体等异质颗粒的位置，对其表面和亚表面均匀性和表面风化程度进行评估。根据研究目的准确确定玻璃、陶瓷和宝玉石合适的微区分析区域，为精确定性和定量分析提供科学依据。本发明专利技术方法节约时间，提高了分析效率，可广泛应用于透明和半透明材料表面及亚表面的化学成分和物相等微区表征、工艺检测等领域。

Micro area analysis method based on the evaluation of the nonuniformity of optical coherence tomography

【技术实现步骤摘要】
基于光学相干层析成像不均匀性评估的微区分析方法
本专利技术涉及玻璃、陶瓷、宝玉石等无机非金属材料检测，特别是一种基于光学相干层析成像不均匀性评估的微区分析方法。
技术介绍
OCT技术是一种非接触、无损分析技术，可以快速、实时、便捷、灵活地对玻璃、陶瓷、宝玉石等透明和半透明材料及其工艺品进行扫描分析，获取其内部物理结构，可以进行2D图像的实时分析，也可以进行3D成像。可确定材料表面风化层、基体中均质和非均质区域分布范围，对材料均匀性进行评估，近年来，在生物医学、薄膜材料、陶瓷器、玻璃器、宝玉石器等领域应用广泛。同步辐射计算机微断层扫描技术(SR-μCT)和扫描电镜(SEM)虽然也能对上述材料的内部物理结构进行分析，但前者在分析时间和地点上具有很大的局限性，后者需要进行取样和制样。微束共聚焦显微X射线荧光光谱(μ-XRF)是一种的集微区、线扫和面扫于一体的成分定性和定量分析方法，可以快速对样品的不同颜色区域进行面扫分析、微区点分析和线分析，且兼具透射成像功能，亦可获取材料内部结构信息。激光共焦显微拉曼光谱(μ-Raman)技术也可以实现微区本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于光学相干层析成像不均匀性评估的微区分析方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：/na)采用光学相干层析成像仪，简称OCT仪，对透明和半透明陶瓷、玻璃或宝玉石材料进行2D和3D扫描获得OCT图像，根据材料的纵向散射相和吸收相差异，评估其均匀性、横向差异、纵向层次、风化程度和异质颗粒；/nb)根据OCT图像差异，根据研究目的遴选确定微区分析位置点；/nc)采用微区分析技术，包括共聚焦μ-XRF、共焦μ-Raman或激光剥蚀技术对材料进行横向和纵向(由表及里)微区化学成分和物相分析，获取材料的主体和异质相的化学组成信息，以及横向和纵向变化趋势。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于光学相干层析成像不均匀性评估的微区分析方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
a)采用光学相干层析成像仪，简称OCT仪，对透明和半透明陶瓷、玻璃或宝玉石材料进行2D和3D扫描获得OCT图像，根据材料的纵向散射相和吸收相差异，评估其均匀性、横向差异、纵向层次、风化程度和异质颗粒；
b)根据OCT图像差异，根据研究目的遴选确定微区分析位置点；
c)采用微区分析技术，包括共聚焦μ-XRF、共焦μ-Raman或激光剥蚀技术对材料进行横向和纵向(由表及里)微区化学成分和物相分析，获取材料的主体和异质相的化学组成信息，以及横向和纵向变化趋势。


2.根据权利要求1所述的基于OCT不均匀性评估的微区分析方法，其特征在于：所述的OCT仪的中心波长为1300nm左右，为了在不损伤材料的情况下获得较为理想的OCT图像数据，功率设置为30mW，折射率按普通硅酸盐质材料平均值1.500进行设定；2D扫描时，横向探测范围(0～20mm)根据实际情况设置，为达到较好的成像分辨率，横向探测范围设置为5mm，设置纵向成像像...

【专利技术属性】
技术研发人员：董俊卿，李青会，刘松，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31