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一种基于光学相干层析成像不均匀性评估的微区分析方法，采用扫频光学相干层析成像仪，在透明和半透明的玻璃、陶瓷及宝玉石等无机材料及其工艺品上进行二维和三维扫描，根据非均质材料对光的吸收和散射的差异，确定瓷釉和玻璃中的析晶或未熔融原料以及宝玉石中...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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