元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质。所述元器件失效率预计方法在传统的失效率预计模型基础上引入了所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比，从而建立所述元器件失效率预计模型。本申请实施例所述元器件失效率预计方法将传统的元器件失效率预计模型按照所述诱发应力类型拆分为更为精细的预计步骤，使得所述待测试元器件组的失效率更加符合所述待测试元器件组的实际使用情况。解决了传统数理统计预计模型失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的技术问题，达到了达到减小所述预计失效率与实际失效率预计偏差的技术效果。

Prediction method, device, computer equipment and storage medium of component failure rate

【技术实现步骤摘要】
元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质
本申请涉及元器件可靠性预计
，特别是涉及一种元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
可靠性预计是元器件可靠性设计的主要工作项目之一，可靠性预计对预估元器件可靠性水平、定位薄弱环节、开展可靠性试验等的重要的支撑作用。可靠性预计实施的基础是建立元器件失效率预计模型，失效率预计模型通常由各种预计标准、手册等提供。目前应用较多的失效率预计模型是传统数理统计预计模型，在传统数理统计预计模型中元器件失效率由基本失效率连乘多个影响系数得到。传统数理统计预计模型中不同影响系数在连乘过程中会协同放大或缩小，但在实际应用中，元器件失效可能是由多种失效机理诱发，不同的失效机理对不同应力的敏感性不同，失效部位也有不尽相同。因此，通过传统数理统计预计模型得到的失效率与实际失效率具有较大的预计偏差。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统数理统计预计模型得到的失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的问题，提供一种元器件失效率预计方法、装置、计算机设备及存储介质。一种元器件失效率预计方法，包括：确定待测试元器件组中的失效元器件，并获取所述失效元器件的使用总时长、失效数量和所述失效元器件在所述待测试元器件中的置信度；其中，所述待测试元器件组中的元器件类型相同；根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件组在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率；根据所述待测试元器件组的所述元器件类型，确定所述待测试元器件组在不同诱发应力下的影响系数，得到多个影响系数；其中，所述诱发应力与所述参考应力的应力类型相同；根据所述元器件类型和所述待测试元器件组的元器件等级确定质量系数；获取在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间，并根据所述持续工作时间计算所述失效元器件在不同所述诱发应力下的持续工作时间占比，得到多个持续工作时间占比；根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率。在其中一个实施例中，所述根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率，包括：计算所述待测试元器件组在各个所述参考应力下的所述基本失效率和在与所述参考应力对应的所述诱发应力下的影响系数的乘积，得到多个第一乘积；计算所述多个第一乘积的和，得到第一累计和；分别计算所述第一累计和与所述失效元器件在各个所述诱发应力下的持续工作时间占比的乘积，得到多个第二乘积；计算所述多个第二乘积的和，得到第二累计和；计算所述第二累计和与所述质量系数的乘积，得到所述待测试元器件组的失效率。在其中一个实施例中，所述根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率，包括：通过公式(1)确定所述待测试元器件组的失效率：其中，λ表示所述待测试元器件组的失效率，λi表示所述待测试元器件组在第i种所述参考应力下的基本失效率，πi表示所述待测试元器件组第i种所述诱发应力对应的影响系数，πQ表示所述质量系数，Pj表示与第j个所述诱发应力对应的所述持续工作时间占比。在其中一个实施例中，所述根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率，包括：通过公式(2)确定所述多个基本失效率：其中，λi表示在第i种所述参考应力下的所述基本失效率，γ表示所述失效数量，T0表示所述使用总时长，α表示所述置信度，χ21-α表示所述失效元器件在所述待测试元器件组中的卡方分布。在其中一个实施例中，所述获取所述失效元器件的使用总时长，包括：根据所述元器件类型确定所述失效元器件在各个所述诱发应力下的加速系数；根据在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间和所述加速系数确定所述失效元器件的在各个所述参考应力量下的使用时长；根据所有所述失效元器件的使用时长确定所述失效元器件的使用总时长。在其中一个实施例中，所述根据在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间和所述加速系数确定所述失效元器件的在各个所述参考应力量下的使用时长，包括：通过公式(3)确定所述使用时长：其中，t'表示所述使用时长，ti表示在第i种所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间，AFi表示在第i种诱发应力下的所述加速系数。在其中一个实施例中，所述根据所有所述失效元器件的使用时长确定所述失效元器件的使用总时长，包括：通过公式(4)确定所述使用总时长：T0＝Σt'(4)其中，t'表示所述使用时长，T0表示所述使用总时长。一种元器件失效率预计装置，包括：基本参数采集模块，用于确定待测试元器件组中的失效元器件，并获取所述失效元器件的使用总时长、失效数量和所述失效元器件在所述待测试元器件中的置信度；其中，所述待测试元器件组中的元器件类型相同；基本失效率确定模块，用于根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率；影响系数确定模块，用于根据所述待测试元器件组的所述元器件类型，确定所述待测试元器件组在不同诱发应力下的影响系数，得到多个影响系数；其中，所述诱发应力与所述参考应力的应力类型相同；质量系数确定模块，用于根据所述元器件类型和所述待测试元器件组的元器件等级确定质量系数；持续工作时间占比确定模块，用于获取在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间，并根据所述持续工作时间计算所述失效元器件在不同所述诱发应力下的持续工作时间占比，得到多个持续工作时间占比；失效率确定模块，用于根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率。一种计算机设备，包括：包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述方法的步骤。一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的方法的步骤。本申请实施例通过提供一种元器件失效率预计方法，在传统的失效率预计模型基础上引入了所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比，从而建立所述元器件失效率预计模型。本申请实施例所述元器件失效率预计方法将传统的元器件失效率预计模型按照所述诱发应力类型拆分为更为精细的步骤，使得所述元器件的失效率预计更加接近所述待测试元器件组的实际使用环境，所述元器件的失效率更加接近于真实情况。本申请实施例所述元器件失效率预计方法解决了通过传统数理统计预计模型得到的失效率与实际失效率具有较大的预计偏差的技术问题，可以获得更为准确的预计结果，为所述元本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种元器件失效率预计方法，其特征在于，包括：/n确定待测试元器件组中的失效元器件，并获取所述失效元器件的使用总时长、失效数量和所述失效元器件在所述待测试元器件中的置信度；其中，所述待测试元器件组中的元器件类型相同；/n根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件组在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率；/n根据所述待测试元器件组的所述元器件类型，确定所述待测试元器件组在不同诱发应力下的影响系数，得到多个影响系数；其中，所述诱发应力与所述参考应力的应力类型相同；/n根据所述元器件类型和所述待测试元器件组的元器件等级确定质量系数；/n获取在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间，并根据所述持续工作时间计算所述失效元器件在不同所述诱发应力下的持续工作时间占比，得到多个持续工作时间占比；/n根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率。/n

【技术特征摘要】
1.一种元器件失效率预计方法，其特征在于，包括：
确定待测试元器件组中的失效元器件，并获取所述失效元器件的使用总时长、失效数量和所述失效元器件在所述待测试元器件中的置信度；其中，所述待测试元器件组中的元器件类型相同；
根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件组在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率；
根据所述待测试元器件组的所述元器件类型，确定所述待测试元器件组在不同诱发应力下的影响系数，得到多个影响系数；其中，所述诱发应力与所述参考应力的应力类型相同；
根据所述元器件类型和所述待测试元器件组的元器件等级确定质量系数；
获取在不同的所述诱发应力下所述失效元器件的持续工作时间，并根据所述持续工作时间计算所述失效元器件在不同所述诱发应力下的持续工作时间占比，得到多个持续工作时间占比；
根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率。


2.根据权利要求1所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率，包括：
计算所述待测试元器件组在各个所述参考应力下的所述基本失效率和在与所述参考应力对应的所述诱发应力下的影响系数的乘积，得到多个第一乘积；
计算所述多个第一乘积的和，得到第一累计和；
分别计算所述第一累计和与所述失效元器件在各个所述诱发应力下的持续工作时间占比的乘积，得到多个第二乘积；
计算所述多个第二乘积的和，得到第二累计和；
计算所述第二累计和与所述质量系数的乘积，得到所述待测试元器件组的失效率。


3.根据权利要求1所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述根据所述多个基本失效率、所述多个影响系数、所述质量系数和所述多个持续工作时间占比确定所述待测试元器件组的失效率，包括：
通过公式(1)确定所述待测试元器件组的失效率：



其中，λ表示所述待测试元器件组的失效率，λi表示所述待测试元器件组在第i种所述参考应力下的基本失效率，πi表示所述待测试元器件组第i种所述诱发应力对应的影响系数，πQ表示所述质量系数，Pj表示与第j个所述诱发应力对应的所述持续工作时间占比。


4.根据权利要求1所述的元器件失效率预计方法，其特征在于，所述根据所述使用总时长、所述失效数量和所述置信度确定所述待测试元器件在不同参考应力下的基本失效率，得到多个基本失效率，包括：
通过公式(2)确定所述多个基本失效率：



其中，λi表示在第i种所述参考应力下的所述基本失效率，γ表示所述失效数量，T0表示所述使用总时长，α表示所述置信度，χ21-α表示所述失效元器件在所述待测试元器件组中的...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡湘洪，于迪，聂国健，杨云，李欣荣，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东;44