一种自动切换式反射率测试支架及测试方法技术

本发明专利技术涉及一种自动切换式反射率测试支架及测试方法，包括基座、主轴、小低散射支架、测试件连接装置和材料板，主轴转动连接在基座上，若干个小低散射支架架设在主轴上，若干个测试件连接装置架设在小低散射支架上，若干个材料板架设在测试件连接装置上，其中一个测试件连接装置上安装有定标基准板，本发明专利技术具有不仅可降低支架对测试背景的影响，保证了测试稳定性、一致性，更大大提高了测试效率，具备良好的工程应用价值的优点。

An automatic switch type reflectance test stand and test method

【技术实现步骤摘要】
一种自动切换式反射率测试支架及测试方法
本专利技术涉及雷达吸波材料反射率测试
，尤其涉及一种自动切换式反射率测试支架及测试方法。
技术介绍
目前在RAM(雷达吸波材料)反射率测试领域，对于平板型吸波材料，国内微波暗室常采用远场RCS测试法检测RAM反射率，该方法利用定标基准板进行定标后，分别测得同尺寸良导体金属平板的反射功率和平板型RAM材料板的反射功率，通过两者的比值，计算得到平板型RAM的反射率。在测量平板型RAM反射率时，需要消除环境的影响，其中样品支架的影响至关重要，由于目前主要采用低散射泡沫支架，而泡沫支架在长时间使用后，性能下降，杂散提高，对测试的影响难以消除。同时，材料样板的测试姿态也很重要，直接关系到测量精度。每测一块材料样品，均需要测试人员利用工具进行水平与垂直度的调整，费时费力，同时，由于人的局限性，很难保证每一次更换材料样板的姿态准确性。因此，针对以上不足，需要提供一种自动切换式反射率测试支架及测试方法。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术要解决的技术问题是解决常规方法所存在泡沫支架对背景的影响、因频繁更换样品所引起的测试一致性误差、以及低效率的弊端的问题。(二)技术方案为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种自动切换式反射率测试支架，包括基座、主轴、小低散射支架、测试件连接装置和材料板，主轴转动连接在基座上，若干个小低散射支架架设在主轴上，若干个测试件连接装置架设在小低散射支架上，若干个材料板架设在测试件连接装置上，其中一个测试件连接装置上安装有定标基准板。通过采用上述技术方案，测试时，配合电控自动切换一个定标基准板和十七个测试材料板到测试位置，无需人工更换材料板，即可任意切换多块测试材料板，完成多波段的反射率测试，不仅可降低支架对测试背景的影响，保证了测试稳定性、一致性，更大大提高了测试效率，具备良好的工程应用价值。作为对本专利技术的进一步说明，优选地，基座前架设有遮蔽屏，遮蔽屏外径大于材料板围成的总外径，遮蔽屏顶部开设有窗口，所述窗口外径与单一材料板外径相同。通过采用上述技术方案，保证仅所需测试的材料板能够反射雷达波，以保证能通过捕捉到的反射信号来准确判断该材料板的多波段反射率。作为对本专利技术的进一步说明，优选地，小低散射支架截面为三角形，小低散射支架锥角端指向材料板。通过采用上述技术方案，避免小低散射支架反射雷达波而与材料板反射的雷达波混合，影响试验人员对材料板反射率的判断，降低金属物对电磁波的影响，保证测试的准确性。作为对本专利技术的进一步说明，优选地，测试件连接装置包括工装和磁性表座，工装固连在小低散射支架上，磁性表座固连在工装上，材料板吸附在磁性表座上。通过采用上述技术方案，可快速安装材料板，无需再进行调整，保证测试材料的一致性和准确性，且此装置可二维调整，一次定位后可保持长时间，无需再调整。作为对本专利技术的进一步说明，优选地，遮蔽屏包括屏板和屏尖，屏板为方形板，屏尖为四棱锥状，若干个屏尖呈矩阵式分布在屏板远离材料板的一侧。通过采用上述技术方案，屏尖采用吸波材料，可以吸收雷达波，从而消除金属支架对雷达波的影响。本专利技术还提供一种自动切换式反射率测试支架的测试方法，包括以下步骤，Ⅰ.在进行RCS测试法的平板型雷达吸波材料反射率测试前，首先将定标基准板与多块测试材料板安装到测试件连接装置上；Ⅱ.在基座前放置吸波材料遮蔽屏，通过电控设备将定标基准板调整到测试位置，对系统进行定标测试；Ⅲ.通过电控设备将同尺寸的测试材料板调整到测试位置；Ⅳ.系统对材料板完成扫频回波数据采集，经过计算处理，得到测试材料板的雷达反射率。通过采用上述技术方案，可自动切换所需测试的材料板，自动调整测试板到测试位置，保证了测试稳定性、一致性，大幅提高了工作效率，并且通过加装定标基准板以便进行校准，进一步提高测试准确度。作为对本专利技术的进一步说明，优选地，当测试材料板尺寸不大于300mm×300mm时，主轴最多通过17个轮盘臂安装17块材料板，定标完成后，依序测试。通过采用上述技术方案，可使支架能够同时测试较多的材料板，提高工作效率。作为对本专利技术的进一步说明，优选地，当测试材料板尺寸大于300mm×300mm时，拆卸部分轮盘臂、小低散射支架和测试件连接装置。通过采用上述技术方案，以便测试面积更大的测试板，提高支架的适用性。(三)有益效果本专利技术的上述技术方案具有如下优点：本专利技术通过分别将定标基准板与测试材料板安装在反射率支架上，调整好基准板与材料板位置，并放置吸波材料遮挡屏，降低支架对背景的影响；测试过程中，配合电控自动切换测试材料板到测试位置，无需人工更换材料板，即可任意切换多块测试材料板，完成多波段的反射率测试，并解决常规方法所存在泡沫支架对背景的影响、因频繁更换样品所引起的测试一致性误差、以及低效率的弊端的问题。附图说明图1是本专利技术的前视图；图2是本专利技术的后视图；图3是本专利技术的测试件连接装置结构图；图4是本专利技术的侧视图。图中：1、基座；2、主轴；21、轮盘臂；3、小低散射支架；4、测试件连接装置；41、工装；42、磁性表座；5、材料板；6、遮蔽屏；61、屏板；62、屏尖。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。一种自动切换式反射率测试支架，结合图2、图4，包括基座1、主轴2、小低散射支架3、测试件连接装置4和材料板5，主轴2转动连接在基座1上，若干个小低散射支架3架设在主轴2上，若干个测试件连接装置4架设在小低散射支架3上，若干个材料板5架设在测试件连接装置4上，其中一个测试件连接装置4上安装有定标基准板。结合图2、图4，基座1为等边三角形，边长约为1973.21mm，高度约为1709.47mm，基座2放置在地面上，以支撑整套测试支架；主轴2上呈环状间隔固连有若干个轮盘臂21，小低散射支架3固连在轮盘臂21上；小低散射支架3长度为500mm，小低散射支架3截面为三角形，小低散射支架3锥角端指向材料板，避免小低散射支架3反射雷达波而与材料板5反射的雷达波混合，影响试验人员对材料板5反射率的判断，降低金属物对电磁波的影响，保证测试的准确性。结合图2、图3，测试件连接装置4包括工装41和磁性表座42，工装41固连在小低散射支架3上，磁性表座42固连在工装41上，材料板5吸附在磁性表座上，用以快速便捷地安装定标基准板和测试材料板5，无需再进行调整，保证测试材料的一致性和准确性，且此装置可二维调整，一次定位后可保持长时间，无需再调整。结合图1、图4本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动切换式反射率测试支架，其特征在于：包括基座(1)、主轴(2)、小低散射支架(3)、测试件连接装置(4)和材料板(5)，主轴(2)转动连接在基座(1)上，若干个小低散射支架(3)架设在主轴(2)上，若干个测试件连接装置(4)架设在小低散射支架(3)上，若干个材料板(5)架设在测试件连接装置(4)上，其中一个测试件连接装置(4)上安装有定标基准板。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动切换式反射率测试支架，其特征在于：包括基座(1)、主轴(2)、小低散射支架(3)、测试件连接装置(4)和材料板(5)，主轴(2)转动连接在基座(1)上，若干个小低散射支架(3)架设在主轴(2)上，若干个测试件连接装置(4)架设在小低散射支架(3)上，若干个材料板(5)架设在测试件连接装置(4)上，其中一个测试件连接装置(4)上安装有定标基准板。


2.根据权利要求1所述的一种自动切换式反射率测试支架，其特征在于：基座(1)前架设有遮蔽屏(6)，遮蔽屏(6)外径大于材料板(5)围成的总外径，遮蔽屏(6)顶部开设有窗口，所述窗口外径与单一材料板(5)外径相同。


3.根据权利要求1所述的一种自动切换式反射率测试支架，其特征在于：小低散射支架(3)截面为三角形，小低散射支架(3)锥角端指向材料板(5)。


4.根据权利要求1所述的一种自动切换式反射率测试支架，其特征在于：测试件连接装置(4)包括工装(41)和磁性表座(42)，工装(41)固连在小低散射支架(3)上，磁性表座(42)固连在工装(41)上，材料板(5)吸附在磁性表座(42)上。


5.根据权利要求1所述的一种自动切换式反射率测试支架，其特征在于：遮蔽...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐向明，李宁，苟菲，杨丽，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11