利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法技术方案

本发明专利技术公开了一种利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，涉及光检测技术领域，其包括：S1、选择入口狭缝宽度可调的光谱仪系统；S2、调节光谱仪系统的入口狭缝宽度；S3、根据光谱仪系统参数计算得到当前入口狭缝宽度下单波长成像宽度所占像素个数p；S4、保持入口狭缝宽度不变，将宽谱光入射至光谱仪系统的入口狭缝，通过该光谱仪系统测量得到单波长成像宽度占据p个像素时的低分辨率光谱数据；重复步骤S2～S4，直至得到N组不同的低分辨率光谱数据；将不同的低分辨率光谱数据组合，通过逆卷积得到高分辨率光谱数据。本发明专利技术利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率，提升效果明显，能够极好的满足弱待测光信号的检测。

The method of improving the resolution of spectrometer system by using deconvolution

【技术实现步骤摘要】
利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法
本专利技术涉及光检测
，具体而言，涉及一种利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法。
技术介绍
目前获取光谱数据的方法是待测光入射至光谱仪系统，在系统内经过色散、成像到探测器上，而不同波长成像都会有一定宽度，导致成像在探测器上的每个像素位置处同时包含了多个不同波长的光强值，表现在最终的光谱曲线上，就是同一级次不同波长光谱重叠，导致获取的光谱数据的分辨率降低。目前提高光谱分辨率的方法一般是减小狭缝宽度，从而减小不同波长的重叠程度，进而提高光谱分辨率。但是狭缝宽度也不能无限制减小，因为狭缝宽度与进入系统的光通量成正比，狭缝越小，光通量越小，最终成像在探测器上的光谱曲线的信噪比就会降低。传统获取高分辨率光谱数据的方法是优化狭缝宽度，使得保证信噪比满足要求的前提下，实现最高的光谱分辨率。但是在一些待测光信号很弱的情况下，狭缝宽度需要增大才能检测到信号，但是同时会引起光谱分辨率下降。
技术实现思路
本专利技术提供了一种利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，以缓解上述问题。r>本专利技术采取的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，包括：/nS1、选择入口狭缝宽度可调的光谱仪系统；/nS2、调节光谱仪系统的入口狭缝宽度；/nS3、根据光谱仪系统参数计算或实际测量得到当前入口狭缝宽度下单波长成像宽度所占像素个数p；/nS4、保持入口狭缝宽度不变，将宽谱光入射至光谱仪系统的入口狭缝，通过该光谱仪系统测量得到单波长成像宽度占据p个像素时的低分辨率光谱数据；/n重复步骤S2～S4，直至得到N组不同的低分辨率光谱数据，其中每次调节得到的入口狭缝宽度均不同；/n将不同的低分辨率光谱数据组合，通过逆卷积得到高分辨率光谱数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，包括：
S1、选择入口狭缝宽度可调的光谱仪系统；
S2、调节光谱仪系统的入口狭缝宽度；
S3、根据光谱仪系统参数计算或实际测量得到当前入口狭缝宽度下单波长成像宽度所占像素个数p；
S4、保持入口狭缝宽度不变，将宽谱光入射至光谱仪系统的入口狭缝，通过该光谱仪系统测量得到单波长成像宽度占据p个像素时的低分辨率光谱数据；
重复步骤S2～S4，直至得到N组不同的低分辨率光谱数据，其中每次调节得到的入口狭缝宽度均不同；
将不同的低分辨率光谱数据组合，通过逆卷积得到高分辨率光谱数据。


2.根据权利要求1所述利用逆卷积提高光谱仪系统分辨率的方法，其特征在于，所述步骤S4中的宽谱光强度在...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛京京，朱伟明，欧中华，李剑峰，刘永，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51