调整干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的方法技术

技术编号:24494091 阅读:68 留言:0更新日期:2020-06-13 02:20
本发明专利技术提供了一种调整干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的方法,以解决传统方法装调精度较低、成本较高的问题。本发明专利技术在系统一次像面位置添加垂直于大地的靶标,并将垂直于大地的靶标成像在探测器的靶面上,使用折转反射镜代替干涉仪,在系统无干涉仪状态下首先调整探测器的空间位置,使探测器的行与靶标的像平行,消除干涉仪带来的像旋影响,最后放置并调整干涉仪,以保证系统空间方向与光谱方向的正交性。本发明专利技术极大地提高了系统焦面空间方向垂直度的标定精度,同时无需配做一次像面处的工装,既降低了装调成本,又避免了引入相应的加工、装配误差,进而提高了装调精度。

The method of adjusting the orthogonality between the spatial direction and the spectral direction of the interferometer

【技术实现步骤摘要】
调整干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的方法
本专利技术涉及一种干涉型光谱成像仪的装调方法,尤其涉及一种保证干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的装调方法。
技术介绍
成像光谱仪能够获取探测目标的二维几何信息和光谱信息,广泛应用于遥感和科学研究领域,根据分光原理的不同,其可分为滤光片型光谱成像仪、光栅型光谱成像仪以及干涉型光谱成像仪。图1所示为干涉型光谱成像仪的系统组成示意图,包括准直镜1、干涉仪2、傅氏镜3和探测器7,其工作原理为,在每一次曝光时获得一帧干涉图像,同一视场的不同目标单元光程差不同,通过推扫,在与干涉条纹垂直的方向上连续采集,即可获得同一地物目标不同光程差的干涉信息。因此,对于干涉成像光谱仪,空间方向与光谱方向的正交性精度直接影响偏流角与光谱的一致性,最终影响单谱段的图像传递函数与光谱复原精度。一般的,干涉条纹代表光谱方向,空间方向由引入的外部基准来代表,传统的装调方式为:在干涉型光谱成像仪系统一次像面处安装十字丝分划板,将十字丝分划板分别成像在系统的左、中、右视场,分别计算出每个视场的十字丝像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.调整干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的方法,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤1:以大地水平为基准,将光谱成像仪系统主截面调至水平;/n步骤2:在光谱成像仪系统中的一次像面(6)处设置垂直于大地的靶标(5);/n3)用折转反射镜(4)代替光谱成像仪系统中的干涉仪(2),并调整折转反射镜(4)的位置使其与所述基准垂直,使得靶标(5)能够准确成像在探测器(7)的靶面上;/n4)调整探测器(7)的方位,使靶标(5)的像与探测器(7)的行平行;/n5)将折转反射镜(4)移除,然后将干涉仪(2)放置在光谱成像仪系统中,调整干涉仪(2)使干涉条纹与靶标(5)的像平行。/n

【技术特征摘要】
1.调整干涉型光谱成像仪空间方向与光谱方向正交性的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:以大地水平为基准,将光谱成像仪系统主截面调至水平;
步骤2:在光谱成像仪系统中的一次像面(6)处设置垂直于大地的靶标(5);
3)用折转反射镜(4)代替光谱成像仪系统中的干涉仪(2),并调整折转反射镜(4)的位置使其与所述基准垂直,使得靶标(5)能够准确成像在探测器(7)的靶面上;
4)调整探测器(7)的方位,使靶标(5)的像与探测器(7)的行平行;
5)将折转反射镜(4)移除,然后将干涉仪(2)放置在光谱成像仪系...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘欢武俊强李思远赵强白清兰邹纯博李立波卫翠玉
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:陕西;61

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