【技术实现步骤摘要】
采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置及方法
本专利技术属于光学成像领域，特别涉及一种采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置及方法。
技术介绍
高光谱偏振成像技术，是一种可以同时获取被测量目标在场景中的位置信息和目标上任一点的光谱曲线以及物体表面的偏振特性的成像光谱技术，可以识别和探测在常规光学探测中仅通过光强信息获取到的目标空间和形貌信息后仍不能识别的目标。目前，高光谱偏振成像装置种类繁多，如果简单地从系统中偏振调制使用的方法上来分类，可以分为时域调制型、频域调制型和空域调制型三种。其中，时域调制型是通过旋转可旋转偏振器件，获取不同偏振状态下的成像效果，以测量时间的牺牲来实现高光谱全偏振的成像；频域调制型是通过使用双折射延迟器和分析器组成的通道相位调制器，可以仅从单一光谱确定偏振信息，不需要可移动的偏振分量或微分量，数据处理难度大，系统结构复杂，很难获得较高的高光谱分辨率；空域调制型是通过改变偏振元件角度来分割入射孔径，在面阵探测器上同时获得四个不同偏振状态下的强度图像，通过计算得到目标高光谱全偏振信息...
【技术保护点】
1.一种采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置，其特征在于，包括沿光路方向依次设置的前置成像物镜(1)、光阑(2)、准直物镜(3)、反射式相位延迟片阵列(4)、剪切干涉组件(5)、后置成像物镜(6)和面阵探测器(7)；/n来自目标的入射光经前置成像物镜(1)成像在光阑(2)上，之后经过准直物镜(3)形成准直光束并入射至反射式相位延迟片阵列(4)，反射式相位延迟片阵列(4)改变准直光束的相位延迟量并将具有不同相位延迟量的光反射到不同方向，所有反射光均依次通过剪切干涉组件(5)和后置成像物镜(6)后在面阵探测器(7)上发生干涉，形成空间分离的若干处于不同偏振状态的光谱干涉图像。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置，其特征在于，包括沿光路方向依次设置的前置成像物镜(1)、光阑(2)、准直物镜(3)、反射式相位延迟片阵列(4)、剪切干涉组件(5)、后置成像物镜(6)和面阵探测器(7)；
来自目标的入射光经前置成像物镜(1)成像在光阑(2)上，之后经过准直物镜(3)形成准直光束并入射至反射式相位延迟片阵列(4)，反射式相位延迟片阵列(4)改变准直光束的相位延迟量并将具有不同相位延迟量的光反射到不同方向，所有反射光均依次通过剪切干涉组件(5)和后置成像物镜(6)后在面阵探测器(7)上发生干涉，形成空间分离的若干处于不同偏振状态的光谱干涉图像。
2.根据权利要求1所述的采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置，其特征在于，所述反射式相位延迟片阵列(4)中每个相位延迟片的法线均与XY平面存在夹角，记第i个相位延迟片与XY平面的夹角为αi，αi为锐角，i＝0,1,…,N，N为相位延迟片的个数；其中X轴垂直于光轴所在平面，Y轴位于光轴所在平面且与X轴垂直，同时Y轴的正方向位于反射式相位延迟片阵列(4)的反射光方向。
3.根据权利要求2所述的采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置，其特征在于，所述每个相位延迟片的法线与XY平面的夹角均相同。
4.根据权利要求2或3所述的采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置，其特征在于，所述反射式相位延迟片阵列(4)中每个相位延迟片的快轴均与YZ平面存在夹角，记第i个相位延迟片与YZ平面的夹角为θi，i＝0,1,…,N，其中Z轴为目标入射光的方向。
5.根据权利要求4所述的采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置，其特征在于，所述反射式相位延迟片阵列(4)包括4个相位延迟片，按2×2的阵列形式分布。
技术研发人员：李建欣，王佳欣，毕书贤，钱佳敏，王宇博，刘杰，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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