一种双分叉X型光纤和其光谱采集监测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种双分叉X型光纤和其光谱采集监测系统，涉及高光谱成像技术领域，用于解决采集信息偏差大的问题以及光谱采集系统结构复杂、灵活性差的问题，本发明专利技术包括双分叉X型光纤、对天空信号采集机构、对目标信号采集机构和两个目的监测光谱仪，双分叉X型光纤的两个入射端光纤用于目标区域的辐射光照信息、参考辐射光照信息的采集，两个出口端光纤连接至两个目的监测光谱仪；本发明专利技术使用X型光纤确保不同的监测器能够在同一时间内均等的获取输入的测目标区域的辐射光照信息与参考辐射光照信息，避免环境光的变化导致采集信息偏差的问题；大幅提升系统的集成度、采集效率和稳定可靠性，降低了系统的复杂性、片面性，灵活性强，适用性广。

A bifurcated X-type optical fiber and its spectrum acquisition and monitoring system

【技术实现步骤摘要】
一种双分叉X型光纤和其光谱采集监测系统
本专利技术涉及高光谱成像
，具体涉及一种双分叉X型光纤及应用双分叉X型光纤的目标、全天空及暗背景光谱采集监测系统，用于解决目标区域的辐射光照信息和参考辐射光照信息采集时间差较大、导致采集信息偏差大的问题以及光谱采集系统结构复杂、灵活性差等问题。
技术介绍
光谱学是测量紫外、可见、近红外和红外波段光强度的技术。光谱测量已经被应用于众多领域。以集中了光学、电子学、信息处理、计算机科学等领域的先进技术的高光谱成像是近二十年来发展起来的基于非常多窄波段的影像数据技术，其最突出的应用是在遥感探测领域，并在越来越多的民用领域有着更大的应用前景。将传统的二维成像技术和光谱技术有机的结合在一起的一门新兴技术。高光谱成像技术的定义是在多光谱成像的基础上，在从紫外到近红外(200-2500nm)的光谱范围内，利用成像光谱仪，在光谱覆盖范围内的数十或数百条光谱波段对目标物体连续成像。在获得物体空间特征成像的同时，也获得了被测物体的光谱信息。针对特定目标非成像方式的光谱获取技术是较高光谱成像技术更早的一种手段，其测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于光谱采集监测系统的双分叉X型光纤，其特征在于，包括两个线性阵列排列有数根芯的入射端光纤(2)，两个入射端光纤(2)在中间进行交叉汇合融合后，再均等的分为两个出口端光纤(3)，所述两个入射端光纤(2)用于目标区域的辐射光照信息、参考辐射光照信息及其他们的暗背景信息的采集，两个出口端光纤(3)连接至两个不同的目的监测机构。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于光谱采集监测系统的双分叉X型光纤，其特征在于，包括两个线性阵列排列有数根芯的入射端光纤(2)，两个入射端光纤(2)在中间进行交叉汇合融合后，再均等的分为两个出口端光纤(3)，所述两个入射端光纤(2)用于目标区域的辐射光照信息、参考辐射光照信息及其他们的暗背景信息的采集，两个出口端光纤(3)连接至两个不同的目的监测机构。


2.根据权利要求1所述的一种适用于光谱采集监测系统的双分叉X型光纤，其特征在于，两个所述出口端光纤(3)的芯按照线性阵列交叉排列。


3.根据权利要求1所述的一种适用于光谱采集监测系统的双分叉X型光纤，其特征在于，两个所述出口端光纤(3)的芯按照环形结构交叉排列，形成一个圆形。


4.一种包括权利要求1-3任意一项所述的双分叉X型光纤的目标、全天空及暗背景光谱采集监测系统，其特征在于，还包括采集控制系统、对天空信号采集机构、对目标信号采集机构和两个目的监测光谱仪(13)；所述对天空信号采集机构包括快门A(11)和余弦校正模块(5)，所述余弦校正模块(5)设置于快门A(11)入口端的一侧，所述快门A(11)的输出端与双分叉X型光纤(1)的其中一个入射端光纤...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈兴海，刘春柳，刘业林，黄智辉，张宏宇，
申请(专利权)人：四川双利合谱科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51