一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置，属于光谱分析领域。包括暗箱，暗箱的上部设置有可见‑近红外相机和短波红外相机，可见‑近红外相机和短波红外相机的，暗箱的中部设置有卤素光源，暗箱的底部设置有开口；暗箱的底部设置有样品箱，样品箱的上部设置有样品盘、驱动机构，样品盘上的一端设置有反射白板。本实用新型专利技术的一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置不仅仅能够实现一次性完成对样品全波段(400nm～2500nm)数据的采集，而且在很大程度上保证了待测样本在短时间内利用不同相机进行数据采集的时效性和准确性等问题，避免了样品在长时间光照条件下、高温环境下样本属性容易受到破坏等问题。

【技术实现步骤摘要】
一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置
本技术属于光谱分析领域，涉及一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置。
技术介绍
高光谱成像技术是近二十年来发展起来的基于非常多窄波段的影像数据技术，其最突出的应用是遥感探测领域，并在越来越多的民用领域有着更大的应用前景。它集中了光学、光电子学、电子学、信息处理、计算机科学等领域的先进技术，是传统的二维成像技术和光谱技术有机的结合在一起的一门新兴技术。高光谱成像技术的定义是在多光谱成像的基础上，在从紫外到近红外(200-2500nm)的光谱范围内，利用成像光谱仪，在光谱覆盖范围内的数十或数百条光谱波段对目标物体连续成像。在获得物体空间特征成像的同时，也获得了被测物体的光谱信息。在实际应用中，为了同步获取样本的全波段特征光谱需要借助不同的探测单元或者切换不同的扫描结构来完成其全波段数据图像的采集等任务。为了保证样本在使用不同相机采集的数据时，样本在空间上不能有相对的偏移，否则无法确定同一点的样本光谱属性。但对有些样品而言，其属性会随着时间的变化而变化，高光谱推扫成像过程中，受制于高光谱相机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置，其特征在于：包括暗箱(1)，所述暗箱(1)的上部设置有可见-近红外相机(5)和短波红外相机(6)，所述暗箱(1)的中部设置有卤素光源(7)，所述暗箱(1)的底部设置有开口；所述暗箱(1)的底部设置有样品箱(2)，所述样品箱(2)的上部设置有样品盘以及带动样品盘作水平运动的驱动机构，所述样品盘上的一端设置有反射白板(4)。/n

【技术特征摘要】
1.一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置，其特征在于：包括暗箱(1)，所述暗箱(1)的上部设置有可见-近红外相机(5)和短波红外相机(6)，所述暗箱(1)的中部设置有卤素光源(7)，所述暗箱(1)的底部设置有开口；所述暗箱(1)的底部设置有样品箱(2)，所述样品箱(2)的上部设置有样品盘以及带动样品盘作水平运动的驱动机构，所述样品盘上的一端设置有反射白板(4)。


2.根据权利要求1所述的一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置，其特征在于：所述驱动机构包括平行设置的丝杠(10)和固定轴(11)，所述样品盘的一端通过固定件与固定轴(11)滑动连接，另一端通过螺母固定在丝杠(10)上，所述丝杠(10)连接有电机。


3.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄智辉，刘业林，陈兴海，王金龙，黄宇，雷宇博，
申请(专利权)人：四川双利合谱科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51