一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法，属于光学元器件测量技术领域。本发明专利技术针对背面垂直于光轴的离轴抛物面镜，基于激光干涉仪和激光器，利用光的直线传播原理，分别定位离轴抛物面镜机械中心和抛物面镜光轴的位置，通过对两个位置距离的测量，实现对离轴抛物面离轴量的测量。本发明专利技术能够实现在一般光学实验室中即可方便有效、高效快速的完成离轴量测量，同时，降低了测量装置的复杂性。

An off-axis measuring device and method for off-axis parabolic mirror

【技术实现步骤摘要】
一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法
本专利技术涉及一种离轴抛物面镜离轴量的测量装置及测量方法，属于光学元器件测量

技术介绍
在空间光学技术的发展过程中，传统同轴光学系统已经不能够满足实际生产生活中的需求。离轴光学系统是一种光圈的光轴与光圈的机械中心并不重合的光学系统。离轴光学系统由于其结构简单、无色差、口径适用范围大，已经越来越被人们所重视，并广泛地应用于辐射校准、宽波段的目标模拟及测量等工程领域中。抛物面镜，是指反射面为一抛物面的镜，如果放一“点光源”在它的焦点上，则光为镜面反射后都将与镜的主轴平行射出；反之，如果平行于主轴的光投射到镜面上，则经反射后都将会聚于它的焦点。离轴抛物面镜作为离轴光学系统中的典型代表之一，在平行光管、激光扩束、光束聚焦等具体应用场景中都能够发挥作用。在离轴抛物面镜的研制过程中，对其加工和测量是必不可少的环节。不同于传统同轴光学系统，离轴抛物面镜的离轴量，是其独特而重要的一项几何参量，是指离轴抛物面镜机械中心距抛物面镜光轴的距离。对该参量的测量具有很重要的意义。<br>现阶段，大多数本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种离轴抛物面镜离轴量测量装置，所述离轴抛物面镜限定为背面垂直于光轴的离轴抛物面镜。其特征在于，包括激光干涉仪(1)、自准平面镜(2)、激光器(3)和倾斜平移升降台(4)；/n所述自准平面镜(2)口径略大于待测的离轴抛物面镜；/n所述倾斜平移升降台(4)，具有水平方向一维平移、竖直方向一维升降和俯仰、偏摆二维调节功能；/n所述激光器(3)出射平行光，光束直径不大于3mm；/n所述激光器(3)固定在倾斜平移升降台(4)上；/n测量时，离轴抛物面镜放置在测量光路中，使离轴抛物面镜主截面处于水平位置；激光干涉仪(1)和自准平面镜(2)均位于离轴抛物面镜反射面一侧；在离轴抛物面镜另一侧，放置倾斜平...

【技术特征摘要】
20200108 CN 20201001706331.一种离轴抛物面镜离轴量测量装置，所述离轴抛物面镜限定为背面垂直于光轴的离轴抛物面镜。其特征在于，包括激光干涉仪(1)、自准平面镜(2)、激光器(3)和倾斜平移升降台(4)；
所述自准平面镜(2)口径略大于待测的离轴抛物面镜；
所述倾斜平移升降台(4)，具有水平方向一维平移、竖直方向一维升降和俯仰、偏摆二维调节功能；
所述激光器(3)出射平行光，光束直径不大于3mm；
所述激光器(3)固定在倾斜平移升降台(4)上；
测量时，离轴抛物面镜放置在测量光路中，使离轴抛物面镜主截面处于水平位置；激光干涉仪(1)和自准平面镜(2)均位于离轴抛物面镜反射面一侧；在离轴抛物面镜另一侧，放置倾斜平移升降台(4)，该倾斜平移升降台的平移导轨平行于待测的离轴抛物面镜背面所在平面。


2.一种如权利要求1所述装置的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一：搭建离轴抛物面的测量光路；
主截面测量光路包括激光干涉仪(1)、自准平面镜(2)；主截面是指离轴抛物面镜自身子光轴与光学系统主光轴所构成的平面；副截面是指过离轴抛物面镜自身子光轴，并与主截面垂直的平面；
测量时，首先将离轴抛物面镜放置在测量光路中，使离轴抛物面镜主截面处于水平位置；激光干涉仪(1)和自准平面镜(2)均位于离轴抛物面镜反射...

【专利技术属性】
技术研发人员：王姗姗，徐博文，周书红，张南生，郝群，胡摇，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：北京;11