一种偏光显微镜偏振方向校准工具及校准方法技术

本发明专利技术公开了一种偏光显微镜偏振方向校准工具及校准方法，其特征在于：包括半荫片及半荫片托板，其中所述半荫片为两片对称布置的偏振片，所述半荫片托板中部具有圆孔，所述半荫片遮挡在圆孔处，所述偏振片的偏振方向与其对称线呈37°夹角。本发明专利技术的有益效果包括：降低了偏光显微镜的校准难度，可明显判断平行和垂直的光强差别，偏光显微镜校准简单易操作。

A calibration tool and method for polarization direction of polarizing microscope

【技术实现步骤摘要】
一种偏光显微镜偏振方向校准工具及校准方法
本专利技术涉及偏振光的仪器、工具的校准、检验工具的领域，具体涉及一种偏光显微镜偏振方向校准工具及校准方法。
技术介绍
当以偏振光为基本工作原理的仪器或显微镜，需要对被测样本进行定量分析的时候，那么就不得不对仪器所使用的偏振光部件，进行方向校正。但是在普通观察手段下，只能识别光能量是否变弱，而无法判断出偏振方向。以偏光显微镜为例，以往判断偏振光基准方向一般有两种工具，带有黑云母矿物的矿片(矿物切片)，使用薄膜偏振片或石英等矿物制作的半荫片。现有技术中虽然使用黑云母的矿物切片可以判断出初始光学器件的偏振方向，是水平的0°，还是竖直的90°的大致方向。但其往往作为教学工具使用，需要具有一定知识性质的辨识度，不具有普遍性。在工厂校准工作中，显得寻的慢，不易操作，且需要工人具有较多的专业知识。而且认为判断误差较大。
技术实现思路
针对上述现有技术中的不足之处，本专利技术提供一种偏光显微镜偏振方向校准工具及校准方法，其结构简单，可以根据图像结果判断显微镜的偏振部的偏振方向，方便调节。为了达到上述目的，本专利技术采用了以下技术方案：一种偏光显微镜偏振方向校准工具，其特征在于：包括半荫片及半荫片托板，其中所述半荫片为两片对称布置的偏振片，所述半荫片托板中部具有圆孔，所述半荫片遮挡在圆孔处，所述偏振片的偏振方向与其对称线呈37°夹角。进一步地，所述半荫片托板为矩形板，四周倒圆角，所述半荫片的对称轴线与所述半荫片托板的长边垂直。进一步地，所述半荫片托板为金属薄板，其正面蚀刻有半荫片的偏振方向符号及偏振角度数值。一种偏光显微镜偏振方向校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在偏光显微镜的偏振部前方设置点光源；S2、将偏振方向为37°的半荫片放置在偏光显微镜的偏振部后方，观察结果；S3、根据观察到的图像结果判断偏光显微镜的偏振部偏振方向；S4、根据观察结果调整偏光显微镜的偏振部的方向。进一步地，步骤S3中观察的结果为一半明一半暗则说明偏振部偏振方向与所述半荫片的对称轴方向的夹角为锐角；当S3中观察的结果为明暗一致，且整体亮度偏亮则说明偏振部偏振方向与所述半荫片的对称轴方向平行；当S3中观察的结果为明暗一致，且整体亮度偏暗则说明偏振部偏振方向与所述半荫片的对称轴方向垂直。本专利技术的有益效果包括：降低了偏光显微镜的校准难度，可明显判断平行和垂直的光强差别，偏光显微镜校准简单易操作。附图说明图1是本专利技术的结构示意图；图2是本专利技术校准方法的原理图；图3是本专利技术部分图像对应的偏振情况图。具体实施方式下面结合具体实施例及附图来进一步详细说明本专利技术。一种如图1所示的偏光显微镜偏振方向校准工具，包括半荫片1及半荫片托板2，其中所述半荫片1为两片对称布置的偏振片，所述半荫片托板2中部具有圆孔，所述半荫片1遮挡在圆孔处，所述偏振片的偏振方向与其对称线呈37°夹角。所述半荫片托板2为矩形板，四周倒圆角，所述半荫片1的对称轴线与所述半荫片托板2的长边垂直。所述半荫片托板2为金属薄板，其正面蚀刻有半荫片1的偏振方向符号及偏振角度数值。根据图2所示的校准原理，本专利技术的偏光显微镜偏振方向校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在偏光显微镜的偏振部前方设置点光源；S2、将偏振方向为37°的半荫片放置在偏光显微镜的偏振部后方，观察结果；S3、根据观察到的图像结果判断偏光显微镜的偏振部偏振方向；S4、根据观察结果调整偏光显微镜的偏振部的方向。根据本专利技术的校准方法，观察到的部分结果如图3所示；步骤S3中观察的结果为一半明一半暗则说明偏振部偏振方向与所述半荫片的对称轴方向的夹角为锐角；当S3中观察的结果为明暗一致，且整体亮度偏亮则说明偏振部偏振方向与所述半荫片的对称轴方向平行；当S3中观察的结果为明暗一致，且整体亮度偏暗则说明偏振部偏振方向与所述半荫片的对称轴方向垂直。以上对本专利技术实施例所提供的技术方案进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本专利技术实施例的原理以及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只适用于帮助理解本专利技术实施例的原理；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本专利技术实施例，在具体实施方式以及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本专利技术的限制。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种偏光显微镜偏振方向校准工具，其特征在于：包括半荫片(1)及半荫片托板(2)，其中所述半荫片(1)为两片对称布置的偏振片，所述半荫片托板(2)中部具有圆孔，所述半荫片(1)遮挡在圆孔处，所述偏振片的偏振方向与其对称线呈37°夹角。/n

【技术特征摘要】
1.一种偏光显微镜偏振方向校准工具，其特征在于：包括半荫片(1)及半荫片托板(2)，其中所述半荫片(1)为两片对称布置的偏振片，所述半荫片托板(2)中部具有圆孔，所述半荫片(1)遮挡在圆孔处，所述偏振片的偏振方向与其对称线呈37°夹角。


2.根据权利要求1所述的一种偏光显微镜偏振方向校准工具，其特征在于：所述半荫片托板(2)为矩形板，四周倒圆角，所述半荫片(1)的对称轴线与所述半荫片托板(2)的长边垂直。


3.根据权利要求1所述的一种偏光显微镜偏振方向校准工具，其特征在于：所述半荫片托板(2)为金属薄板，其正面蚀刻有半荫片(1)的偏振方向符号及偏振角度数值。


4.一种偏光显微镜偏振方向...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶兴泉，
申请(专利权)人：重庆奥特光学仪器有限责任公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50