门级电阻自动切换电路及双脉冲自动测试电路制造技术

本发明专利技术揭示了一种门级电阻自动切换电路，包括门级电阻阵列、与门级电阻阵列串联的可控开关阵列和推挽电路，门级电阻阵列包括相隔离的开通电阻阵列和关断电阻阵列，其通过可控开关阵列的开关的不同组合产生不同阻值的门级电阻；推挽电路用于将开通电阻阵列和关断电阻阵列分离解耦。本发明专利技术还揭示了一种双脉冲自动测试电路。本发明专利技术实现在双脉冲测试模式下电阻全自动切换，提高了测试效率和安全性，且支持更高的瞬间门级电流及实现开通和关断电阻的自由调节。

Gate resistance automatic switch circuit and double pulse automatic test circuit

【技术实现步骤摘要】
门级电阻自动切换电路及双脉冲自动测试电路
本专利技术涉及一种双脉冲测试技术，尤其是涉及一种门级电阻自动切换电路及双脉冲自动测试电路。
技术介绍
双脉冲测试是用于测试功率器件开关特性最重要的一种测试方法。在双脉冲测试中，往往会通过调节门级电阻的方式来调节器件的开关速度以及电压应力。传统的方式是通过人工焊接的方式切换门级电阻的阻值，这种方式不仅耗时长，效率低，还容易出错，并且在一些高温测试的场景还会带来很多不便和安全隐患。在专利申请号为：CN201611240202.9的中国专利中，公开了一种栅极电阻、电容连续可调的IGBT测试电路，该电路可实现电阻自动切换。但是仍然存在以下缺点：(1)其采用光继电器的方式不能支持更高导通电流，从而大大限制测试的条件和范围，(2)光继电器体积往往也比较大，多个光继电器会导致门级回路较大，进而造成测试结果和实际有较大的偏差，(3)其门级电阻组合的方式没有将开通电阻和关断电阻解耦，测试人员无法自由的分别调节开通和关断电阻，从而会为测试带来极大不便。
技术实现思路
本专利技术的目的在于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种门级电阻自动切换电路，其特征在于，/n包括门级电阻阵列、可控开关阵列、隔离控制芯片阵列和推挽电路，/n所述门级电阻阵列与可控开关阵列串联，其包括相隔离的开通电阻阵列和关断电阻阵列，所述开通电阻阵列包括n+1个相并联的开通电阻，所述开通电阻阵列在可控开关阵列的控制下最多可产生2

【技术特征摘要】
1.一种门级电阻自动切换电路，其特征在于，
包括门级电阻阵列、可控开关阵列、隔离控制芯片阵列和推挽电路，
所述门级电阻阵列与可控开关阵列串联，其包括相隔离的开通电阻阵列和关断电阻阵列，所述开通电阻阵列包括n+1个相并联的开通电阻，所述开通电阻阵列在可控开关阵列的控制下最多可产生2n个开通门级电阻阵列组合；所述关断电阻阵列包括m+1个相并联的关断电阻，所述关断电阻阵列在可控开关阵列的控制下最多可产生2m个关断门级电阻阵列组合，其中，n,m为正整数；
所述可控开关阵列包括相隔离的第一可控开关阵列和第二可控开关阵列，所述第一可控开关阵列与开通电阻阵列串联，用于控制开通电阻阵列；所述第二可控开关阵列与关断电阻阵列串联，用于控制关断电阻阵列；
所述隔离控制芯片阵列用于控制所述可控开关阵列的开通和关断；
所述推挽电路用于将开通电阻阵列和关断电阻阵列分离解耦，其包括两个不同极性的第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管与开通电阻阵列相连，所述第二晶体管与关断电阻阵列相连。


2.根据权利要求1所述的门级电阻自动切换电路，其特征在于，所述隔离控制芯片阵列包括与所述第一可控开关阵列相连的第一隔离控制芯片阵列和与所述第二可控开关阵列相连的第二隔离控制芯片阵列。


3.根据权利要求2所述的门级电阻自动切换电路，其特征在于，所述第一可控开关阵列包括n个相并联的第一可控开关，每个所述第一可控开关与相对应的每个开通电阻串联；所述第二可控开关阵列包括m个相并联的第二可控开关，每...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐贺，朱安康，张嵩，
申请(专利权)人：臻驱科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31