【技术实现步骤摘要】
一种单管半导体激光器老化测试装置
本专利技术涉及半导体激光器制造领域，特别是涉及一种单管半导体激光器老化测试装置。
技术介绍
半导体激光器的老化测试，是通过激光电源以预设的功率对半导体激光器供电，使得半导体激光器以预设的负荷连续工作，在此过程中，通过检测半导体激光器的功率输出状态及其发光波段的偏移状态，以此来判断该半导体激光器是否存在缺陷。半导体激光器通常在以未封装的形式出厂时，会进行性能测试实验。在实际使用时，往往会根据使用需求，将半导体激光器与用于散热的热沉焊装为一体。在焊装的过程中，半导体激光器自身的性能会有较大的概率发生变化，甚至在焊接过程中发生损坏。为了确保该半导体激光器在实际使用中达到相应的性能要求，并能稳定地工作，需要对其进行老化测试。当前，半导体激光器的产品形式包括单管或激光Bar条形式，其中，激光Bar条相当于将多个单管半导体激光器并排形成的激光器单条，这种激光Bar条设置有明确的正负极引脚，从而便于对其供电，并进行出厂时的老化测试。然而，对于单管半导体激光器而言，通常采用COS封装，由于体...
【技术保护点】
1.一种单管半导体激光器老化测试装置，其特征在于，/n包括搭载平台、供电搭接件及探针组件；/n所述搭载平台用于搭载预测试的单管半导体激光器；/n所述供电搭接件安装在所述搭载平台上，并与所述探针组件相连接，所述供电搭接件用于伸向预测试的单管半导体激光器上侧的预设位置，以使得所述探针组件的端部与预测试的单管半导体激光器的电极相接触。/n
【技术特征摘要】
1.一种单管半导体激光器老化测试装置，其特征在于，
包括搭载平台、供电搭接件及探针组件；
所述搭载平台用于搭载预测试的单管半导体激光器；
所述供电搭接件安装在所述搭载平台上，并与所述探针组件相连接，所述供电搭接件用于伸向预测试的单管半导体激光器上侧的预设位置，以使得所述探针组件的端部与预测试的单管半导体激光器的电极相接触。
2.根据权利要求1所述的单管半导体激光器老化测试装置，其特征在于，所述搭载平台上设有定位槽，所述定位槽与预测试的单管半导体激光器相适配。
3.根据权利要求2所述的单管半导体激光器老化测试装置，其特征在于，所述定位槽包括多个，所述探针组件包括多组，所述探针组件与所述定位槽呈一一相对布置。
4.根据权利要求1至3任一所述的单管半导体激光器老化测试装置，其特征在于，所述探针组件安装在供电板上，所述供电板与所述供电搭接件相连接；
和/或，所述探针组件由阳极探针与阴极探针组成，所述阳极探针与所述阴极探针均为弹簧探针。
5.根据权利要求2所述的单管半导体激光器老化测试装置，其特征在于，所述搭载平台内设置有散热结构，所述散热结构与所述定位槽相对应。
6.根据权利要求5所述的单管半导体激光器老化测试装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：王智勇，杨逸飞，刘友强，秦文斌，曹银花，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：北京;11
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