【技术实现步骤摘要】
复检相机对焦测距装置和玻璃复检设备
本技术涉及玻璃基板复检领域，具体地涉及一种复检相机对焦测距装置以及包括该复检相机对焦测距装置的玻璃复检设备。
技术介绍
玻璃基板作为液晶显示面板的重要组成部分，在生产过程中对其品质的管控非常严格，通常需要对玻璃基板内部的铂金、结石、气泡等缺陷进行检测拍照，并通过图像分析处理进行缺陷分类和尺寸测量。在目前的玻璃生产中，玻璃基板的内部缺陷检测需要由面检设备和复检设备配合完成。面检设备通常包括多个光学相机，这些相机排成一列，当玻璃基板从相机下方输送通过时，相机对玻璃基板进行整板检测拍照，然后由检查机电脑系统对图像进行分析处理，得到玻璃基板内部缺陷的坐标、种类、尺寸、形状等初始资料。由于面检相机分辨率低，获得的数据除缺陷坐标外，其它缺陷信息会存在不准确的情况，因此需要将缺陷坐标等初始判定数据传输给复检设备，由复检设备对指定坐标位置的缺陷进行二次检测、判定。现有的复检设备通常由玻璃输送装置、玻璃定位装置、光学系统和移载装置等组成，复检光学系统对单个缺陷的拍照时间需要1秒左右，当玻璃基...
【技术保护点】
1.一种复检相机对焦测距装置，其特征在于，所述复检相机对焦测距装置包括激光发射器(1)和测距相机(3)，所述激光发射器(1)和所述测距相机(3)分别位于复检相机(2)的相对两侧，所述复检相机(2)的主光轴与待检玻璃基板的法线重合，所述激光发射器(1)发出的光束和所述测距相机(3)的主光轴与所述玻璃基板的法线的夹角均为α，以使所述激光发射器(1)发出的光束经所述玻璃基板的上表面漫反射后在所述测距相机(3)的像屏上形成漫反射像点。/n
【技术特征摘要】
1.一种复检相机对焦测距装置，其特征在于，所述复检相机对焦测距装置包括激光发射器(1)和测距相机(3)，所述激光发射器(1)和所述测距相机(3)分别位于复检相机(2)的相对两侧，所述复检相机(2)的主光轴与待检玻璃基板的法线重合，所述激光发射器(1)发出的光束和所述测距相机(3)的主光轴与所述玻璃基板的法线的夹角均为α，以使所述激光发射器(1)发出的光束经所述玻璃基板的上表面漫反射后在所述测距相机(3)的像屏上形成漫反射像点。
2.根据权利要求1所述的复检相机对焦测距装置，其特征在于，所述α为30-60°。
3.根据权利要求1或2所述的复检相机对焦测距装置，其特征在于，所述复检相机对焦测距装置包括计算单元，所述计算单元设置为能够根据所述漫反射像点与所述测距相机(3)的像屏焦点之间的距离计算出所述玻璃基板的上表面与所述复检相机(2)的焦平面之间的距离。
4.一种玻璃复检设备，其特征在于，包括复检相机(2)和权利要求1或2所述的复检相机对焦测距装置。
5.根据权利要求4所述的玻璃复检设备，其特征在于，所述玻璃复检设备包括竖直移动机构，所述竖直移动机构设置为能够驱使所述复检相机(2)沿竖直方向移动。
6.根据权利要求4或5所述的玻璃复检设备，其特征在于，所述玻璃复检设备包括纵向移动机构和横向移动机构，所述纵向移动机构设置为能够驱使所述激光发射器(1)、所述复检相机(2)以及所述测距相机(3)沿所述玻璃基板的纵向移动，所述横向移动机构设置为能够驱使所述激光发射器(1)...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡鹏，李学锋，张占永，闫秀涛，刘鹏，甄向伟，
申请(专利权)人：东旭集团有限公司，石家庄东旭光电装备技术有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13
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