一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪制造技术

本实用新型专利技术提供了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，包括：第一端子及第二端子，其中，所述第一端子由第一接触圆柱和第一底座构成，所述第二端子由第二接触圆柱和第二底座构成；所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱相对朝向设置；所述第一端子的底座设置有用于连接电源电极第一电源接口，所述第二端子的底座上设置有用于连接电源电极的第二电源接口。基于本实用新型专利技术，其测试极片电阻阻值时，电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。

A resistance measuring terminal and instrument of electrode resistance

【技术实现步骤摘要】
一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪
本技术涉及极片电阻测量领域，特别涉及一种极片电阻的阻值测量端子测量仪。
技术介绍
通过对极片施加不同压强，可以使极片表面的涂层颗粒产生不同程度的形变，从而改变极片的导电性能。通过测量数据可以分析不同压强下极片的阻值特性，从而对改良极片提供数据参考。而四探针法(如图1所示)和两探针法(如图2所示)都无法对被测物体表面施加压力，且极片的表面涂层由颗粒组成，与探针的接触面积小，只测量了电阻两端的电压值和电流值,故探针法无法全面表征极片电阻。无论是四探针法还是两探针法都只能表征表面薄层的电阻(即只能用于测量被测物表面的薄层电阻)，对于较厚且存在成分梯度的电池涂层无法全面表征极片的电阻值，另外，它也不能测试真实极片中涂层与基材之间的接触电阻。四探针测试法仅测量非导电基材极片，且与测试极片接触点面积小，极片颗粒大，数据无参考意义。
技术实现思路
本技术公开了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，其测试极片电阻阻值时，电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。本技术第一实施例提供了一种极片电阻的阻值测量端子，包括：第一端子及第二端子，其中，所述第一端子由第一接触圆柱和第一底座构成，所述第二端子由第二接触圆柱和第二底座构成；所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱相对朝向设置；所述第一端子的底座设置有用于连接电源电极第一电源接口，所述第二端子的底座上设置有用于连接电源电极的第二电源接口。优选地，所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱的直径相同。优选地，所述第一接触圆柱及所述第二接触圆柱的直径范围为13mm-16mm。优选地，所述第一端子及所述第二端子的材质为黄铜。优选地，所述第一底座设置有至少一个第一螺栓孔，所述第二底座上设置有至少一个第二螺栓孔，所述第一螺栓孔贯穿所述第一底座的端面，所述第二螺栓孔贯穿所述第二底座的端面。本技术第二实施例提供了一种极片电阻的阻值测量仪，包括电流源、测压装置以及如上任意一项所述的极片电阻的阻值测量端子，所述电流源的正极与所述第一电源接口电连接，所述电流源的负极与所述第二电源接口电连接，所述测压装置的第一端与所述第一电源接口电连接，所述测压装置的第二端与所述第二电源接口电连接。优选地，所述测压装置为电压表。基于本技术公开了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，通过设置两个圆柱型的接触端面，使得极片电阻的两个端面分别贴合在两个圆柱端面，并在端子的底座设置有电源接口，用于连接外部电路，使得在检测极片电阻时，两个接触圆柱端面及极片电阻的两个端面构成回路，使得电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。附图说明图1是现有技术四探针法极片电阻的阻值测量示意图；图2是现有技术二探针法极片电阻的阻值测量示意图；图3是本技术提供的一种极片电阻的阻值测量端子结构示意图。具体实施方式为使本技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施方式中的附图，对本技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术保护的范围。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术保护的范围。以下结合附图对本技术的具体实施例做详细说明。本技术公开了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，其测试极片电阻阻值时，电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。本技术公开了一种极片电阻的阻值测量端子及测量仪，其测试极片电阻阻值时，电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。请参阅图3，本技术第一实施例提供了一种极片电阻的阻值测量端子，包括：第一端子及第二端子，其中，所述第一端子由第一接触圆柱1和第一底座3构成，所述第二端子由第二接触圆柱2和第二底座4构成；所述第一接触圆柱1与所述第二接触圆柱2相对朝向设置；所述第一端子的底座设置有用于连接电源电极第一电源接口5，所述第二端子的底座上设置有用于连接电源电极的第二电源接口6。需要说明的是，所述第一端子用于接收外部传递过来的压力，其中，所述第一端子可以固定在支撑板上，便于外界的施压机构对其进行施压，所述第二端子可以固定于底座上或支撑架上，当外界的施压机构(如施压缸)对所述第一端子进行施压时，所述第一接触圆柱1的端面压向极片电阻的第一端面，使得所述第一接触圆柱1的端面、所述第二接触圆柱2的端面及极片电阻贴合在一起，在外部给所述第一端子的底座及所述第二端子的底座进行通电时，两个接触圆柱端面及极片电阻的两个端面构成回路，使得电流从极片电阻的端面穿过，使得对极片电阻阻值测量更加精确。在本实施例中，所述第一接触圆柱1与所述第二接触圆柱2的直径相同。需要说明的是，在其他实施例中，所述第一接触圆柱1的也可以大于第二接触圆柱2的直径，或者所述第一接触圆柱1的也可以小于第二接触圆柱2的直径。这里不做具体限定，当这些方案均在本技术的保护范围内。在本实施例中，所述第一接触圆柱1及所述第二接触圆柱2的直径范围为13mm-16mm。需要说明的是，采用端子的接触圆柱与极片电阻接触，其接触面积远大于探针，可有效的减小电流发散对测量产生的影响，进而减小了误差，端子的接触圆柱的直接越大，其测量误差影响越小，但传动机构提供的压力有限，在压力不变的条件下，受力面越大，压强越小，在进行测试时需要较强的压强，因此端子的接触圆柱的端面不宜过大，这里优选地接触圆柱的端面直径范围为13mm-16mm时，进过对极片电阻进行施压时，测量电阻的效果较好，其中，接触圆柱的端面直径14mm测量效果最好。在其他实施例中，还可以将所述第一端子及所述第二端子的接触圆柱替换成正方体或长方体，又或者其他形状形成的柱状体，如五边形、六边形形成的柱状体设置在所述第一端子及所述第二端子的底座上，用于对极片电阻进行施压，将其端面的宽度设置为13mm-16mm，如正方形的对角线长度范围为13mm-16mm，其端面的形状在此不做具体限定，当这些方案均在本技术的保护范围内。在本实施例中，所述第一端子及所述第二端子的材质为黄铜。在本实施例中，所述第一端子及所述第二端子的材质可以为黄铜。端子的材质优选地采用黄铜材质，在其他实施例中也可以采用其他材质，这里不做具体限定，在测试极片电阻的阻值时，采用将所第一端子及所述第二端子的阻值一并测量，即R总＝R端子+R被测物，在没有放被测物(即极片电阻时)测试的为R端子的阻值。在本实施例中，所述第一底座3设置有至少一个第一螺栓孔7本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种极片电阻的阻值测量端子，其特征在于，包括：第一端子及第二端子，其中，所述第一端子由第一接触圆柱和第一底座构成，所述第二端子由第二接触圆柱和第二底座构成；所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱相对朝向设置；所述第一端子的底座设置有用于连接电源电极第一电源接口，所述第二端子的底座上设置有用于连接电源电极的第二电源接口。/n

【技术特征摘要】
1.一种极片电阻的阻值测量端子，其特征在于，包括：第一端子及第二端子，其中，所述第一端子由第一接触圆柱和第一底座构成，所述第二端子由第二接触圆柱和第二底座构成；所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱相对朝向设置；所述第一端子的底座设置有用于连接电源电极第一电源接口，所述第二端子的底座上设置有用于连接电源电极的第二电源接口。


2.根据权利要求1所述的一种极片电阻的阻值测量端子，其特征在于，所述第一接触圆柱与所述第二接触圆柱的直径相同。


3.根据权利要求1所述的一种极片电阻的阻值测量端子，其特征在于，所述第一接触圆柱及所述第二接触圆柱的直径范围为13mm-16mm。


4.根据权利要求1所述的一种极片电阻的阻值测量端子，其特征在于，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：王益，张兴华，魏奕民，颜旭涛，邓然畅，
申请(专利权)人：元能科技厦门有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35