一种微小电阻的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了新能源汽车测试技术领域的一种微小电阻的测试装置，包括输出基准电路、方波产生增强电路、交流恒流源控制电路、继电器控制电路、仪表差分放大电路、带通滤波电路、放大电路、单电源全波整流电路、MCU；方波产生增强电路的输入端与输出基准电路连接，输出端与交流恒流源控制电路连接；继电器控制电路的输入端与交流恒流源控制电连接，输出端与仪表差分放大电路连接；带通滤波电路的输入端与仪表差分放大电路连接，输出端与放大电路连接；单电源全波整流电路的输入端与放大电路连接，输出端与MCU连接；方波产生增强电路以及继电器控制电路均分别与MCU连接。本发明专利技术的优点在于：实现减小微小电阻测试装置的体积，提升测试效率。

A testing device for small resistance

【技术实现步骤摘要】
一种微小电阻的测试装置
本专利技术涉及新能源汽车测试
，特别指一种微小电阻的测试装置。
技术介绍
随着新能源汽车的快速发展，锂电池的需求量也出现爆炸式增长，在新能源汽车出厂前，需要对锂电池组的等效内阻、电池管理系统(BMS)里负责充放电的MOSFET管的导通电阻、电流取样电阻等进行全面的测试，而这些电阻的阻值往往很小。针对微小电阻的测试，传统上通常采用微电阻测量仪，但是微电阻测量仪存在体积大，占用过多的产线空间，且只能完成单点测试，无数据记录功能，需要人工处理数据工作量大的缺点。经检索，申请日为2017.08.11，申请号为201721007896.1的中国专利技术专利公开了一种高精度交流微电阻测量仪，该专利使用信号发生模块产生两路同频同相的信号，供给后续使用测试，采集信号再次进行锁相比对处理，电路控制复杂，成本高，不利于小规模工厂推行使用；申请日为2011.11.29，申请号为201120484877.4的中国专利技术专利公开了一种锂电池组及其BMS微电阻测量仪，该专利使用变压器有效隔离输入交流信号和输入采集信号，由于变压器的存在整体测试仪体积大，制作工艺复杂，不能合理有效的利用空间资源；申请日为2019.02.26，申请号为201910141073.5的中国专利技术专利公开了一种锂电池交流内阻测试方法，该专利采用软件相位补偿算法及变压器隔离，整体算法及控制方法复杂导致调试工艺复杂，及体积大不利于空间资源合理利用。因此，如何提供一种微小电阻的测试装置，实现减小微小电阻测试装置的体积，提升测试效率，成为一个亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题，在于提供一种微小电阻的测试装置，实现减小微小电阻测试装置的体积，提升测试效率。本专利技术是这样实现的：一种微小电阻的测试装置，包括一输出基准电路、一方波产生增强电路、一交流恒流源控制电路、一继电器控制电路、一仪表差分放大电路、一带通滤波电路、一放大电路、一单电源全波整流电路以及一MCU；所述方波产生增强电路的输入端与输出基准电路的输出端连接，输出端与所述交流恒流源控制电路的输入端连接；所述继电器控制电路的输入端与交流恒流源控制电路的输出端连接，输出端与所述仪表差分放大电路的输入端连接；所述带通滤波电路的输入端与仪表差分放大电路的输出端连接，输出端与所述放大电路的输入端连接；所述单电源全波整流电路的输入端与放大电路的输出端连接，输出端与所述MCU的输入端连接；所述方波产生增强电路以及继电器控制电路均分别与MCU连接。进一步地，所述输出基准电路包括一高精密基准电压芯片U1、一电阻R1以及一运放U2A；所述电阻R1的一端与高精密基准电压芯片U1的引脚6连接，另一端与所述运放U2A的引脚3连接；所述运放U2A的引脚1以及2均与方波产生增强电路连接。进一步地，所述方波产生增强电路包括一模拟开关芯片U3、一运放U4A、一运放U4B、一电阻R2、一电阻R3、一电阻R4、一电阻R5、一电阻R6、一电阻R7、一电阻R8、一电阻R9、一电阻R10以及一电容C1；所述电阻R2的一端与模拟开关芯片U3的引脚2以及7连接，另一端与所述输出基准电路连接；所述电阻R3的一端与模拟开关芯片U3的引脚4以及8连接，另一端与所述MCU连接；所述电阻R4的一端与模拟开关芯片U3的引脚5以及10连接，另一端接地；所述模拟开关芯片U3的引脚6接地；所述电阻R5的一端与模拟开关芯片U3的引脚9连接，另一端与所述电阻R7以及运放U4A的引脚3连接；所述电阻R7接地；所述电阻R6的一端与模拟开关芯片U3的引脚3连接，另一端与所述电阻R8以及运放U4A的引脚2连接；所述电阻9的一端与电阻R8以及运放U4A的引脚1连接，另一端与所述运放U4B的引脚5连接；所述电阻R10的一端与运放U4B的引脚6连接，另一端与所述电容C1以及运放U4B的引脚7连接；所述电容C1与交流恒流源控制电路连接。进一步地，所述交流恒流源控制电路包括一运放U5A、一运放U5B、一R11、一R12、一R13、一R14、一R15、一R16、一R17、一R18、一电容C2以及一电容C3；所述电阻R12的一端与方波产生增强电路连接，另一端与所述运放U5A的引脚2以及电阻R18连接；所述电阻R11的一端与运放U5A的引脚3以及电阻R13连接，另一端接地；所述电阻R17的一端与运放U5A的引脚1以及电阻R18连接，另一端与所述电阻R15、电阻R16以及电容C2连接；所述电容C2与继电器控制电路连接；所述电容C3的一端与继电器控制电路连接，另一端接地；所述电阻R14的一端与电阻R13以及运放U5B的引脚7连接，另一端与所述运放U5B的引脚6连接；所述电阻R15与运放U5B的引脚5连接；所述电阻R16接地。进一步地，所述继电器控制电路包括至少一继电器组、一二极管D1、一二极管D2、一电阻R41、一电阻R42、一高精密低温漂基准电阻R44以及一MOS管Q1；所述继电器组包括一继电器K1以及一继电器K2；所述继电器K1的引脚ACRi-以及ACRi+均分别与仪表差分放大电路连接，引脚TIRI+以及TIRI-均分别与待测电阻连接，引脚Ri+以及Ri-分别与高精密低温漂基准电阻R44连接，引脚1与所述二极管D1的输出端连接，引脚2与所述二极管D1的输入端、MOS管Q1的漏极、二极管D2的输入端以及继电器K2的引脚2连接；所述电阻R42的一端与MOS管Q1的源极连接并接地，另一端与所述MOS管Q1的栅极以及电阻R41连接；所述电阻R41与MCU连接；所述二极管D2的输出端与继电器K2的引脚1连接；所述继电器K2的引脚Ri+以及Ri-分别与高精密低温漂基准电阻R44连接，引脚TIRo+以及TIRo-均分别与待测电阻连接，引脚ACRo-以及ACRo+均分别与交流恒流源控制电路连接。进一步地，所述仪表差分放大电路包括一仪表放大芯片U6、一电阻R19、一电阻R20、一电阻R21以及一电阻R22；所述电阻R19的一端与仪表放大芯片U6的引脚1连接，另一端与所述继电器控制电路连接；所述电阻R21的一端与仪表放大芯片U6的引脚4连接，另一端与所述继电器控制电路连接；所述电阻R20的一端与仪表放大芯片U6的引脚2连接，另一端与所述仪表放大芯片U6的引脚3连接；所述电阻R22的一端与仪表放大芯片U6的引脚6连接，另一端与所述仪表放大芯片U6的引脚7以及带通滤波电路连接。进一步地，所述带通滤波电路包括一零漂移运放U7A、一零漂移运放U7B、一电阻R23、一电阻R24、一电阻R25、一电容C4、一电容C5、一电容C6以及一电容C7；所述零漂移运放U7A的引脚1与电容C6、零漂移运放U7A的引脚2以及电容C5连接，引脚3与所述电容C4以及电阻R23连接；所述电容C4接地；所述电阻R23与电容C5以及仪表差分放大电路连接；所述零漂移运放U7B的引脚5与电阻R25、电容C7连接，引脚6与所述电阻R24、零漂移运放U7B的引脚7以及放大电路连接；所述电阻R24与电容C6以及电容C7本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微小电阻的测试装置，其特征在于：包括一输出基准电路、一方波产生增强电路、一交流恒流源控制电路、一继电器控制电路、一仪表差分放大电路、一带通滤波电路、一放大电路、一单电源全波整流电路以及一MCU；/n所述方波产生增强电路的输入端与输出基准电路的输出端连接，输出端与所述交流恒流源控制电路的输入端连接；所述继电器控制电路的输入端与交流恒流源控制电路的输出端连接，输出端与所述仪表差分放大电路的输入端连接；所述带通滤波电路的输入端与仪表差分放大电路的输出端连接，输出端与所述放大电路的输入端连接；所述单电源全波整流电路的输入端与放大电路的输出端连接，输出端与所述MCU的输入端连接；所述方波产生增强电路以及继电器控制电路均分别与MCU连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种微小电阻的测试装置，其特征在于：包括一输出基准电路、一方波产生增强电路、一交流恒流源控制电路、一继电器控制电路、一仪表差分放大电路、一带通滤波电路、一放大电路、一单电源全波整流电路以及一MCU；
所述方波产生增强电路的输入端与输出基准电路的输出端连接，输出端与所述交流恒流源控制电路的输入端连接；所述继电器控制电路的输入端与交流恒流源控制电路的输出端连接，输出端与所述仪表差分放大电路的输入端连接；所述带通滤波电路的输入端与仪表差分放大电路的输出端连接，输出端与所述放大电路的输入端连接；所述单电源全波整流电路的输入端与放大电路的输出端连接，输出端与所述MCU的输入端连接；所述方波产生增强电路以及继电器控制电路均分别与MCU连接。


2.如权利要求1所述的一种微小电阻的测试装置，其特征在于：所述输出基准电路包括一高精密基准电压芯片U1、一电阻R1以及一运放U2A；
所述电阻R1的一端与高精密基准电压芯片U1的引脚6连接，另一端与所述运放U2A的引脚3连接；所述运放U2A的引脚1以及2均与方波产生增强电路连接。


3.如权利要求1所述的一种微小电阻的测试装置，其特征在于：所述方波产生增强电路包括一模拟开关芯片U3、一运放U4A、一运放U4B、一电阻R2、一电阻R3、一电阻R4、一电阻R5、一电阻R6、一电阻R7、一电阻R8、一电阻R9、一电阻R10以及一电容C1；
所述电阻R2的一端与模拟开关芯片U3的引脚2以及7连接，另一端与所述输出基准电路连接；所述电阻R3的一端与模拟开关芯片U3的引脚4以及8连接，另一端与所述MCU连接；所述电阻R4的一端与模拟开关芯片U3的引脚5以及10连接，另一端接地；所述模拟开关芯片U3的引脚6接地；所述电阻R5的一端与模拟开关芯片U3的引脚9连接，另一端与所述电阻R7以及运放U4A的引脚3连接；所述电阻R7接地；所述电阻R6的一端与模拟开关芯片U3的引脚3连接，另一端与所述电阻R8以及运放U4A的引脚2连接；所述电阻9的一端与电阻R8以及运放U4A的引脚1连接，另一端与所述运放U4B的引脚5连接；所述电阻R10的一端与运放U4B的引脚6连接，另一端与所述电容C1以及运放U4B的引脚7连接；所述电容C1与交流恒流源控制电路连接。


4.如权利要求1所述的一种微小电阻的测试装置，其特征在于：所述交流恒流源控制电路包括一运放U5A、一运放U5B、一R11、一R12、一R13、一R14、一R15、一R16、一R17、一R18、一电容C2以及一电容C3；
所述电阻R12的一端与方波产生增强电路连接，另一端与所述运放U5A的引脚2以及电阻R18连接；所述电阻R11的一端与运放U5A的引脚3以及电阻R13连接，另一端接地；所述电阻R17的一端与运放U5A的引脚1以及电阻R18连接，另一端与所述电阻R15、电阻R16以及电容C2连接；所述电容C2与继电器控制电路连接；所述电容C3的一端与继电器控制电路连接，另一端接地；所述电阻R14的一端与电阻R13以及运放U5B的引脚7连接，另一端与所述运放U5B的引脚6连接；所述电阻R15与运放U5B的引脚5连接；所述电阻R16接地。


5.如权利要求1所述的一种微小电阻的测试装置，其特征在于：所述继电器控制电路包括至少一继电器组、一二极管D1、一二极管D2、一电阻R41、一电阻R42、一高精密低温漂基准电阻R44以及一MOS管Q1；所述继电器组包括一继电器K1以及一继电器K2；
所述继电器K1的引脚ACRi-以及ACRi+均分别与仪表差分放大电路连接，引脚TIRI+以及TIRI-均分别与待测电阻连接，引脚Ri+以及Ri-分别与高精密低温漂基准电阻R44连接，引脚1与所述二极管D1的输出端连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤平，邓秉杰，林德超，吴煌麒，陈言祥，陈兴，邱子凡，杨耀荣，
申请(专利权)人：福建星云电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35