本申请提供一种激光修阻方法及系统，所述方法包括：获取待修阻的电阻体的目标阻值；控制激光器对所述待修阻的电阻体进行切割时，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；基于预先确定的测量误差对所述第一测量阻值进行修正，得到修正阻值；在所述修正阻值等于所述目标阻值时，控制所述激光器停止切割所述待修阻的电阻体，基于预先确定的测量误差对电阻测量装置测量得到的阻值进行修正，得到修正阻值，继而消除了因线缆等零部件之间的阻抗差异而带来的测量误差，提高电阻体的测量精度，在所述修正阻值等于所述目标阻值时，控制所述激光器停止切割所述待修阻的电阻体，继而提高待修阻的电阻体的修阻精度。
【技术实现步骤摘要】
激光修阻方法及系统
本申请涉及激光加工
，具体而言，涉及一种激光修阻方法及系统。
技术介绍
激光切割机的原理是利用一束极细的激光束以及适当的能量密度，照射到厚、薄膜电阻上，通过对片式电阻的阻体进行气化，改变电阻的横截面积，实现切割。随着激光切割过程的进行，同时通过量测系统实时测量并监测片式电阻阻值的变化，当片式电阻的实际阻值达到目标阻值后，激光束关闭，即实现激光修阻过程。激光调修阻具有调阻精度高、速度快、可靠性高、成本低廉等特点。鉴于上述优点，激光调阻在片式电阻的精密调节上有很大的应用。广泛应用于高端计算机工业设备、自动控制设备、通讯设备、医疗设备、高科技多媒体等电子设备。由于现有技术无法保证线缆等零部件之间的阻抗一致，继而使得各个设备在生产组装过程中，使用的线缆等零部件存在阻抗差异，该阻抗差异势必导致电阻体的测量精度不佳，继而导致电阻体的修组精度不佳。申请内容鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种激光修阻方法及系统，以提高电阻体的修阻精度。第一方面，本申请实施例提供一种激光修阻方法，所述方法包括：获取待修阻的电阻体的目标阻值；控制激光器对所述待修阻的电阻体进行切割时，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；基于预先确定的测量误差对所述第一测量阻值进行修正，得到修正阻值；在所述修正阻值等于所述目标阻值时，控制所述激光器停止切割所述待修阻的电阻体。由于现有技术无法保证线缆等零部件之间的阻抗一致，继而使得各个设备在生产组装过程中，使用的线缆等零部件存在阻抗差异，该阻抗差异势必导致电阻体的修阻精度不佳，因此，在上述实现过程中，基于预先确定的测量误差对电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体得到的阻值进行修正，得到修正阻值，继而消除了因线缆等零部件之间的阻抗差异而带来的测量误差，提高电阻体的测量精度。基于第一方面，在一种可能的设计中，确定所述预先确定的测量误差的步骤包括：获取标准电阻的真实阻值；控制所述电阻测量装置测量所述标准电阻的阻值，得到第二测量阻值；确定所述真实阻值和所述第二测量阻值的差值为所述预先确定的测量误差。在上述实现过程中，利用所述电阻测量装置来测量标准电阻的阻值，得到第二测量阻值，并根据所述标准电阻的真实阻值和第二测量阻值，能够准确的确定出所述电阻测量装置的测量误差。基于第一方面，在一种可能的设计中，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；控制所述电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体两端的电压，得到测量电压值；根据所述测量电压值和流经所述待修阻的电阻体的恒定电流的电流值，得到所述第一测量阻值。在上述实现过程中，在流经所述待修阻的电阻体的电流的电流值不变情况下，所述待修阻的电阻体的阻值和所述待修阻的电阻体两端的电压值成正比，所述待修阻的电阻体的阻值越小，所述待修阻的电阻体两端的电压值越小，继而根据所述待修阻的电阻体两端的电压值和流经所述待修阻的电阻体的恒定电流的电流值，能够准确的确定出所述待修阻的电阻体的测量阻值。基于第一方面，在一种可能的设计中，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；控制所述电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体两端的电流，得到测量电流值；根据所述测量电流值和施加在所述待修阻的电阻体的恒定电压的电压值，得到所述第一测量阻值。在上述实现过程中，施加在所述待修阻的电阻体两端的电压不变情况下，所述待修阻的电阻体的阻值和流经所述待修阻的电阻体的电流的电流值成反比，所述待修阻的电阻体的阻值越小，流经所述待修阻的电阻体的电流值越大，继而根据流经所述待修阻的电阻体的电流的电流值和施加在所述待修阻的电阻体两端的电压，能够准确的确定出所述待修阻的电阻体的测量阻值。基于第一方面，在一种可能的设计中，所述待修阻的电阻体设置于氧化铝基材上，所述氧化铝基材上还设置有至少一个电阻体，所述至少一个电阻体沿所述待修阻的电阻体的方向纵向排列设置；在控制所述电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体两端的电流，得到测量电流值之前，所述方法还包括：在对所述待修阻的电阻体进行切割时，在与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体上施加所述恒定电压。在上述实现过程中，由于所述氧化铝基材并非绝缘体，因此，所述待修阻的电阻体和所述至少一个电阻体在物理上并非绝对的断开，所述修阻的电阻体和所述至少一个电阻体纵向排列，继而导致所述待修阻的电阻体和与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体之间存在电势差，其中，所述待修阻的电阻体的阻值越大，所述电势差也越大，继而对电阻测量精度的影响越大，因此，通过给所述待修阻的电阻体和与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体的两端分别施加相同的电压，使得所述待修阻的电阻体和所述待修阻的电阻体之间的电势差为零，继而克服了电势差对待修阻的电阻体的测量精度的影响。第二方面，本申请实施例提供另一种激光修阻方法，所述方法包括：待修阻的电阻体设置于氧化铝基材上，所述氧化铝基材上还设置有至少一个电阻体，所述至少一个电阻体沿所述待修阻的电阻体的方向纵向排列设置，所述方法包括：获取待修阻的电阻体的目标阻值；在所述待修阻的电阻体和与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体上分别施加相同的恒定电压；控制激光器对所述待修阻的电阻体进行切割时，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的两端的电流，得到测量电流值；根据所述测量电流值和所述恒定电压的电压值，得到第一测量阻值；在所述第一测量值等于所述目标阻值时，控制所述激光器停止切割所述待修阻的电阻体。在上述实现过程中，由于所述氧化铝基材并非绝缘体，因此，所述待修阻的电阻体和所述至少一个电阻体在物理上并非绝对的断开，所述修阻的电阻体和所述至少一个电阻体纵向排列，继而导致所述待修阻的电阻体和与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体之间存在电势差，其中，所述待修阻的电阻体的阻值越大，所述电势差也越大，继而对电阻测量精度的影响越大，因此，通过给所述待修阻的电阻体和与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体的两端分别施加相同的电压，使得所述待修阻的电阻体和所述待修阻的电阻体之间的电势差为零，继而克服了电势差对待修阻的电阻体的测量精度的影响。第三方面，本申请实施例提供一种激光修阻系统，所述系统包括：控制装置、激光器和电阻测量装置，所述控制装置分别与所述激光器和所述电阻测量装置连接；所述控制装置，用于获取待修阻的电阻体的目标阻值；以及控制激光器对所述待修阻的电阻体进行切割时，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；基于预先确定的测量误差对所述第一测量阻值进行修正，得到修正阻值；在所述修正阻值等于所述目标阻值时，控制所述激光器停止切割所述待修阻的电阻体。基于第三方面，在一种可能的设计中，所述控制装置还用于，获取标准电阻的真实阻值；控制所述电阻测量装置测量所述标准电阻的阻值，得到第二测量阻值；确定所述真实阻值和所述第二测量阻值的差值为所述预先确定的测量误差。基于第三方面，在一种可能的设计中，所述控制装置，具体用于控制所述电阻测量本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种激光修阻方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取待修阻的电阻体的目标阻值；/n控制激光器对所述待修阻的电阻体进行切割时，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；/n基于预先确定的测量误差对所述第一测量阻值进行修正，得到修正阻值；/n在所述修正阻值等于所述目标阻值时，控制所述激光器停止切割所述待修阻的电阻体。/n
【技术特征摘要】
1.一种激光修阻方法，其特征在于，所述方法包括：
获取待修阻的电阻体的目标阻值；
控制激光器对所述待修阻的电阻体进行切割时，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；
基于预先确定的测量误差对所述第一测量阻值进行修正，得到修正阻值；
在所述修正阻值等于所述目标阻值时，控制所述激光器停止切割所述待修阻的电阻体。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述预先确定的测量误差的步骤包括：
获取标准电阻的真实阻值；
控制所述电阻测量装置测量所述标准电阻的阻值，得到第二测量阻值；
确定所述真实阻值和所述第二测量阻值的差值为所述预先确定的测量误差。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；
控制所述电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体两端的电压，得到测量电压值；
根据所述测量电压值和流经所述待修阻的电阻体的恒定电流的电流值，得到所述第一测量阻值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体的阻值，得到第一测量阻值；
控制所述电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体两端的电流，得到测量电流值；
根据所述测量电流值和施加在所述待修阻的电阻体的恒定电压的电压值，得到所述第一测量阻值。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述待修阻的电阻体设置于氧化铝基材上，所述氧化铝基材上还设置有至少一个电阻体，所述至少一个电阻体沿所述待修阻的电阻体的方向纵向排列设置；在控制所述电阻测量装置实时测量所述待修阻的电阻体两端的电流，得到测量电流值之前，所述方法还包括：
在对所述待修阻的电阻体进行切割时，在与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体上施加所述恒定电压。
6.一种激光修阻的方法，其特征在于，待修阻的电阻体设置于氧化铝基材上，所述氧化铝基材上还设置有至少一个电阻体，所述至少一个电阻体沿所述待修阻的电阻体的方向纵向排列设置，所述方法包括：
获取待修阻的电阻体的目标阻值；
在所述待修阻的电阻体和与所述待修阻的电阻体相邻的电阻体上分别施加相同的恒定电压；
【专利技术属性】
技术研发人员：王喆，陈德佳，成学平，刘健，黄治家，
申请(专利权)人：深圳市杰普特光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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