一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法技术

技术编号:24406287 阅读:27 留言:0更新日期:2020-06-06 07:16
本发明专利技术公开了一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,该方法通过标样的收集制作,建立分析方法,确定分析参数,以达到能够检测铝锆中间合金中锆含量(3.00‑15.00)%的目的。此方法检测样品直接是合金样块,只需车削检测面就可以直接检测,操作更加便捷,提高了检测效率,并且此方法整个的检测过程不需要使用化学试剂,更加环保,节约了检测成本,检测结果稳定可靠,并且受合金锭的成分偏析影响较小,检测结果更具有代表性。

An analysis method of aluminum zirconium master alloy by XRF

【技术实现步骤摘要】
一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法
本专利技术属于合金分析
,具体涉及一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法。
技术介绍
X射线荧光光谱仪分析方法目前没有相应的国家标准。目前只有《JJG810-1993波长色散X射线荧光光谱仪》计量检定规程。对于铝锆中间合金的成分检测方法目前有:①《GB/T20975.25-2008铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》,锆元素测定范围(0.0020-1.00)%。②《GB/T7999-2015铝及铝合金光电直读发射光谱分析法》,锆元素测定范围:(0.0001-0.50)%。③《GB/T16597-1996冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则》中未对铝锆中间合金成分的检测方法做具体描述,只规定了“X射线荧光光谱法”进行元素定量分析的一般事项。国家标准《GB/T/27677-2011铝中间合金》中铝锆中间合金产品中锆元素含量较高,锆元素含量要求大多在(3.00-15.00)%。“电感耦合等离子体原子发射光谱法”和“光电直读发射光谱分析法”的测定范围均未涵盖高含量锆元素的检测。而目前对于“X射线荧光光谱仪”检测铝锆中间合金的分析方法没有与之对应的国家标准样品。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法。该方法通过标样的收集制作,建立分析方法,确定分析参数,以达到能够检测铝锆中间合金中锆含量(3.00-15.00)%的目的。一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,所述方法建立的具体过程如下:(1)标准样品的收集和制备:采用国家标准样品A356系列、E4121-E4125、E9021-E9026作为金属杂质元素标准样品,自制铝锆中间合金AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10、AlZr15标准样品;(2)自制铝锆中间合金标准样品定值:通过《GB/T20975.25-2008铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》对铝锆中间合金标准样品进行检测;(3)方法建立:根据产品主元素含量的高低分为两个检测方法建立:方法一:主元素Zr=(3.00-10.00)%标准曲线,所用铝锆中间合金牌号包括:AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10;方法二:主元素Zr=(10.00-15.00)%标准曲线,所用铝锆中间合金牌号包括:AlZr10、AlZr15;以上两种方法均采用国家标准样品A356系列、E4121-E4125、E9021-E9026建立金属杂质元素标准曲线,见图1-2;(4)方法验证:方法的重复性和正确性验证结果符合标准要求,见表1-2;采用此方法“X射线荧光光谱仪分析方法”与“电感耦合等离子体原子发射光谱法”化学分析方法进行多炉次多牌号对比。对比结果符合标准要求,见表3。表1方法重复性验证数据测量次数12345678910Zr%(样品)5.034.995.064.934.964.905.015.024.955.05表2方法验证结果表3检测结果对比表进一步地,对铝锆中间合金标准样品进行检测之前,需要对铝锆中间合金标准样品分取稀释达到标准要求。进一步地,方法建立中的金属杂质元素包括Si、Fe、Cu、Mg、Ca、V、Mn、Ni、Zn、Sn、Ga、Hf。本专利技术的基于X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法的优点在于:①弥补了《GB/T20975.25-2008铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》锆元素测定范围(3.00-15.00)%的化学分析方法的空白。②解决了使用“X射线荧光光谱仪”检测铝锆中间合金没有国家标准样品的问题。自制铝锆中间合金(牌号包括:AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10、AlZr15)标准样品。铝锆中间合金的方法建立、监控标准曲线及漂移校正所使用的锆元素标样均为自制,使用前经过严格的试验比对进行定值。各项指标符合标准要求,并且使用效果良好。③因铝锆中间合金中锆元素含量较高,所以“电感耦合等离子体原子发射光谱法”的样品制备不仅包括溶解、定容,还需分取、稀释、定容等制备环节,样品制备和检测时间较长,此方法检测样品直接是合金样块,只需车削检测面就可以直接检测,操作更加便捷,提高了检测效率。并且此方法整个的检测过程不需要使用化学试剂,更加环保,节约了检测成本。④检测结果稳定可靠,并且受合金锭的成分偏析影响较小,检测结果更具有代表性。附图说明图1为主元素Zr=(3.00-10.00)%标准曲线;图2为主元素Zr=(10.00-15.00)%标准曲线。具体实施方式为了使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术,下面结合附图和实施例对本专利技术技术方案进一步说明。一种基于X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,主元素Zr含量(3.00-15.00)%:样品制备:样块厚度及样块直径应满足仪器样杯对样品的尺寸要求,用车床将样品加工出一个平面,车削厚度3-5mm,试样应光滑平整,不能留有碎屑。样品检测面不能用手或其他异物接触,放置时保证检测面朝上,保持干燥、防止污染。样品测定:检查仪器状态,将已加工好的样品依次放入样杯,保证样品完全盖住样杯底部圆孔,样品厚度不能超出样杯高度,轻拿轻放以防损坏样品和样杯并按规程进行检测。此方法与《GB/T20975.25-2008铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》不同之处在于:①锆含量的检测范围:此方法检测范围(3.00-15.00)%,GB/T20975.25-2008测定范围(0.0020-1.00)%。②此方法检测样品直接是合金样块,只需车削检测面就可以直接检测,操作更加便捷,提高了检测效率。并且此方法整个的检测过程不需要使用化学试剂,更加环保,节约了检测成本。③定期检测监控样品确认标准曲线的稳定性,如果检测结果超出范围应进行漂移校正。进行漂移校正后,再次检测监控样品确认检测结果是否符合要求。以上所述实施例仅表达了本专利技术的优选实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本专利技术专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术构思的前提下,还可以做出若干变形、改进及替代,这些都属于本专利技术的保护范围。因此,本专利技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,其特征是,所述方法建立的具体过程如下:/n(1)标准样品的收集和制备:采用国家标准样品A356系列、E4121-E4125、E9021-E9026作为金属杂质元素标准样品,自制铝锆中间合金AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10、AlZr15标准样品;/n(2)自制铝锆中间合金标准样品定值:通过《GB/T 20975.25-2008铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》对铝锆中间合金标准样品进行检测;/n(3)方法建立:根据产品主元素含量的高低分为两个检测方法建立:方法一:主元素Zr=(3.00-10.00)%标准曲线,所用铝锆中间合金牌号包括:AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10;方法二:主元素Zr=(10.00-15.00)%标准曲线,所用铝锆中间合金牌号包括:AlZr10、AlZr15;以上两种方法均采用国家标准样品A356系列、E4121-E4125、E9021-E9026建立金属杂质元素标准曲线;/n(4)方法验证:采用此方法“X射线荧光光谱仪分析方法”与“电感耦合等离子体原子发射光谱法”化学分析方法进行多炉次多牌号对比。/n...

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光光谱仪检测铝锆中间合金的分析方法,其特征是,所述方法建立的具体过程如下:
(1)标准样品的收集和制备:采用国家标准样品A356系列、E4121-E4125、E9021-E9026作为金属杂质元素标准样品,自制铝锆中间合金AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10、AlZr15标准样品;
(2)自制铝锆中间合金标准样品定值:通过《GB/T20975.25-2008铝及铝合金化学分析方法第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法》对铝锆中间合金标准样品进行检测;
(3)方法建立:根据产品主元素含量的高低分为两个检测方法建立:方法一:主元素Zr=(3.00-10.00)%标准曲线,所用铝锆中间合金牌号包括:AlZr3、AlZr5、AlZr8、AlZr10;方法二:主元素Zr=(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:辛晶李伟娄月王红伟戎新格贾忠伟杨伟绩
申请(专利权)人:河北四通新型金属材料股份有限公司
类型:发明
国别省市:河北;13

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