一种二值码相移周期码错位的校正方法技术

本发明专利技术涉及机器视觉三维测量技术领域，具体公开了一种二值码相移周期码错位的校正方法，其中，包括：步骤S10、分别确定二值码和相移码中对应周期值相同的二值码和相移码，得到一个待校正的二值码；步骤S20、将一个所述待校正的二值码根据膨胀腐蚀法进行计算得到校正后的二值码；步骤S30、重复步骤S10和步骤S20，得到全周期校正后的二值码。本发明专利技术提供的二值码相移周期码错位的校正方法具有精度高且耗时少的优势。

A correction method of phase shift periodic code dislocation of binary code

【技术实现步骤摘要】
一种二值码相移周期码错位的校正方法
本专利技术涉及机器视觉三维测量
，尤其涉及一种二值码相移周期码错位的校正方法。
技术介绍
相位轮廓术作为结构光三维测量中非常重要的一种方法，而时间多路复用法中的二值码加相移码求解绝对相位是相位轮廓术中常用的方法，由于二值码图像中存在噪声，导致二值码周期边界处存在周期误差，从而导致最终求解的绝对相位产生突变。传统的误差校正方法一般通过误差判断的方式或投射额外的相移周期等方法来校正，但这些方法一般较为耗时或精度较低。
技术实现思路
本专利技术提供了一种二值码相移周期码错位的校正方法，解决相关技术中存在的二值码相移周期码错位的校正方法耗时且精度低的问题。作为本专利技术的一个方面，提供一种二值码相移周期码错位的校正方法，其中，包括：步骤S10、分别确定二值码和相移码中对应周期值相同的二值码和相移码，得到一个待校正的二值码；步骤S20、将一个所述待校正的二值码根据膨胀腐蚀法进行计算得到校正后的二值码；步骤S30、重复步骤S10和步骤S20，得到全周期校正后的二值本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种二值码相移周期码错位的校正方法，其特征在于，包括：/n步骤S10、分别确定二值码和相移码中对应周期值相同的二值码和相移码，得到一个待校正的二值码；/n步骤S20、将一个所述待校正的二值码根据膨胀腐蚀法进行计算得到校正后的二值码；/n步骤S30、重复步骤S10和步骤S20，得到全周期校正后的二值码。/n

【技术特征摘要】
1.一种二值码相移周期码错位的校正方法，其特征在于，包括：
步骤S10、分别确定二值码和相移码中对应周期值相同的二值码和相移码，得到一个待校正的二值码；
步骤S20、将一个所述待校正的二值码根据膨胀腐蚀法进行计算得到校正后的二值码；
步骤S30、重复步骤S10和步骤S20，得到全周期校正后的二值码。


2.根据权利要求1所述的二值码相移周期码错位的校正方法，其特征在于，所述分别确定二值码和相移码中对应周期值相同的二值码和相移码，得到一个待校正的二值码，包括：
将周期值均为Tm的二值码和相移码确定为对应周期值相同的二值码Bm和相移码Pm，并将相移码Pm分为Pu和Pd，其中Pu＝(Pm≥0)，Pd＝(Pm＜0)，得到待校正的二值码Bm。


3.根据权利要求2所述的二值码相移周期码错位的校正方法，其特征在于，所述将一个所述待校正的二值码根据膨胀腐蚀法进行计算得到校正后的二值码，包括：
分别定义膨胀算子Od和腐蚀算子Oe；
对所述待校正的二值码Bm进行一次膨胀操作，得到一次膨胀操作后的二值码；
对一次膨胀后的二值码进行点乘操作后得到与所述相移码Pm对应的二值码部分；
对于所述相移码Pm对应的二值码部分进行腐蚀操作得到腐蚀操作后的二值码部分；
对所述腐蚀操作后的二值码部分进行二次膨胀操作得到二次膨胀后的二值码；
对所述二次膨胀后的二值码进行计算得到一个校正后的二值码。


4.根据权利要求3所述的二值码相移周期码错位的校正方法，其特征在于，所述对所述二值码Bm进行一次膨胀操作，包括：



其中，表示卷积操作，Bm1表示一次膨胀操作后的二值码。

【专利技术属性】
技术研发人员：张旭，李华阳，李晨，金韵，丁汉，
申请(专利权)人：江苏集萃华科智能装备科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32