一种通用双列直插器件测试适配器制造技术

技术编号:24358972 阅读:40 留言:0更新日期:2020-06-03 03:11
本实用新型专利技术公开了一种通用双列直插器件测试适配器,其特征在于,包括测试插座、测试电路板和转接插座;所述测试插座设置在所述测试电路板上,并与所述测试电路板电路连接,所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统连接,待测试的双列直插器件通过器件管脚与所述测试插座连接;所述测试电路板包括待测试的双列直插器件的测试电路和拨码开关,所述拨码开关用于转换待测试的双列直插器件管脚与集成电路测试系统的连接。本实用新型专利技术的通用双列直插器件测试适配器突破了现有的测试适配器不能实现多品种双列直插器件的测试,采用了拨码开关的转接方式,实现了多品种双列直插器件的测试,并保证了测试的稳定性和可靠性。

A universal test adapter for dual in line devices

【技术实现步骤摘要】
一种通用双列直插器件测试适配器
本技术涉及测试
,特别是指一种通用双列直插器件测试适配器。
技术介绍
双列直插器件,因为VCC管脚和GND管脚分布不规则,所以测试双列直插器件时,一个测试适配器对应一个品种器件的测试,现有的测试适配器不能实现多品种双列直插器件的测试。本技术的专利技术人针对双列直插器件的测试,利用集成电路测试系统J750HD的硬件资源,在J750HD测试系统的硬件基础上,设计制作通用双列直插器件测试适配器,实现多品种双列直插器件的测试。
技术实现思路
针对现有技术的不足之处,本技术的目的是提出一种通用双列直插器件测试适配器,实现了多品种双列直插器件的测试,并保证了测试的稳定性和可靠性。基于上述目的,本技术提供的一种通用双列直插器件测试适配器,包括测试插座、测试电路板和转接插座;所述测试插座设置在所述测试电路板上,并与所述测试电路板电路连接,所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统的母板连接,待测试的双列直插器件通过器件管脚与所述测试插座连接;所述测试电路板包括待测试的双列直插器件的测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通用双列直插器件测试适配器,其特征在于,包括测试插座、测试电路板和转接插座;所述测试插座设置在所述测试电路板上,并与所述测试电路板电路连接,所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统的母板连接,待测试的双列直插器件通过器件管脚与所述测试插座连接;/n所述测试电路板包括待测试的双列直插器件的测试电路和拨码开关,所述拨码开关用于转换待测试的双列直插器件管脚与集成电路测试系统的连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种通用双列直插器件测试适配器,其特征在于,包括测试插座、测试电路板和转接插座;所述测试插座设置在所述测试电路板上,并与所述测试电路板电路连接,所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统的母板连接,待测试的双列直插器件通过器件管脚与所述测试插座连接;
所述测试电路板包括待测试的双列直插器件的测试电路和拨码开关,所述拨码开关用于转换待测试的双列直插器件管脚与集成电路测试系统的连接。


2.根据权利要求1所述的通用双列直插器件测试适配器,其特征在于,待测试的双列直插器件的管脚包括数字输入/输出管脚、VCC管脚和GND管脚,待测试的双列直插器件进行测试时,集成电路测试系统的DPS为待测试的双列直插器件的VCC管脚提供电源电压和电流,集成电路测试系统的数字通道为待测试的双列直插器件的数字输入/输出管脚提供输入电压...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗俊杰
申请(专利权)人:航天科工防御技术研究试验中心
类型:新型
国别省市:北京;11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1