一种用于同时测量超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于同时测量超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱的装置，其特征在于包括：宽谱白光光源、第一光纤准直镜、第二光纤准直镜、液体流通池、双路光开关、多模光纤跳线、光纤光谱仪和电脑。本申请装置通过双路光开关分别来搭建超构材料光芯片的反射光路和透射光路，在仅仅使用单个光源和单个光谱仪的情况下，通过双路光开关交替切换实现超构材料光芯片反射光谱和透射光谱的同时测量，再通过利用连续测量得到一次反射和一次透射结果计算得到吸收光谱。

A device for simultaneously measuring the reflection, transmission and absorption spectra of optical chips made of super structured materials

【技术实现步骤摘要】
一种用于同时测量超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱的装置
本技术属于微纳光子学、生物传感、纳米材料、光学检测等
，具体涉及一种用于超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱同时测量的光学装置。
技术介绍
现有超构材料光芯片光谱测量的装置，主要可以分为两类：一类是基于光纤的透射光谱测量系统，该装置仅仅能测量样品的透射光谱，存在测量光谱单一和在很多应用中难以满足测量需求的缺陷。另一类是基于空间光路的反射和透射光谱测量系统，尽管该装置可以测量样品的透射和反射光谱，但每次测量只能测量其中一种光谱。需要测量另一种光谱时，需要改变仪器设定(如手动切换光路)，无法同时得到样品的反射和透射光谱。另外为了得到吸收光谱，只能将反射和透射光谱的数据导出，后处理得到相应的结果。尽管该光学装置可以分别测量样品的透射谱和反射谱，但测量过程复杂，用时较长，尤其将测量光路用于生化样品的实时传感检测，无法快速得到所有光谱的传感数据。因此在超构材料光芯片光谱测量中，更简单、更快、更多得到超构材料光芯片的光谱信息是一个亟待解决的重要问题。<br>
技术实现思路
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【技术保护点】
1.一种用于同时测量超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱的装置，其特征在于包括：宽谱白光光源、第一光纤准直镜、第二光纤准直镜、液体流通池、双路光开关、多模光纤跳线、光纤光谱仪和电脑；/n所要测试的超构材料光芯片封装在液体流通池中，第一光纤准直镜和第二光纤准直镜分别设置在液体流通池两侧，光芯片位于两个光纤准直镜的中心；/n所述双路光开关包括上路和下路光开关,光开关的切换通过机械拨片来完成；所述多模光纤跳线包括第一Y型光纤跳线、第二Y型光纤跳线和单通光纤跳线；/n所述宽谱白光光源和上路光开关的一端分别连接第一Y型光纤跳线两个分支端，其公共端连接第一光纤准直镜；/n第二光纤准直镜和下路光开关的一端通过...

【技术特征摘要】
1.一种用于同时测量超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱的装置，其特征在于包括：宽谱白光光源、第一光纤准直镜、第二光纤准直镜、液体流通池、双路光开关、多模光纤跳线、光纤光谱仪和电脑；
所要测试的超构材料光芯片封装在液体流通池中，第一光纤准直镜和第二光纤准直镜分别设置在液体流通池两侧，光芯片位于两个光纤准直镜的中心；
所述双路光开关包括上路和下路光开关,光开关的切换通过机械拨片来完成；所述多模光纤跳线包括第一Y型光纤跳线、第二Y型光纤跳线和单通光纤跳线；
所述宽谱白光光源和上路光开关的一端分别连接第一Y型光纤跳线两个分支端，其公共端连接第一光纤准直镜；
第二光纤准直镜和下路光开关的一端通过单通光纤跳线连接；
所述上路和下路光开关的另一端分别连接第二Y型光纤跳线两个分支端，其公共端连接光纤光谱仪；
光纤光谱仪分别通过连接线对光开关和宽谱白光光源进行控制，光谱仪对电脑的数据交换采用USB数据线连接。


2.根据权利要求1所述的用于同时测量超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱的装置，其特征在于：所述所要测试超...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐挺，梁瑜章，
申请(专利权)人：南京大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32