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本实用新型公开了一种用于同时测量超构材料光芯片反射、透射和吸收光谱的装置，其特征在于包括：宽谱白光光源、第一光纤准直镜、第二光纤准直镜、液体流通池、双路光开关、多模光纤跳线、光纤光谱仪和电脑。本申请装置通过双路光开关分别来搭建超构材料光芯片...
该专利属于南京大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京大学授权不得商用。

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