一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件制造技术

本发明专利技术提供一种基于介质结构的多波长消色差超表面偏振测量器件，包括至下而上的一层介质衬底和介质柱结构，其中上层介质柱结构由变宽度和变旋转角度的纳米柱结构构成。本发明专利技术设计巧妙，结构简单，通过变宽度介质柱结构，可实现对电磁波高效率调控。本发明专利技术可用于设计消色差透镜、偏振测量、成像等超表面功能器件，对推进超表面的实用化具有重要意义。

A multi wavelength achromatic super surface polarization measuring device based on dielectric column structure

【技术实现步骤摘要】
一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件
本专利技术涉及电磁波相位调控
，特别涉及一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件。
技术介绍
对于传统偏振测量系统实现偏振态(SOP)的表征需要6次强度测量来确定全斯托克斯参数。这样的问题可以通过结合大量的光学实验元件(包括双折射晶体、棱镜或线栅偏振滤光片)连续测量解决。一个典型的例子，SOP通常使用一组排列适当的偏振元件进行计算，例如，偏振器和波片，它们被连续地放置在检测器前面的光路上。在这个方法中，通过测量通过这些偏振分量的光通量来确定唯一定义SOP的Stokes参数。但是，该系统体积庞大、结构复杂，不符合未来微型化和集成化光学器件的发展趋势。超表面一种由亚波长结构按照一定规律排布的新型人工电磁材料，其厚度小于一个波长。超表面对电磁波具有灵活的调控能力，包括偏振、相位、振幅。目前超表面偏振测量器件大多数都是由周期性结构排列组成，难以实现对不同波长在同一焦平面对全Stokes测量。其中一个解决方案，可以通过优化设计使用不同偏振敏感的小型超表面集成在同一块芯片上，这样可以有效的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件，其特征在于：包括至下而上的一层介质衬底和介质柱结构，其中上层介质柱结构由变宽度和变旋转角度纳米柱结构构成。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件，其特征在于：包括至下而上的一层介质衬底和介质柱结构，其中上层介质柱结构由变宽度和变旋转角度纳米柱结构构成。


2.根据权利要求1所述的一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件，其特征在于：所述介质衬底的厚度为t，其取值范围为t>10λ0，介质柱结构的厚度为h，其取值范围为h<λ0，λ0＝883nm为中心波长。


3.根据权利要求1所述的一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件，其特征在于：所述纳米柱结构的横向周期为Px等于纵向周期为Py，其取值范围为Py<λ0，λ0为中心波长。


4.根据权利要求1所述的一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗先刚，马晓亮，蒲明博，李雄，申宜佳，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51