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一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件制造技术
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下载一种基于介质柱结构的多波长消色差超表面偏振测量器件的技术资料
文档序号:24348725
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本发明提供一种基于介质结构的多波长消色差超表面偏振测量器件,包括至下而上的一层介质衬底和介质柱结构,其中上层介质柱结构由变宽度和变旋转角度的纳米柱结构构成。本发明设计巧妙,结构简单,通过变宽度介质柱结构,可实现对电磁波高效率调控。本发明可用...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。
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