一种PCB元件布局校验方法、装置、服务器及存储介质制造方法及图纸

本申请适用于计算机技术领域，提出一种PCB板元件布局校验方法，包括：获取目标原理图的所有目标元件的封装信息，所述目标原理图为根据PCB板上的元件结构设计的原理图，所述目标元件为所述PCB板上的元件，所述封装信息为所述目标元件的尺寸信息；获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息，所述目标区域信息为限高区域的区域信息；根据所述封装信息和所述目标区域信息，对所述PCB板上的元件布局进行校验。能够不需要依靠人力进行逐个放置验证，校验过程简单且能够提高PCB板的开发效率。

A PCB layout verification method, device, server and storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种PCB元件布局校验方法、装置、服务器及存储介质
本申请属于计算机
，尤其涉及一种PCB元件布局校验方法、装置、服务器及存储介质。
技术介绍
在进行PCB元件布局前，由于PCB板框受产品外型限制，有元件布局限高区域，在此区域的元件高度不能超过限制高度，否则生产出的PCB无法装入外壳。所以在进行PCB元件布局前，首先需要评估PCB板框是否能放置下所有元件，简称为PCB元件布局校验。目前常用的PCB元件布局校验方法为通过人工查找限高区放置的对应元件，并进行逐个放置验证，不仅浪费大量的人力资源，且过程繁杂，导致PCB板开发效率低下。
技术实现思路
有鉴于此，本申请实施例提供了一种PCB元件布局校验方法、装置、服务器及存储介质，以解决现有技术中需要依靠人力进行逐个放置验证，过程繁杂且开发效率低下的问题。本申请实施例的第一方面提供了一种PCB元件布局校验方法包括：获取目标原理图的所有目标元件的封装信息，所述目标原理图为根据PCB板上的元件结构设计的原理图，所述目标元件为所述PCB板上的元件，所述封装信息为所述目标元件的尺寸信息；获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息，所述目标区域信息为限高区域的区域信息；根据所述封装信息和所述目标区域信息，对所述PCB板上的元件布局进行校验。在一种可选的实现方式中，在所述获取目标原理图的所有目标元件的封装信息之前，包括：获取PCB封装库里不同PCB板上每个元件的封装信息；将所述封装信息保存至第一文件中；>对应地，所述获取目标原理图的所有目标元件的封装信息，包括：从所述第一文件中获取目标原理图的所有所述目标元件的封装信息。在一种可选的实现方式中，在所述获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息之前，包括：将所述PCB板导入预设的测量软件进行目标区域信息测量，得到所有所述目标区域信息；将所有所述目标区域信息保存至第二文件中；对应地，所述获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息，包括：从所述第二文件中获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息。在一种可选的实现方式中，所述封装信息包括封装高度以及封装面积，所述目标区域信息包括区域面积以及区域限制高度；所述根据所述封装信息和所述目标区域信息，对所述PCB板上的元件布局进行校验，包括：根据所述目标区域信息将所述PCB板上板框划分为至少两个目标区域；根据各个所述目标区域的区域限制高度和各个所述目标元件的所述封装高度，分别确定需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件；根据各个所述目标区域的所述区域面积和需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件的封装面积，对所述PCB板上的元件布局进行校验。在一种可选的实现方式中，根据各个所述目标区域的所述区域面积和需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件的封装面积，对所述PCB板上的元件布局进行校验，包括：分别计算需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件的封装面积的总和，得到各个所述目标区域的封装面积总和；将各个所述目标区域对应的所述区域面积与各个所述目标区域各自对应的所述封装面积总和进行比较；若所有所述目标区域对应的所述区域面积均大于或等于每个所述目标区域各自对应的所述封装面积总和，则确定对所述PCB板上的元件布局校验通过；若有任一所述目标区域对应的所述区域面积小于该目标区域对应的所述封装面积总和，则确定对所述PCB板上的元件布局校验不通过。在一种可选的实现方式中，所述根据所述目标区域信息将所述PCB板上板框划分为至少两个目标区域，包括：根据所述目标区域的区域限制高度，将所述PCB板上板框划分为至少两个目标区域。在一种可选的实现方式中，所述从所述第一文件中获取目标原理图的所有所述目标元件的封装信息，包括：根据所述目标元件的封装名称从所述第一文件中获取所有所述目标元件的封装信息。本申请实施例第二方面提供一种PCB元件布局校验装置，包括：第一获取模块，用于获取目标原理图的所有目标元件的封装信息，所述目标原理图为根据PCB板上的元件结构设计的原理图，所述目标元件为所述PCB板上的元件，所述封装信息为所述目标元件的尺寸信息；第二获取模块，用于获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息，所述目标区域信息为限高区域的区域信息；校验模块，用于根据所述封装信息和所述目标区域信息，对所述PCB板上的元件布局进行校验。在一种可选的实现方式中，还包括：第三获取模块，用于获取PCB封装库里不同PCB板上每个元件的封装信息；第一保存模块，用于将所述封装信息保存至所述第一文件中；对应地，所述第一获取模块具体用于：从所述第一文件中获取目标原理图的所有所述目标元件的封装信息。在一种可选的实现方式中，还包括：导入模块，用于将所述PCB板导入预设的测量软件进行目标区域信息测量，得到所有所述目标区域信息；第二保存模块，用于将所有所述目标区域信息保存至所述第二文件中；对应地，所述第二获取模块具体用于：从所述第二文件中获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息。在一种可选的实现方式中，所述封装信息包括封装高度以及封装面积，所述目标区域信息包括区域面积以及区域限制高度；所述校验模块，包括：划分单元，用于根据所述目标区域信息将所述PCB板上板框划分为至少两个目标区域；确定单元，用于根据各个所述目标区域的区域限制高度和各个所述目标元件的所述封装高度，分别确定需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件；校验单元，用于根据各个所述目标区域的所述区域面积和需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件的封装面积，对所述PCB板上的元件布局进行校验。在一种可选的实现方式中，所述校验单元，包括：计算子单元，用于分别计算需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件的封装面积的总和，得到各个所述目标区域的封装面积总和；比较子单元，用于将各个所述目标区域对应的所述区域面积与各个所述目标区域各自对应的所述封装面积总和进行比较；第一确定子单元，用于在若所有所述目标区域对应的所述区域面积均大于或等于每个所述目标区域各自对应的所述封装面积总和，则确定对所述PCB板上的元件布局校验通过；第二确定子单元，用于在若有任一所述目标区域对应的所述区域面积小于该目标区域对应的所述封装面积总和，则确定对所述PCB板上的元件布局校验不通过。在一种可选的实现方式中，所述划分单元具体用于：根据所述目标区域的区域限制高度，将所述PCB板上板框划分为至少两个目标区域。在一种可选的实现方式中，所述第一获取模块具体用于：根据所述目标元件的封装名称从所述第一文件中获取所有所述目标元件的封装信息。本申请实施例第三方面提供一种服务器，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种PCB元件布局校验方法，其特征在于，包括：/n获取目标原理图的所有目标元件的封装信息，所述目标原理图为根据PCB板上的元件结构设计的原理图，所述目标元件为所述PCB板上的元件，所述封装信息为所述目标元件的尺寸信息；/n获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息，所述目标区域信息为限高区域的区域信息；/n根据所述封装信息和所述目标区域信息，对所述PCB板上的元件布局进行校验。/n

【技术特征摘要】
1.一种PCB元件布局校验方法，其特征在于，包括：
获取目标原理图的所有目标元件的封装信息，所述目标原理图为根据PCB板上的元件结构设计的原理图，所述目标元件为所述PCB板上的元件，所述封装信息为所述目标元件的尺寸信息；
获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息，所述目标区域信息为限高区域的区域信息；
根据所述封装信息和所述目标区域信息，对所述PCB板上的元件布局进行校验。


2.如权利要求1所述的PCB元件布局校验方法，其特征在于，在所述获取目标原理图的所有目标元件的封装信息之前，包括：
获取PCB封装库里不同PCB板上每个元件的封装信息；
将所述封装信息保存至第一文件中；
对应地，所述获取目标原理图的所有目标元件的封装信息，包括：
从所述第一文件中获取目标原理图的所有所述目标元件的封装信息。


3.如权利要求2所述的PCB元件布局校验方法，其特征在于，在所述获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息之前，包括：
将所述PCB板导入预设的测量软件进行目标区域信息测量，得到所有所述目标区域信息；
将所有所述目标区域信息保存至第二文件中；
对应地，所述获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息，包括：
从所述第二文件中获取所述PCB板上板框的所有目标区域信息。


4.如权利要求3所述的PCB元件布局校验方法，其特征在于，所述封装信息包括封装高度以及封装面积，所述目标区域信息包括区域面积以及区域限制高度；
所述根据所述封装信息和所述目标区域信息，对所述PCB板上的元件布局进行校验，包括：
根据所述目标区域信息将所述PCB板上板框划分为至少两个目标区域；
根据各个所述目标区域的区域限制高度和各个所述目标元件的所述封装高度，分别确定需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件；
根据各个所述目标区域的所述区域面积和需要封装在各个所述目标区域的所有所述目标元件的封装面积，对所述PCB板上的元件布局进行校验。


5.如权利要求4所述的PCB元件布局校验方法，其特征在于，根据各个所述目标区域的所述区域面积和需要封装在各个所述目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘新，廖义奎，
申请(专利权)人：深圳市元征科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44