【技术实现步骤摘要】
半导体器件及包括其的半导体系统相关申请的交叉引用本申请要求在2018年11月15日提交的申请号为10-2018-0140759的韩国专利申请的优先权，其公开内容通过引用整体合并于此。
本公开的实施例涉及执行错误校验操作的半导体器件以及包括执行错误校验操作的半导体器件的半导体系统。
技术介绍
最近，已经在使用用于在时钟的每个时钟周期期间接收或输出多比特位数据的各种设计方案来提高半导体器件的操作速度。如果半导体器件的数据传输速度变得更快，则当在半导体器件中传输数据时，错误出现的概率可能增大。因此，可能需要先进的设计技术来促进数据的可靠传输。每当在半导体器件中传输数据时，能够检测错误出现的错误代码可以产生并且与数据一起传输，以提高数据传输的可靠性。错误代码可以包括能够检测错误的循环冗余校验和错误检测码(EDC)以及能够校正错误的错误校正码(ECC)。
技术实现思路
根据一个实施例，提供了一种半导体系统。该半导体系统包括第一半导体器件和第二半导体器件。第一半导体器件被配置为输出错误校验使能...
【技术保护点】
1.一种半导体系统，包括：/n第一半导体器件，被配置为输出错误校验使能信号、输入时钟信号和输入数据，并被配置为接收错误校验信号；以及/n第二半导体器件，被配置为：基于所述错误校验使能信号和所述输入时钟信号来对所述输入数据执行错误校验操作，以产生所述错误校验信号，/n其中，当在所述输入数据中错误出现少于第一预定次数时，所述错误校验信号被使能，以及/n其中，当在所述输入数据中错误出现第一预定次数或更多次数时，所述错误校验信号被禁止。/n
【技术特征摘要】
20181115 KR 10-2018-01407591.一种半导体系统，包括：
第一半导体器件，被配置为输出错误校验使能信号、输入时钟信号和输入数据，并被配置为接收错误校验信号；以及
第二半导体器件，被配置为：基于所述错误校验使能信号和所述输入时钟信号来对所述输入数据执行错误校验操作，以产生所述错误校验信号，
其中，当在所述输入数据中错误出现少于第一预定次数时，所述错误校验信号被使能，以及
其中，当在所述输入数据中错误出现第一预定次数或更多次数时，所述错误校验信号被禁止。
2.如权利要求1所述的半导体系统，其中，当所述错误校验信号被使能时，所述第一半导体器件阻止用于执行所述错误校验操作的所述错误校验使能信号、所述输入时钟信号和所述输入数据被输出。
3.如权利要求1所述的半导体系统，其中，所述第二半导体器件包括：
存储电路，被配置为储存所述输入数据，并且被配置为产生错误检测信号，所述错误检测信号在所述输入数据中出现错误时被使能；以及
错误校验电路，被配置为：基于所述错误校验使能信号和所述输入时钟信号来执行所述错误校验操作，以根据所述错误检测信号已产生的次数而产生所述错误校验信号。
4.如权利要求3所述的半导体系统，其中，所述错误校验电路包括：
控制电路，被配置为产生容限控制信号和窗口控制信号，所述容限控制信号和窗口控制信号在第一模式信号被输入并且所述错误校验使能信号和所述错误检测信号两者都被使能时基于所述输入时钟信号而被使能，并且被配置为产生窗口复位信号，所述窗口复位信号在所述第一模式信号、第二模式信号和容限复位信号中的任意一个被使能时被使能；
标志信号发生电路，被配置为在所述窗口复位信号被使能时设定第一初始值，被配置为产生错误标志信号，所述错误标志信号在所述容限控制信号从所述第一初始值开始被输入所述第一预定次数或更多次数时被使能，并且被配置为：根据模式改变信号、传输控制信号、所述第一模式信号和第三模式信号而产生所述容限复位信号，所述容限复位信号在所述窗口控制信号被输入第二预定次数时被使能；以及
错误校验信号发生电路，被配置为：根据所述错误标志信号而将所述错误检测信号输出作为所述错误校验信号或者阻止所述错误检测信号被输出，并且被配置为根据所述模式改变信号和所述错误标志信号来产生所述传输控制信号。
5.如权利要求4所述的半导体系统，其中，所述控制电路包括：
延迟电路，被配置为延迟所述输入时钟信号以产生延迟时钟信号；
第一逻辑电路，被配置为：当所述错误校验使能信号被使能时，从所述延迟时钟信号产生所述窗口控制信号；
第二逻辑电路，被配置为：根据所述错误检测信号、所述第一模式信号和所述错误标志信号，从所述延迟时钟信号产生所述容限控制信号；以及
第三逻辑电路，被配置为产生所述窗口复位信号，所述窗口复位信号在所述第一模式信号、所述第二模式信号和所述容限复位信号中的任意一个被使能时被使能。
6.如权利要求4所述的半导体系统，其中，所述标志信号发生电路包括：
窗口计数信号发生电路，被配置为产生窗口计数信号，所述窗口计数信号在所述窗口复位信号被使能时由窗口设定信号设定为具有所述第一初始值，并且所述窗口计数信号在所述窗口控制信号被输入到所述窗口计数信号发生电路时从所述第一初始值开始被顺序地计数；
容限复位信号发生电路，被配置为：根据所述模式改变信号、所述传输控制信号、所述第一模式信号和所述第三模式信号而产生所述容限复位信号，所述容限复位信号在所述窗口计数信号被计数所述第二预定次数时被使能；以及
错误标志信号发生电路，被配置为产生容限计数信号，所述容限计数信号在所述容限复位信号被使能时由容限设定信号设定为具有第二初始值，并且被配置为从所述容限计数信号产生所述错误标志信号，所述容限计数信号在所述容限控制信号被输入到所述错误标志信号发生电路时从所述第二初始值开始被顺序地计数。
7.如权利要求6所述的半导体系统，其中，所述窗口计数信号发生电路包括：
第一缓冲器，被配置为反相缓冲所述窗口复位信号以产生反相窗口复位信号；
第一初始值设定电路，被配置为产生第一初始值设定信号，所述第一初始值设定信号在所述窗口复位信号和所述反相窗口复位信号被使能时由所述窗口设定信号设定为具有所述第一初始值；以及
第一计数器，被配置为产生所述窗口计数信号，所述窗口计数信号在所述第一计数器被设定为具有所述第一初始值之后输入所述窗口控制信号时被顺序地计数，所述第一初始值对应于与所述第一初始值设定信号相同的逻辑电平组合。
8.如权利要求6所述的半导体系统，其中，所述容限复位信号发生电路包括：
比较信号发生电路，被配置为产生比较信号，所述比较信号在所述窗口计数信号被计数所述第二预定次数时被使能；
第一传输信号发生电路，被配置为：当所述模式改变信号被禁止时，缓冲所述比较信号以产生第一传输信号；
第二传输信号发生电路，被配置为：当所述传输控制信号被使能时，缓冲所述第一传输信号以产生第二传输信号；以及
第四逻辑电路，被配置为产生容限复位信号，所述容限复位信号在所述第二传输信号、所述第一模式信号和所述第三模式信号中的任意一个被使能时被使能。
9.如权利要求6所述的半导体系统，其中，所述错误标志信号发生电路包括：
第二缓冲器，被配置为反相缓冲所述容限复位信号以产生反相容限复位信号；
第二初始值设定电路，被配置为产生第二初始值设定信号，所述第二初始值设定信号在所述容限复位信号和所述反相容限复位信号被使能时由所述容限设定信号设定为具有所述第二初始值；以及
第二计数器，被配置为从所述容限计数信号产生所述错误标志信号，所述容限计数信号在所述第二计数器被设定为具有所述第二初始值之后输入所述容限控制信号时被顺序地计数，所述第二初始值对应于与所述第二初始值设定信号相同的逻辑电平组合。
10.如权利要求4所述的半导体系统，其中，所述错误校验信号发生电路包括：
内部脉冲发生电路，被配置为产生包括脉冲的内部脉冲，所述脉冲在所述错误标志信号被输入时被创建；
传输控制信号发生电路，被配置为产生所述传输控制信号，所述传输控制信号在所述模式改变信号被输入时被使能而在所述内部脉冲被输入时被禁止；以及
信号输出电路，被配置为：根据所述传输控制信号，将所述错误检测信号输出作为所述错误校验信号或者阻止所述错误检测信号被输出。
11.一种半导体系统，包括：
第一半导体器件，被配置为输出第一错误校验使能信号、第二错误校验使能信号、第一输入时钟信号、第二输入时钟信号、第一输入数据和第二输入数据，并且被配置为接收第一错误校验信号和第二错误校验信号；
第二半导体器件，被配置为：当所述第一错误校验使能信号和所述第一输入时钟信号被输入到所述第二半导体器件时，对所述第一输入数据执行第一错误校验操作以产生所述第一错误校验信号；以及
第三半导体器件，被配置为：当所述第二错误校验使能信号和所述第二输入时钟信号被输入到所述第三半导体器件时，对所述第二输入数据执行第二错误校验操作以产生所述第二错误校验信号，
其中，独立地执行所述第一错误校验操作和所述第二错误校验操作。
12.如权利要求11所述的半导体系统，
其中，当在所述第一输入数据中错误出现预定次数或更多次数时，所述第一错误校验信号被禁止；以及
其中，当在所述第二输入数据中错误出现所述预定次数或更多次数时，所述第二错误校验信号被禁止。
13.如权利要求11所述的半导体系统，
其中，当所述第一错误校验信号被使能时，所述第一半导体器件阻止用于执行所述第一错误校验操作的所述第一错误校验使能信号、所述第一输入时钟信号和所述第一输入数据被输出；以及
其中，当所述第二错误校验信号被使能时，所述第一半导体器件阻止用于执行所述第二错误校验操作的所述第二错误校验使能信号、所述第二输入时钟信号和所述第二输入数据被输出。
14.如权利要求11所述的半导体系统，其中，所述第二半导体器件包括：
第一存储电路，被配置为储存所述第一输入数据，并且被配置为产生第一错误检测信号，所述第一错误检测信号在所述第一个输入数据中出现错误时被使能；以及
第一错误校验电路，被配置为：基于所述第一错误校验使能信号和所述第一输入时钟信号来执行所述第一错误校验操作，以根据所述第一错误检测信号已产生的次数而产生所述第一错误校验信号。
15.如权利要求14所述的半导体系统，其中，所述第一错误校验电路包括：<...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔善明，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR
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