一种测芯棒端面平整度的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例提供了一种测芯棒端面平整度的测量装置，属于平整度测量技术领域，所述测量装置包括：底座，所述底座的上端面为一倾斜面，且所述倾斜面可支撑一直线排列的芯棒；限位组件，所述限位组件设置在所述底座的上方；所述限位组件包括：框架；伸缩缸，所述伸缩缸设置在所述框架上；压板；以及限位杆；测量组件，所述测量组件设置在所述底座的侧面，且所述测量组件包括千分表，所述千分表对应所述底座的一侧，用于测量芯棒的端面；其中，所述压板同步作用在多根所述限位杆上，并通过多根所述限位杆使一直线排列的芯棒被隔离开。达到千分表固定设置，芯棒运动到千分表检测工位的技术效果。

A measuring device for measuring the flatness of the end face of the mandrel

【技术实现步骤摘要】
一种测芯棒端面平整度的测量装置
本技术涉及平整度测量
，尤其涉及一种测芯棒端面平整度的测量装置。
技术介绍
目前在对芯棒端面平整度测量时，需要拿着千分表对每个芯棒端面进行测量。在对每个芯棒测量前，需要先进行一个校准位置的操作，校准位置关系到测量结果是否精准，十分重要。但是校准费时，导致芯棒测量现阶段采用抽样检测的方式在进行。无法保证生产的每根芯棒的品质。所以，现有技术的技术问题在于：拿千分表去逐一检测芯棒端面需要校准，校准费时。
技术实现思路
本申请实施例提供一种测芯棒端面平整度的测量装置，解决了现有技术中拿千分表去逐一检测芯棒端面需要校准，校准费时的技术问题；达到千分表固定设置，芯棒运动到千分表检测工位的技术效果。本申请实施例提供一种测芯棒端面平整度的测量装置，所述测量装置包括：底座，所述底座的上端面为一倾斜面，且所述倾斜面可支撑一直线排列的芯棒；限位组件，所述限位组件设置在所述底座的上方；所述限位组件包括：框架；伸缩缸，所述伸缩缸设置在所述框架上；压板，所述压板设置在所述伸缩缸上，随伸缩缸运本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测芯棒端面平整度的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：/n底座，所述底座的上端面为一倾斜面，且所述倾斜面可支撑一直线排列的芯棒；/n限位组件，所述限位组件设置在所述底座的上方；所述限位组件包括：/n框架；/n伸缩缸，所述伸缩缸设置在所述框架上；/n压板，所述压板设置在所述伸缩缸上，随伸缩缸运动；以及/n限位杆，设置有多根，间隔设置，所述限位杆竖向设置在所述框架上，且位于所述压板的下方；测量组件，所述测量组件设置在所述底座的侧面，且所述测量组件包括千分表，所述千分表对应所述底座的一侧，用于测量芯棒的端面；其中，所述压板同步作用在多根所述限位杆上，并通过多根所述限位杆使一直线排列的芯棒...

【技术特征摘要】
1.一种测芯棒端面平整度的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：
底座，所述底座的上端面为一倾斜面，且所述倾斜面可支撑一直线排列的芯棒；
限位组件，所述限位组件设置在所述底座的上方；所述限位组件包括：
框架；
伸缩缸，所述伸缩缸设置在所述框架上；
压板，所述压板设置在所述伸缩缸上，随伸缩缸运动；以及
限位杆，设置有多根，间隔设置，所述限位杆竖向设置在所述框架上，且位于所述压板的下方；测量组件，所述测量组件设置在所述底座的侧面，且所述测量组件包括千分表，所述千分表对应所述底座的一侧，用于测量芯棒的端面；其中，所述压板同步作用在多根所述限位杆上，并通过多根所述限位杆使一直线排列的芯棒被隔离开。


2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述压板的下端面具有压板凸楞，所述压板凸楞设置有多个，且相邻的压板凸楞为对向放置。


3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述压板凸楞的底边线为一条曲线，所述曲线高低错...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏仲镔，陈栋高，章泽军，
申请(专利权)人：浙江科成电气有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33