一种防止EOS损伤的二级电路保护电路制造技术

技术编号:24214095 阅读:86 留言:0更新日期:2020-05-20 18:15
本发明专利技术公开了一种防止EOS损伤的二级电路保护电路,第一MOS管的源极连接电源输入端,第一MOS管的漏极和第二MOS管的漏极相连并都与第三MOS管的栅极相连,第一MOS管的栅极和第二MOS管的栅极相连并都连接在第一电阻和第一电容之间;第二电阻和第二电容并联后一端连接电源输入端,另一端与第三MOS管的漏极相连;第一倒相放大器的输入端与第三MOS管的漏极相连,第一倒相放大器的输出端与第二倒相放大器的输入端连接,第二倒相放大器的输出端与第四MOS管的栅极连接;第三电容一端连接在第二倒相放大器的输出端与第四MOS管的栅极之间,另一端接地。本发明专利技术能保护二级电路不受到快速上升的EOS能量损坏,提高电路运行稳定性,减少因EOS导致的电路不良,提升客户使用体验。

A secondary circuit protection circuit to prevent EOS damage

【技术实现步骤摘要】
一种防止EOS损伤的二级电路保护电路
本专利技术涉及电路保护
,尤其涉及一种防止EOS损伤的二级电路保护电路。
技术介绍
EOS的英文全称为ElectricalOverStress,是对所有的过度电性应力的总称。当EOS超过其最大指定极限后,器件功能会减弱或损坏,同时EOS也是公认的IC器件的头号杀手。由于它可能发生在产品的研发、测试乃至生产、存储、运输的各个环节,所以对厂商的电路设计,测试规范,生产流程以及物流中防护都有严格具体的要求,每年耗费整个半导体行业数十亿美金的资金。在实际进行EOS防护时,我们通常都会在接口位置设置大量的EOS防护电路,如TVS\OVP,或者串联电阻,这样能达到防护的目的。但是让人失望的是,不管我们怎么进行EOS防护,每年因为EOS导致的电路不良,都高居售后退机部门的客退原因榜首。究其原因,我们发现,因EOS导致电路不良的客退机中,大多数主要都是因为二级电路被EOS击伤,导致功能不良,从而需要退机。目前,现有技术中的电路设计里并没有专门针对二级电路的保护电路设计。专利
技术实现思路
本专本文档来自技高网
...

【技术保护点】
1.一种防止EOS损伤的二级电路保护电路,其特征在于,包括第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第一倒相放大器和第二倒相放大器;其中,/n所述第一MOS管的源极连接电源输入端,所述第一MOS管的漏极和所述第二MOS管的漏极相连并都与所述第三MOS管的栅极相连,所述第一MOS管的栅极和所述第二MOS管的栅极相连并都连接在所述第一电阻和所述第一电容之间,所述第一电阻连接电源输入端,所述第一电容接地,所述第二MOS管的源极接地;/n所述第二电阻和所述第二电容并联后一端连接电源输入端,另一端与所述第三MOS管的漏极相连,所述第三MOS...

【技术特征摘要】
1.一种防止EOS损伤的二级电路保护电路,其特征在于,包括第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第一倒相放大器和第二倒相放大器;其中,
所述第一MOS管的源极连接电源输入端,所述第一MOS管的漏极和所述第二MOS管的漏极相连并都与所述第三MOS管的栅极相连,所述第一MOS管的栅极和所述第二MOS管的栅极相连并都连接在所述第一电阻和所述第一电容之间,所述第一电阻连接电源输入端,所述第一电容接地,所述第二MOS管的源极接地;
所述第二电阻和所述第二电容并联后一端连接电源输入端,另一端与所述第三MOS管的漏极相连,所述第三MOS管的源极接地;
所述第一倒相放大器的输入端与所述第三MOS管的漏极相连,所述第一倒相放大器的输出端与所述第二倒相放大器的输入端连接,所述第二倒相放...

【专利技术属性】
技术研发人员:封梅泉
申请(专利权)人:华勤通讯技术有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1