【技术实现步骤摘要】
用于处理图像的方法
本专利技术涉及一种用于处理由配备有热辐射计的矩阵阵列的成像器收集的原始图像的方法。具体地，根据本专利技术的处理方法旨在校正由于成像器的热辐射计的分散特性而导致的不均匀性。本专利技术还涉及能够实施根据本专利技术的方法的所有步骤的计算机程序。本专利技术最后涉及一种包括热辐射计的成像器和实施该计算机程序的计算机。
技术介绍
现有技术中已知的红外探测器通常包括被组织成n行m列矩阵阵列的热辐射计。当这些对场景温度敏感的热辐射计为了获取图像而暴露在场景中时，它们会感受到它们的电阻变化。换句话说，流经每个热辐射计的电流取决于场景的温度，也取决于环境温度。具体地，对热辐射计的矩阵阵列中的热辐射计Bpix_(i,j)的测量Sp(i,j)根据以下关系而变化：其中：-Tamb是环境温度，尤其是成像器的温度；-Tscene是热辐射计感受到的场景温度，-Resp(Tamb)是热辐射计的响应度，该响应度取决于环境温度；-S0,Tamb是场景温度等...
【技术保护点】
1.一种用于处理原始图像的方法，该原始图像由与成像器(1)的有源热辐射计B
【技术特征摘要】
20181109 FR 18603961.一种用于处理原始图像的方法，该原始图像由与成像器(1)的有源热辐射计Bpix_(i,j)相关联的原始测量Sp(i,j)表征，所述有源热辐射计以n行(Li)和m列(Cj)的矩阵阵列布置，成像器(1)处于环境温度Tamb下并且还包括盲热辐射计Bb_(k)，每个盲热辐射计Bb_(k)用于特定于所述盲热辐射计的至少一列热辐射计的有源热辐射计Bpix_(i,j)的差动测量，每个盲热辐射计Bb_(k)有利地与单列(Cj)有源热辐射计Bpix_(i,j)相关联，所述方法由配备有存储器的计算机(4)执行，所述方法包括以下步骤：
a)根据参考温度Tr下有源热辐射计和盲热辐射计各自的电阻RTr(i,j)和RTr(k)分别计算它们在温度Tamb下的电阻RTamb(i,j)和RTamb(k)的步骤，所述电阻存储在存储器中；
b)根据步骤a)中计算的电阻和根据原始测量Sp(i,j)确定由每个有源热辐射计Bpix_(i,j)实际测量的温度Tsc(i,j)的步骤。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，在温度Tamb下计算电阻RTamb(i,j)和RTamb(k)的步骤a)是基于激活能Ea来执行的，所述激活能Ea表示形成有源热辐射计Bpix_(i,j)和盲热辐射计Bb_(k)中的每一个的材料。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述电阻RTamb(i,j)和RTamb(k)使用以下关系计算：
和
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，由有源热辐射计Bpix_(i,j)实际测量的温度Tsc(i,j)遵循以下关系：
其中：
-Resp(Tamb,i,j)是热辐射计的响应度；
-S0,Tamb(i,j)是实际测量温度等于环境温度时由有源热辐射计Bpix_(i,j)输出的值。
5.根据权利要求4的方法，其中，在实际测量温度等于环境温度时，与列(Cj)的有源热辐射计Bpix_(i,j)相关联的值S0,Tamb(i,j)取决于分别能够流经所述有源热辐射计Bpix_(i,j)的电流I0,pix(i,j)和能...
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