一种匀速三维连续插补激光检测方法技术

技术编号:24165412 阅读:35 留言:0更新日期:2020-05-16 01:19
本发明专利技术系提供一种匀速三维连续插补激光检测方法,包括以下步骤:路线规划:设计激光检测器的检测路线为依次经过检测起点P

【技术实现步骤摘要】
一种匀速三维连续插补激光检测方法
本专利技术涉及激光检测领域,具体公开了一种匀速三维连续插补激光检测方法。
技术介绍
产品出产前一般都需要进行外观检测,以确保出产后产品的表面无缺陷且符合市场需求。外观检测主要包括两种,第一种为非接触式检测,如激光检测,第二种为接触式检测,如探针检测,接触式检测的效率低,且检测过程中容易对产品造成损伤。激光检测一般通过三坐标驱动的激光检测仪完成,现有技术中,激光检测仪是直接通过控制卡控制激光检测器按设定好的路线逐步移动到各个检测点,移动过程中,每到达一个检测点,激光检测器都需要停顿进行检测,而后再运动到下一个检测点进行检测,检测速度慢,检测效率低,此外,激光检测器的运动都是直接从一个检测点一步运动到另一个检测点,激光检测器的移动位置与检测点位置容易出现偏差,定位效果不佳,从而影响检测结果的可靠性。
技术实现思路
基于此,有必要针对现有技术问题,提供一种匀速三维连续插补激光检测方法,通过连续插补的方式驱动检测,能够有效提高检测精度以及检测效率。为解决现有技术问题,本专利技术公开一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种匀速三维连续插补激光检测方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1、路线规划:通过计算机设计激光检测器的检测路线为依次经过检测起点P

【技术特征摘要】
1.一种匀速三维连续插补激光检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、路线规划:通过计算机设计激光检测器的检测路线为依次经过检测起点P0、各个检测点P1~Pn和检测终点Pn+1,n为大于0的整数,令增量轴为比较轴、其余轴为逼近定位轴;
S2、三维连续插补检测:设增量轴为x轴,控制卡驱动激光检测器从P0连续前进到Pn+1的运动过程为:从P’0(x’0,y’0,z’0)到达P0(x0,y0,z0)再到达各个Pi(xi,yi,zi),最后从Pn+1(xn+1,yn+1,zn+1)到达P’n+1(x’n+1,y’n+1,z’n+1),相邻两个检测点之间的运动过程为:Pi-1(xi-1,yi-1,zi-1)经过P’i(x’i,y’i,z’i)再到Pi(xi,yi,zi),其中,i∈[1,n],i∈Z,x’0<x0<xi-1<x’i<xi<xn+1<x’n+1,y’0=y0<yi-1<y’i=yi<yn+1=y’n+1,z’0=z0<zi-1<z’i=zi<zn+1=z’n+1,控制卡将运动过程中激光检测器的瞬时比较轴数值x与各个检测点的比较轴数值xi进行比较,当x=x0、xi或xn+1时,控制卡触发激光检测器曝光检测并锁存该时刻的检测数据为检测结果,检测过程中,激光检测器到检测对象表面之间的高度差为△z,激光检测器的有效测量距离为D,D>△z;
S3、检测结果:激光检测器完成对P0~Pn+1共n+2个点的数据进行检测后,激光检测器将n+2个检测结果上传到计算机后结束检测。


2.根据权利要求1所述的一种匀速三维连续插补激光检测方法,其特征在于,步骤S2中,Pi-1(xi-1,yi-1)到P’i...

【专利技术属性】
技术研发人员:陆游
申请(专利权)人:东莞市兆丰精密仪器有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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