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一种微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法制造方法及图纸

技术编号:24164772 阅读:56 留言:0更新日期:2020-05-16 01:08
本发明专利技术涉及X射线检测技术,具体涉及一种微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法,该装置包括电子产品样品,包括冲击实验机和高速X射线成像系统;冲击实验机包括电磁释放器、测速装置、缓冲装置、基座、夹具、两条导轨和冲击板;X射线成像系统包括X射线发生装置、图像增强器、CCD相机、图像采集装置和数据分析装置;X射线发生装置正对电子产品样品;图像增强器与X射线发生装置处于同一直线;CCD相机依次连接图像采集装置、数据分析装置。该装置采用高速X射线技术实时监测经跌落冲击后电子产品失效点的分布,能够及时发现不合格的失效产品,也为产品零部件材料的选择,外形设计方面提供可靠的参考,从而提高产品合格率,降低生产成本。

A real-time monitoring device and method for drop damage of microelectronic products

【技术实现步骤摘要】
一种微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法
本专利技术属于X射线检测
,尤其涉及一种微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法。
技术介绍
近些年来,伴随着数字化时代的快速发展,电子产品在现代社会的生产、生活中发挥着越来越重要的作用,已经成为各个领域中必不可少的一部分,同时电子产品又代表了现代科学技术的发展水平,就目前的消费市场而言,电子产品的消费已经占据了市场的很大一部分。电子产品未来的发展趋势有以下几个特点:发展的速度越来越快、体积越来越小、价格越来越低、功能越来越强大、更智能化等等,基于以上特点,大众对其相当青睐,在使用电子产品时,经常出现意外跌落的情况,这就需要研究电子产品在受到跌落冲击后的抗破坏的能力。据大量调研数据表明,有超过80%的产品损坏是因为跌落或碰撞直接或间接导致损坏的,确切地说,跌落冲击是损坏产品最主要的因素之一。在电子行业中,为了保证电子产品的抗冲击性能,一般要求产品通过某种通用的标准测试。适用的标准有,美国实验与材料协会(AmericanSoci-etyforTestingandMaterials,ASTM)提供本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微电子产品跌落损伤实时监测装置,包括电子产品样品,其特征是,包括冲击实验机和高速X射线成像系统;冲击实验机包括电磁释放器、测速装置、缓冲装置、基座、夹具、两条导轨和冲击板;两条导轨一端分别安装在基座上,两条导轨的另一端与顶部横梁垂直连接,冲击板安装于基座上面,缓冲装置分别安装于基座上方两条导轨上,测速装置设置于一条导轨中部两点之间,电磁释放器设置在顶部横梁上与夹具固联,夹具与两条导轨滑动接触;电子产品样品采用两条短柔性纤维绳和一条长度与导轨长度一致的柔性纤维绳固定,安装姿态为面跌落;X射线成像系统包括X射线发生装置、图像增强器、CCD相机、图像采集装置和数据分析装置;X射线发生装置正对...

【技术特征摘要】
1.一种微电子产品跌落损伤实时监测装置,包括电子产品样品,其特征是,包括冲击实验机和高速X射线成像系统;冲击实验机包括电磁释放器、测速装置、缓冲装置、基座、夹具、两条导轨和冲击板;两条导轨一端分别安装在基座上,两条导轨的另一端与顶部横梁垂直连接,冲击板安装于基座上面,缓冲装置分别安装于基座上方两条导轨上,测速装置设置于一条导轨中部两点之间,电磁释放器设置在顶部横梁上与夹具固联,夹具与两条导轨滑动接触;电子产品样品采用两条短柔性纤维绳和一条长度与导轨长度一致的柔性纤维绳固定,安装姿态为面跌落;X射线成像系统包括X射线发生装置、图像增强器、CCD相机、图像采集装置和数据分析装置;X射线发生装置正对电子产品样品;图像增强器与X射线发生装置处于同一直线;CCD相机依次连接图像采集装置、数据分析装置。


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【专利技术属性】
技术研发人员:陈志文刘胜冯铮徐国粮马坤王立成杨凡刘俐
申请(专利权)人:武汉大学
类型:发明
国别省市:湖北;42

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