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本发明涉及X射线检测技术，具体涉及一种微电子产品跌落损伤实时监测装置及方法，该装置包括电子产品样品，包括冲击实验机和高速X射线成像系统；冲击实验机包括电磁释放器、测速装置、缓冲装置、基座、夹具、两条导轨和冲击板；X射线成像系统包括X射线发生...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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