【技术实现步骤摘要】
磷化铟晶棒裁切衬底晶圆片的方法
本专利技术属于冶金
,涉及磷化铟晶片的制备,具体涉及将磷化铟晶体裁切成衬底晶圆片的方法。
技术介绍
InP是一种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料,因其具有优异的运输特性,较高的迁移率,特殊的光电性能以及优异的抗辐射性能,而在高频电子器件(如HEMT、HBT等)、5G通讯、光纤通讯以及抗辐射太阳能电池领域有着广泛的应用。但是,目前,InP单晶衬底材料的价格居高不下,其大面积应用推广受到价格的限制。InP单晶衬底材料价格居高不下的主要原因是,InP单晶生长的成品率低。孪晶现象是影响InP单晶成品率的最大因素。InP在Ⅲ-Ⅴ族半导体材料中拥有最低的层错能,在生长过程中极易在<111>面上产生原子堆垛错位,从而产生孪晶和夹晶。孪晶和夹晶往往是贯穿性的,并且沿着一定的倾斜角度,如图1所示。该InP晶体半导体晶棒有一个内砍孪晶线。Ⅲ-Ⅴ族半导体中孪晶多为旋转孪晶,即孪晶部分沿着{111}面法线轴线旋转180度。图中指示出了<100>晶向的正晶向部分1、<221>晶向的转晶向部分 ...
【技术保护点】
1.一种磷化铟晶体裁切衬底晶圆片的方法,其特征在于包括以下步骤:/n1)定向:将晶棒切割头尾,调整晶棒方位试切,至切割出所需晶向的晶片,切割端面为定向端面;/n2)多线切割:在多线切割设备上,平行于定向端面分割晶棒为晶片;/n3)清洗:清洗晶片,至表面无残渣、无污物;/n4)割圆:对晶片进行割圆,裁取所需晶向区域。/n
【技术特征摘要】
1.一种磷化铟晶体裁切衬底晶圆片的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)定向:将晶棒切割头尾,调整晶棒方位试切,至切割出所需晶向的晶片,切割端面为定向端面;
2)多线切割:在多线切割设备上,平行于定向端面分割晶棒为晶片;
3)清洗:清洗晶片,至表面无残渣、无污物;
4)割圆:对晶片进行割圆,裁取所需晶向区域。
2.根据权利要求1所述的磷化铟晶体裁切衬底晶圆片的方法,其特征在于:所述步骤1)中,定向端面与所需晶向的平行度误差为±0.02°。
3.根据权利要求2所述的磷化铟晶体裁切衬底晶圆片的方法,其特征在于:所述步骤2)中,切割钢线与晶棒定向端面平行。
4.根据权利要求1所述的磷化铟晶体裁切衬底晶圆片的方法,其特征在于:所述步骤1)和2)中,晶棒粘结在载料板上,载料板具有与晶棒侧缘形状适配的放置槽。
5.根据权利要求4所述的磷化铟晶...
【专利技术属性】
技术研发人员:史艳磊,孙聂枫,王书杰,赵红飞,李亚旗,付莉杰,王阳,李晓岚,邵会民,刘惠生,姜剑,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第十三研究所,
类型:发明
国别省市:河北;13
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