一种产线射频耦合测试屏蔽箱制造技术

本实用新型专利技术公开了一种产线射频耦合测试屏蔽箱，其在测试腔室的后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁分别设有至少一个所述测试天线，使测试天线整体实现了一个测试箱体的内部纵切面的形成完整均匀采样，从而在转产换机型时，无须根据机型调整测试天线的位置，具有如下有益效果：1、转产换机型，无须调整测试天线的位置，相应的转产时间短，效率高；2、测试天线的位置无须调整，整线一致性高，不易出现误判、功率不准或者天线缺陷未检出等问题，相应的准确性和重复性更高，测试结果更接近标准暗室结果，更能准确地判断出不良品，从而大幅降低不良品出货并导致品质客诉的机率；3、相应的维护成本低，降低对维护技术人员的需求量。

A shielding box for production line RF coupling test

【技术实现步骤摘要】
一种产线射频耦合测试屏蔽箱
本技术涉及耦合测试
，特别涉及一种产线射频耦合测试屏蔽箱。
技术介绍
许多电子设备（如手机、平板电脑、电子书等）在产线上装配完成后，需要对其通信天线的通信性能进行测试。目前，产线射频耦合测试屏蔽箱（如可参见中国专利公告号为“CN207992278U”的技术专利所公开的实施方式）被广泛应用于电子设备的通信天线的测试。但现有的产线射频耦合测试屏蔽箱普遍存在如下问题：1、现有的产线耦合测试箱在转产换机型要根据机型调整测试天线位置，转产时间长，效率低；2、测试天线的位置需要人为的调整，所有机台位置很难调的一致，整线一致性差，容易出现误判，功率不准或者天线缺陷未检出等问题，从而容易导致不良品出货并导致品质客诉；3、维护成本高，需要更多维护技术人员。4、现有的产线射频耦合测试屏蔽箱主要针对4G电子设备（如4G手机）的测试，3G或4G电子设备一般只有2~4个通信天线，对应的，现有的产线射频耦合测试屏蔽箱也设计为最多只能悬挂2~4个测试天线。但随着5G时代的到来，5G电子设备上一般会配置更多（如10个以上）的通信天线，因此，现有的产线射频耦合测试屏蔽箱无法一次完成5G电子设备的测试，需通过多个（如3个）现有的产线射频耦合测试屏蔽箱分别完成5G电子设备的相应通信天线的测试，而分步完成的方式，存在测试成本高且效率低的问题。
技术实现思路
本技术的主要目的是提出一种产线射频耦合测试屏蔽箱，旨在提高测试效率和测试准确度，并降低测试成本。为实现上述目的，本技术提出了一种产线射频耦合测试屏蔽箱，包括：箱体，箱体内部限定有测试腔室；多个测试天线，所述测试腔室的后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁分别设有至少一个所述测试天线；射频控制开关，所述射频控制开关与多个所述测试天线电性连接，用于控制测试天线对射频信号的发送和接收；以及托盘，所述托盘位于测试腔室内，用于放置被测件。本技术技术方案在测试腔室的后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁分别设有至少一个所述测试天线，使测试天线整体实现了一个测试箱体的内部纵切面的形成完整均匀采样，从而在转产换机型时，无须根据机型调整测试天线的位置，具有如下有益效果：1、转产换机型，无须调整测试天线的位置，相应的转产时间短，效率高；2、测试天线的位置无须调整，整线一致性高，不易出现误判、功率不准或者天线缺陷未检出等问题，相应的准确性和重复性更高，测试结果更接近标准暗室结果，更能准确地判断出不良品，从而大幅降低不良品出货并导致品质客诉的机率；3、相应的维护成本低，降低对维护技术人员的需求量。附图说明图1为本技术的立体示意图；图2为本技术的纵向剖视图；图3为内壳隐去顶壁后，测试腔室内部的结构示意图；图4为测试天线与支架的装配示意图；图5为托盘与限位角块的配合示意图；图6为图5的A部分的放大详图。具体实施方式下面将结合附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。需要说明，若本技术实施例中有涉及方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后、顶、底、内、外、垂向、横向、纵向，逆时针、顺时针、周向、径向、轴向……），则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，若本技术实施例中有涉及“第一”或者“第二”等的描述，则该“第一”或者“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。本技术提出一种产线射频耦合测试屏蔽箱。本技术实施例中，如图1至6所示，该产线射频耦合测试屏蔽箱，包括箱体1、多个测试天线2、射频控制开关（未图示）和托盘3。其中，箱体1内部限定有可包围被测件100的测试腔室，测试腔室的内部具有后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104、底壁105和前壁106，所述测试腔室的后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105分别设有至少一个所述测试天线2，使测试天线2整体实现了一个测试箱体1的内部纵切面的形成完整均匀采样，从而在转产换机型（即被测件）时，无须根据机型调整测试天线2的位置。所述射频控制开关与多个所述测试天线2电性连接，用于控制测试天线2对射频信号的发送和接收，射频控制开关为现有技术，这里不再对其具体结构以及工作原理进行赘述。所述托盘位于测试腔室内，用于放置被测件100。可以理解地，分别设于测试腔室后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105的测试天线2的数量可根据测试需求而定，例如被测件100为3G或4G电子设备时，其通信天线较少，对应的测试天线2可设置得较少。例如，可仅在测试腔室后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105分别设置一个测试天线2；如被测件100为5G电子设备时，其通信天线较多，对应的测试天线2可设置得较多。示例性的，如图2所示，设于测试腔室后壁的测试天线2有六个、设于测试腔室左壁102和右壁103的测试天线2分别有两个、设于测试腔室的顶壁104和底壁105的测试天线2分别有三个，且测试腔室后壁101、左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105的相邻测试天线2优选正交垂直。以形成正交搅模，达到电磁混响效果，从而替换传统结构复杂的机械搅拌方式。优选地，设于测试腔室的顶壁104和底壁105的测试天线2，以及设于测试腔室左壁102和右壁103的测试天线2分别对称设置，且设在测试腔室后壁的所述测试天线2在其正前投影面上位于设在测试腔室左壁102、右壁103、顶壁104和底壁105的测试天线2的共同中间位置，此设置方式可使测试天线整体进一步实现在一个测试箱体1的内部纵切面的形成完整均匀采样，从而进一步提高测试效果。在本技术实施例中，所述测试天线2的形状和构造可以有多种实施方式，如采用现有的圆形片状、锯齿片状等结构。也可以采用如下实施方式，如图4所示，所述测试天线2设计为平面水滴型结构（或者说水滴片状结构），经测试数据显示，平面水滴型测试天线2的带宽为600M-6G，驻波比<2.5，具有超宽频、性能高的优点，且增益平坦。在本技术实施例中，托盘3的结构以及材质有多种实施方式，例如可采用现有技术，也可以采用超低介电常数的类真空泡沫材料（介电常数<1.1)制本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种产线射频耦合测试屏蔽箱，其特征在于，包括：/n箱体，箱体内部限定有测试腔室；/n多个测试天线，所述测试腔室的后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁分别设有至少一个所述测试天线；/n射频控制开关，所述射频控制开关与多个所述测试天线电性连接，用于控制测试天线对射频信号的发送和接收；以及/n托盘，所述托盘位于测试腔室内，用于放置被测件。/n

【技术特征摘要】
1.一种产线射频耦合测试屏蔽箱，其特征在于，包括：
箱体，箱体内部限定有测试腔室；
多个测试天线，所述测试腔室的后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁分别设有至少一个所述测试天线；
射频控制开关，所述射频控制开关与多个所述测试天线电性连接，用于控制测试天线对射频信号的发送和接收；以及
托盘，所述托盘位于测试腔室内，用于放置被测件。


2.如权利要求1所述的产线射频耦合测试屏蔽箱，其特征在于：设于测试腔室后壁的测试天线有六个、设于测试腔室左壁和右壁的测试天线分别有两个、设于测试腔室的顶壁和底壁的测试天线分别有三个，且测试腔室后壁、左壁、右壁、顶壁和底壁的相邻测试天线正交垂直。


3.如权利要求2所述的产线射频耦合测试屏蔽箱，其特征在于：设于测试腔室的顶壁和底壁的测试天线，以及设于测试腔室左壁和右壁的测试天线分别对称设置。


4.如权利要求1所述的产线射频耦合测试屏蔽箱，其特征在于：所述测试天线为平面水滴型结构。


5.如权利要求1所述的产线射频耦合测试屏蔽箱，其特征在于：托盘采用超低介电常数的类真空泡沫材料制成，可同时间隔放置多个被测件进行测试。


6.如权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘森林，乐敏，李洪学，
申请(专利权)人：东莞市钲晟电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44