探针头及其导电探针制造技术

本实用新型专利技术公开一种探针头及其导电探针，所述导电探针包含有分别位于相反两侧的第一长侧面与第二长侧面，第一长侧面与第二长侧面之间定义有中心轴。所述导电探针包含中央段、分别自中央段相反两端沿中心轴朝彼此相反方向延伸的上连接段与下连接段、及分别自上连接段与下连接段沿中心轴朝远离中央段的方向延伸的上接触段与下接触段。上连接段包含有自第一长侧面朝远离中心轴方向延伸的延展部。上接触段包含有自第一长侧面朝远离中心轴方向延伸的突出部，并且所述突出部与延展部呈彼此间隔设置。据此，形成有延展部的上连接段部位能与上导板单元之间维持较小的间隙，进而有效地控制导电探针的中心轴与上导板单元的相对位置。

Probe head and its conductive probe

【技术实现步骤摘要】
探针头及其导电探针
本技术涉及一种探针，尤其涉及一种探针头及其导电探针。
技术介绍
现有的探针头包含有多个导电探针，并且每个导电探针的一端部能够抵接于所述转接板，而所述每个导电探针的另一端部则是能用来检测一待测集成电路组件。然而，由于现有探针头经过多年的使用与改良后，已使其架构较难有大幅的改变，并且现有探针头所包含的导电探针的结构设计也无形局限在既定的框架之下。于是，本技术人认为上述缺陷可改善，乃特潜心研究并配合科学原理的运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本技术。
技术实现思路
本技术实施例在于提供一种探针头及其导电探针，能有效地改善现有导电探针所可能产生的缺陷。本技术实施例公开一种探针头，其特征在于，包括：一上导板单元与一下导板单元，其彼此间隔地设置；以及多个导电探针，其一端穿设于所述上导板单元、且其另一端穿设于所述下导板单元；其中，任一个所述导电探针包含有分别位于相反两侧的一第一长侧面与一第二长侧面，并且任一个所述导电探针于所述第一长侧面与所述第二长侧面之间定义有一中心轴；任一个所述导电探针包含有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针头，其特征在于，用于集成电路测试，所述探针头包括：/n一上导板单元与一下导板单元，其彼此间隔地设置；以及/n多个导电探针，其一端穿设于所述上导板单元、且其另一端穿设于所述下导板单元；其中，任一个所述导电探针包含有分别位于相反两侧的一第一长侧面与一第二长侧面，并且任一个所述导电探针于所述第一长侧面与所述第二长侧面之间定义有一中心轴；任一个所述导电探针包含有：/n一中央段，其位于所述上导板单元与所述下导板单元之间；/n一上连接段与一下连接段，其分别自所述中央段的相反两端沿所述中心轴朝彼此相反的方向延伸所形成，所述上连接段穿设于所述上导板单元内，而所述下连接段穿设于所述下导板单元内；其中...

【技术特征摘要】
1.一种探针头，其特征在于，用于集成电路测试，所述探针头包括：
一上导板单元与一下导板单元，其彼此间隔地设置；以及
多个导电探针，其一端穿设于所述上导板单元、且其另一端穿设于所述下导板单元；其中，任一个所述导电探针包含有分别位于相反两侧的一第一长侧面与一第二长侧面，并且任一个所述导电探针于所述第一长侧面与所述第二长侧面之间定义有一中心轴；任一个所述导电探针包含有：
一中央段，其位于所述上导板单元与所述下导板单元之间；
一上连接段与一下连接段，其分别自所述中央段的相反两端沿所述中心轴朝彼此相反的方向延伸所形成，所述上连接段穿设于所述上导板单元内，而所述下连接段穿设于所述下导板单元内；其中，所述上连接段包含有自所述第一长侧面朝远离所述中心轴方向延伸的一延展部；
一上接触段，其自所述上连接段沿所述中心轴朝远离所述中央段的方向延伸出所述上导板单元所形成；其中，所述上接触段包含有自所述第一长侧面朝远离所述中心轴方向延伸的一突出部，并且所述突出部与所述延展部呈彼此间隔设置；以及
一下接触段，其自所述下连接段沿所述中心轴朝远离所述中央段的方向延伸出所述下导板单元所形成。


2.如权利要求1所述的探针头，其特征在于，于任一个所述导电探针中，所述延展部位于远离所述中央段的所述上连接段的部位，以使所述上连接段形成上宽下窄的构造。


3.如权利要求1所述的探针头，其特征在于，于任一个所述导电探针中，所述突出部位于所述上接触段的末端，并且所述上接触段于对应所述突出部的所述第二长侧面处凹设形成有一缺角，并且所述缺角的角度介于1度至80度。


4.如权利要求1所述的探针头，其特征在于，任一个所述导电探针未形成有凸出所述第二长侧面的任何结构。


5.如权利要求1所述的探针头，其特征在于，所述上导板单元与所述下导板单元的至少其中一个包含有平行...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄雅如，王宏杰，
申请(专利权)人：技鼎股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71