一种LED芯片出光分布测试装置制造方法及图纸

技术编号:24143743 阅读:25 留言:0更新日期:2020-05-13 15:47
本实用新型专利技术涉及一种LED芯片出光分布测试装置,包括光学平板,所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台,所述二维移动平台的上端固定有基座,所述基座上设置有铝基板,所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽,铝基板的上侧设置有用于给芯片通电的正、负极探针,所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动,所述正、负极探针分别经探针支架与三维移动平台相连接。该LED芯片出光分布测试装置结构简单,可以实现测试过程中对芯片的固定,降低测试难度。

A testing device for light distribution of LED chip

【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片出光分布测试装置
本技术涉及一种LED芯片出光分布测试装置。
技术介绍
LED(LightEmittingDiode)即发光二极管,是一种电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件,LED具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点,因此被称为最有潜力的新一代光源,在照明领域应用领域极为常见。随着对超高亮度LED的应用面不断扩大,对LED芯片输入功率提出了更高要求,功率型LED成为目前照明领域的发展热点。但是LED的性能容易受到电流分布不均匀的影响出现电流拥挤效应,导致流过多量子阱区电流密度分布不均匀,使局部区域出现过热,缩短芯片寿命。电流的拥挤效应可以通过测芯片的出光分布来判断,现有的LED芯片出光分布测试系统无法固定芯片,导致测试时芯片容易滑动。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种LED芯片出光分布测试装置,该LED芯片出光分布测试装置可以固定LED芯片,降低测试难度。本技术的技术方案在于:一种LED芯片出光分布测试装置,包括光学平板,所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED芯片出光分布测试装置,包括光学平板,其特征在于,所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台,所述二维移动平台的上端固定有基座,所述基座上设置有铝基板,所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽,铝基板的上侧设置有正、负极探针,所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动。/n

【技术特征摘要】
1.一种LED芯片出光分布测试装置,包括光学平板,其特征在于,所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台,所述二维移动平台的上端固定有基座,所述基座上设置有铝基板,所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽,铝基板的上侧设置有正、负极探针,所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动。


2.根据权利要求1所述的一种LED芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄章挺
申请(专利权)人:福建兆元光电有限公司
类型:新型
国别省市:福建;35

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