一种LED芯片出光分布测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种LED芯片出光分布测试装置，包括光学平板，所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台，所述二维移动平台的上端固定有基座，所述基座上设置有铝基板，所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽，铝基板的上侧设置有用于给芯片通电的正、负极探针，所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动，所述正、负极探针分别经探针支架与三维移动平台相连接。该LED芯片出光分布测试装置结构简单，可以实现测试过程中对芯片的固定，降低测试难度。

A testing device for light distribution of LED chip

【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片出光分布测试装置
本技术涉及一种LED芯片出光分布测试装置。
技术介绍
LED（LightEmittingDiode）即发光二极管，是一种电能转化为光能的固态半导体器件。作为新型的发光器件，LED具有高光效、节能、使用寿命长、响应时间短、环保等优点，因此被称为最有潜力的新一代光源，在照明领域应用领域极为常见。随着对超高亮度LED的应用面不断扩大，对LED芯片输入功率提出了更高要求，功率型LED成为目前照明领域的发展热点。但是LED的性能容易受到电流分布不均匀的影响出现电流拥挤效应，导致流过多量子阱区电流密度分布不均匀，使局部区域出现过热，缩短芯片寿命。电流的拥挤效应可以通过测芯片的出光分布来判断，现有的LED芯片出光分布测试系统无法固定芯片，导致测试时芯片容易滑动。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种LED芯片出光分布测试装置，该LED芯片出光分布测试装置可以固定LED芯片，降低测试难度。本技术的技术方案在于：一种LED芯片出光分布测试装置，包括光学平板，所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台，所述二维移动平台的上端固定有基座，所述基座上设置有铝基板，所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽，铝基板的上侧设置有正、负极探针，所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动。进一步地，所述正、负极探针分别经探针支架与三维移动平台相连接。进一步地，所述三维移动平台包括与固定于光学平板侧部的二维移动平台，所述二维移动平台的台面上固定有连接座，所述连接座的内侧设置有由测微头驱动实现升降的竖向移动台，所述正、负极探针分别经探针支架与竖向移动台固定连接。与现有技术相比较，本技术具有以下优点：该LED芯片出光分布测试装置结构简单，可以实现测试过程中对芯片的固定，易于操作，降低测试难度，成本低；实现LED芯片在研发和生产过程中芯片的出光分布进行监控，进而可以有效防止不良产品流入至客户端，自行设计的测试装置价格与外购相比成本低。附图说明图1为本技术的结构示意图；图中：10-光学平板；20-二维移动台；21-基座；22-铝基板；23-凹槽；30-探针；31-探针支架；40-三维位移台；41-连接座；42-竖向移动台；43-竖向测微头；44-纵向移动台；45-第一测微头；46-横向移动台；47-第二测微头。具体实施方式为让本技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下，但本技术并不限于此。参考图1一种LED芯片出光分布测试装置，包括光学平板10，所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台20，所述二维移动平台的上端固定有基座21，所述基座上设置有铝基板22，所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽23，铝基板的上侧设置有用于给芯片通电的正、负极探针30，所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台40驱使移动，所述正、负极探针分别经探针支架31与三维移动平台相连接。本实施例中，所述三维移动平台包括与固定于光学平板侧部的二维移动平台，该二维移动平台的台面上固定有连接座41，所述连接座的内侧设置有与其竖向滑动配合的竖向移动台42，连接座上经固定座设置有竖向测微头43，所述竖向测微头的端头与竖向移动台相连接，从而驱动竖向移动台升降。所述正、负极探针分别经探针支架与竖向移动台固定连接。本实施例中，上述各二维移动平台分别包括与光学平板固定连接的第一底座，所述第一底座上设置有可纵向移动的纵向移动台44，第一底座上经固定座设置有第一测微头45，所述第一测微头的端头与纵向移动台相连接，从而驱动纵向移动台纵向移动；所述纵向移动台上固定连接的第二底座，所述第二底座上设置有可横向移动的横向移动台46，第二底座上经固定座设置有第二测微头47，所述第二测微头的端头与横向移动台相连接，从而驱动横向移动台横向移动。本实施例中，所述凹槽可以设计成不同尺寸来放置不同尺寸的LED芯片。本实施例中，通过二维位移台和基座移动铝基板上的芯片，并通过三维位移台来移动探针寻找最佳接触点。将LED芯片放置于凹槽中，用探针测试出光分布时芯片不会滑动，当芯片在凹槽中放置好后，将正、负极探针接触芯片的正负极将芯片通电，以便通过探头获取芯片的出光在电脑上呈现芯片出光分布。以上所述仅为本技术的较佳实施例，凡依本技术申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属本技术的涵盖范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED芯片出光分布测试装置，包括光学平板，其特征在于，所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台，所述二维移动平台的上端固定有基座，所述基座上设置有铝基板，所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽，铝基板的上侧设置有正、负极探针，所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动。/n

【技术特征摘要】
1.一种LED芯片出光分布测试装置，包括光学平板，其特征在于，所述光学平板上设置有能够进行横向和纵向移动的二维移动平台，所述二维移动平台的上端固定有基座，所述基座上设置有铝基板，所述铝基板上设置有用于置放LED芯片的凹槽，铝基板的上侧设置有正、负极探针，所述正、负极探针分别由安装光学平板两侧的三维移动平台驱使移动。


2.根据权利要求1所述的一种LED芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄章挺，
申请(专利权)人：福建兆元光电有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35