一种光学材料性能检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光学材料性能检测装置，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在样品台的上方，用于采集待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据待测区域的图像获取待测区域中待测样品的粒度信息。本发明专利技术用于光学材料的二阶非线性光学性能分析。

An optical material performance testing device

【技术实现步骤摘要】
一种光学材料性能检测装置
本专利技术涉及一种光学材料性能检测装置，属于材料性能测试

技术介绍
由于二阶非线性光学材料应用的频率范围从极深紫外波段到中远红外波段，甚至是太赫兹波段，应用范围较广，故二阶非线性光学材料在激光应用中有着极为重要的地位，因而探索研发性能优异的二阶非线性光学材料，一直以来都受到光学材料领域的重视。由于新型二阶非线性光学材料的研发需要从浩如烟海的合成物质中寻找适合的候选材料，再经历材料探索、性能表征、材料工艺研究等若干过程，从而需要花费研究人员大量的心血。决定二阶非线性光学材料的应用潜力是该材料的二阶非线性光学性能，研发人员常常通过测量光学材料粉体的二阶非线性光学性能来评价材料在非线性光学应用中的可能。二阶非线性光学性能的测试结果的可靠与否与该材料粉末的粒度直接相关。目前，二阶非线性光学材料性能的表征，首先通过筛分的方式得出光学材料样品粗略的粒度信息，然后对该筛分后的光学材料样品进行二阶非线性光学信号测量，再结合光学材料样品的粒度信息和二阶非线性光学信号综合得出光学材料样品的二阶非线性光学性能。由于光学材料样品是通过筛分的方式给出粗略的粒度，不能提供二阶非线性光学信号检测区域准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能。
技术实现思路
本专利技术提供了一种光学材料性能检测装置，能够解决现有装置不能提供光学材料二阶非线性光学信号检测区域处准确可靠的粒度信息，从而不能准确反映光学材料的二阶非线性光学性能的问题。本专利技术提供了一种光学材料性能检测装置，所述检测装置包括：样品台，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在所述样品台的上方，用于采集所述待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据所述待测区域的图像获取所述待测区域中待测样品的粒度信息。可选的，所述图像采集模块位于所述待测区域的正上方。可选的，所述检测装置还包括照明光源，所述照明光源用于照射所述待测样品，以在所述待测样品上形成光斑，所述光斑为所述待测区域。可选的，所述检测装置还包括设置在所述照明光源出射光路上的第一光学组件，所述第一光学组件用于对所述照明光源出射的光线进行整形。可选的，所述检测装置还包括设置在所述第一光学组件出射光路上的光阑，所述光阑用于调节从所述第一光学组件出射的光束大小。可选的，所述图像采集模块包括成像镜头和成像探测器；所述成像镜头用于提供不同的成像放大倍率；所述成像探测器用于采集所述待测区域的图像。可选的，所述检测装置还包括设置在所述待测样品与所述图像采集模块之间的第二光学组件；所述第二光学组件用于调节射向所述图像采集模块的光线强度。可选的，所述检测装置还包括：激光光源，用于照射所述待测区域；光学探测器，用于接收激光光源照射所述待测区域后，反射或透射的光线。可选的，所述检测装置还包括：设置在所述照明光源出射光路上的合束镜；所述合束镜用于将所述激光光源出射的光线与所述照明光源出射的光线合为同轴光线。可选的，所述检测装置还包括：设置在所述光学探测器入射光路上的第三光学组件，所述第三光学组件用于对激光光源照射所述待测区域后，反射或透射的光线进行整形；设置在所述激光光源出射光路上的第四光学组件，所述第四光学组件用于对所述激光光源出射的光线进行整形。可选的，所述检测装置还包括：外场施加模块，用于对所述待测样品施加外场。本专利技术能产生的有益效果包括：本专利技术提供的光学材料性能检测装置，通过利用在样品台上方设置的图像采集模块来采集光学材料待测样品的待测区域的图像，再根据待测区域的图像获取待测区域处待测样品的粒度信息；然后通过检测待测区域的二阶非线性光学信号，将粒度信息与二阶非线性光学信号综合分析得出待测样品的待测区域的二阶非线性光学性能。相较于现有技术，本专利技术提供的装置由于可以准确的检测出待测区域的粒度信息，因而结合待测区域的二阶非线性光学信号，可以准确分析出待测样品的待测区域的二阶非线性光学性能。附图说明图1为本专利技术实施例提供的光学材料性能检测装置结构示意图。具体实施方式下面结合实施例详述本专利技术，但本专利技术并不局限于这些实施例。本专利技术实施例提供了一种光学材料性能检测装置，如图1所示，检测装置包括：样品台1，用于放置待测样品；图像采集模块，设置在样品台1的上方，用于采集待测样品的待测区域的图像；处理模块，用于根据待测区域的图像获取待测区域中待测样品的粒度信息。其中，在实际应用中，光学材料的待测样品可以直接放置在样品台1上进行测量，也可以将待测样品筛分后压制成片状置于样品容器13内，再将样品容器13放置在样品台1上，再对待测样品进行测量，本专利技术实施例对待测样品如何放置在样品台1上不做限定。样品台1可以移动，也可以不移动，本专利技术实施例对此不做限定。当样品台1能够沿水平面的二维方向移动，样品台1沿水平面的任意一维方向的行程大于10mm，位移重复定位精度优于10μm，位移分辨率优于10μm，通过控制样品台1在二维方向上的移动，以控制样品的测试位置，从而实现任意选择待测样品的测量区域的目的。当样品台不移动时，可以通过移动图像采集模块等其他模块来实现任意选择的待测样品的测量区域的目的。图像采集模块可以为照相机、摄像机等设备，本专利技术实施例对此不做限定。在实际应用中，图像采集模块采集待测区域的图像后，可以利用标尺直接测量以获取粒度信息，也可以利用处理模块自动获取粒度信息，本专利技术实施例对获取粒度信息的方式不做限定。当利用处理模块自动获取粒度信息时，处理模块(如计算机)包含图像信息处理能力，能够根据待测区域的图像及时自动获取和分析出待测区域中待测样品的粒度信息，使用方便快捷。粒度信息包括颗粒大小、颗粒形貌、粒度分布、粒度与二阶非线性光学信号之间的关系等信息。其中，颗粒形貌包括颗粒的宏观形状，还包括颗粒的微观形貌，如颗粒的晶界、晶型等。本专利技术提供的光学材料性能检测装置，通过利用在样品台上方设置的图像采集模块来采集光学材料待测样品的待测区域的图像，再根据待测区域的图像获取待测区域处待测样品的粒度信息；然后通过检测待测区域的二阶非线性光学信号，将粒度信息与二阶非线性光学信号综合分析得出待测样品的待测区域的二阶非线性光学性能。相较于现有技术，本专利技术提供的装置由于可以准确的检测出待测区域的粒度信息，因而结合待测区域的二阶非线性光学信号，可以准确分析出待测样品的待测区域的二阶非线性光学性能。优选的，图像采集模块位于待测区域的正上方。当图像采集模块位于待测区域正上方时，由于获取待测区域图像时，图像采集模块正对待测区域，没有角度的倾斜，更容易获得准确的粒度信息，使得测量更方便。在实际应用中，检测装置还包括照明光源2，照明光源2用于照射待测样品，以在待测样品上形成光斑，光斑为待测区域。照明光源2可以为钨丝灯、气体放电灯、半导体发光光源等中的一种，本专利技术的实施例对此不做限定。相比于在普通光照下成像模块获取的待测区域的图像，照明光源2可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学材料性能检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：/n样品台，用于放置待测样品；/n图像采集模块，设置在所述样品台的上方，用于采集所述待测样品的待测区域的图像；/n处理模块，用于根据所述待测区域的图像获取所述待测区域中待测样品的粒度信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学材料性能检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
样品台，用于放置待测样品；
图像采集模块，设置在所述样品台的上方，用于采集所述待测样品的待测区域的图像；
处理模块，用于根据所述待测区域的图像获取所述待测区域中待测样品的粒度信息。


2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述图像采集模块位于所述待测区域的正上方。


3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括照明光源，所述照明光源用于照射所述待测样品，以在所述待测样品上形成光斑，所述光斑为所述待测区域。


4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括设置在所述照明光源出射光路上的第一光学组件，所述第一光学组件用于对所述照明光源出射的光线进行整形。


5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括设置在所述第一光学组件出射光路上的光阑，所述光阑用于调节从所述第一光学组件出射的光束大小。


6.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，所述图像采集模块包括成像镜头和成像探测器；

【专利技术属性】
技术研发人员：黄凌雄，陈瑞平，张戈，李丙轩，廖文斌，
申请(专利权)人：中国科学院福建物质结构研究所，
类型：发明
国别省市：福建;35