一种电子负载式老化测试模块制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电子负载式老化测试模块，具体涉及电子元件测试领域，包括模块本体，所述模块本体包括有底座、固定块、竖向导电针和侧向导电针，所述固定块两端均设置有转向柱，所述转向柱另一端设置有支撑杆，所述竖向导电针位于固定块正上方，所述侧向导电针位于固定块两端。本实用新型专利技术通过设有固定块和螺杆，转向柱会带动一侧固定连接的固定块转动90°，固定块四个面均安装有不同大小的测试模块，使得固定块转动时可更换不同大小的测试模块，操作人员可更具实际情况而选用合适的测试模块进行检测，适用性广，操作人员通过转动螺杆即可调整两个竖向导电针之间的间距，使得竖向导电针与不同大小的电子元件的中间电极定位准确。

An aging test module with electronic load

【技术实现步骤摘要】
一种电子负载式老化测试模块
本技术涉及电子元件测试领域，更具体地说，本实用涉及一种电子负载式老化测试模块。
技术介绍
随着电子科技的发展，对于电子元件的稳定性和可靠性要求也越来越高，尤其是应用在航空航天事业中的产品。电子元件产品通过高温电老化测试可以使元器件内部电极的缺陷和隐患提前暴露，保证出厂的产品能经得起时间的考验，对于提高产品的稳定性和可靠性有很重要的意义。专利申请公布号CN206074706U的技术专利公开了电子元件老化测试装置，包括：载板和侧导向板。使用该电子元件老化测试装置，无需将电子元件焊接在PCB板上进行老化测试，只需将电子元件放置于安装槽中，通过侧向导电针和中间导电板分别与电子元件的两个端电极电连接，然后与外接电源连接即可进行电流老化测试。但是其在实际使用时，由于不同电子元件之间大小不同，当要测试大小不一的电子元件时，安装槽的大小不能根据实际情况作出改变，适用性较低，适用起来较为不方便。
技术实现思路
为了克服现有技术的上述缺陷，本技术的实施例提供一种电子负载式老化测试模块，本技术通过设有固定块本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子负载式老化测试模块，包括模块本体（1），其特征在于：所述模块本体（1）包括有底座（2）、固定块（3）、竖向导电针（4）和侧向导电针（5），所述固定块（3）两端均设置有转向柱（6），所述转向柱（6）另一端设置有支撑杆（7），所述竖向导电针（4）位于固定块（3）正上方，所述侧向导电针（5）位于固定块（3）两端；/n所述固定块（3）为截面形状设置为长方形，所述固定块（3）四个面均设置有滑槽（9），所述滑槽（9）内部设置有测试模块（10），所述测试模块（10）与滑槽（9）为滑动连接，所述测试模块（10）中部设置有导电板（11），所述测试模块（10）位于竖向导电针（4）正下方，所述固定块（3...

【技术特征摘要】
1.一种电子负载式老化测试模块，包括模块本体（1），其特征在于：所述模块本体（1）包括有底座（2）、固定块（3）、竖向导电针（4）和侧向导电针（5），所述固定块（3）两端均设置有转向柱（6），所述转向柱（6）另一端设置有支撑杆（7），所述竖向导电针（4）位于固定块（3）正上方，所述侧向导电针（5）位于固定块（3）两端；
所述固定块（3）为截面形状设置为长方形，所述固定块（3）四个面均设置有滑槽（9），所述滑槽（9）内部设置有测试模块（10），所述测试模块（10）与滑槽（9）为滑动连接，所述测试模块（10）中部设置有导电板（11），所述测试模块（10）位于竖向导电针（4）正下方，所述固定块（3）内部设置有开口（12），所述开口（12）与侧向导电针（5）滑动连接，所述转向柱（6）外侧设置有传动带（13），所述传动带（13）底部设置有滚轮（14），所述滚轮（14）一侧设置有减速电机（15）；
所述竖向导电针（4）上方设置有压板（16），所述竖向导电针（4）设置为两个，两个所述竖向导电针（4）顶部分别设置有第一滑块（17）和第二滑块（18），所述第一滑块（17）和第二滑块（18）均与压板（16）滑动连接，所述第一滑块（17）和第二滑块（18）内部均设置有螺杆（19），所述第一滑块（17）通过正螺槽与螺杆（19）螺纹连接，所述第二滑块（18）通过反螺槽与螺杆（19）螺纹连接。


2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐雄华，宋薇薇，
申请(专利权)人：赫顶天津工业技术有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12