间隙传感器的校正方法技术

一种间隙传感器(31、32)的校正方法，所述间隙传感器(31、32)设置于通过电磁力以非接触的形式对悬浮体(5)进行支承的磁轴承(21、22)，并检测所述悬浮体(5)的位置控制中的成为位置的基准的基准物与所述悬浮体(5)之间的间隙(g)，其中，设置构筑步骤，在该构筑步骤中，设定三个以上的用于将间隙(g)与间隙传感器(31、32)的输出建立关联的条件，即约束条件，并且，使用约束条件，构筑将间隙传感器(31、32)的输出转换成间隙(g)的转换式。

Calibration method of gap sensor

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】间隙传感器的校正方法
本专利技术涉及一种间隙传感器的校正方法。
技术介绍
在通过电磁力以非接触的形式对旋转轴进行支承的磁轴承中，在对旋转轴进行位置控制时，需要检测旋转轴与磁轴承之间的间隙。因此，在磁轴承中，为了检测间隙而通常设置有所谓的间隙传感器(例如参照专利文献1)。专利文献1：日本公开专利公报特开2014-228091公报
技术实现思路
-专利技术所要解决的技术问题-在所述间隙传感器中，通常在其输出信号的值与间隙长度之间，存在按照各传感器而不同的非线性特征。因此，在磁轴承中，在使用间隙传感器准确地进行旋转轴的位置控制时，例如需要按照各间隙传感器而设置线性化(Linearize)电路等对策。但是，若设置这样的线性化电路，则涉及到磁轴承的成本上升，并且需要按照各间隙传感器对线性化电路进行校正。这样的线性化电路的校正作业是繁琐的。本专利技术是着眼于所述问题而完成的，其目的在于，能够容易地对设置于磁轴承的间隙传感器进行校正。-用以解决技术问题的技术方案-为了解决所述技术问题，第一方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种间隙传感器的校正方法，所述间隙传感器(31、32)设置于通过电磁力以非接触的形式对悬浮体(5)进行支承的磁轴承(21、22)，并检测所述悬浮体(5)的位置控制中的成为位置的基准的基准物与所述悬浮体(5)之间的间隙(g)，所述间隙传感器的校正方法的特征在于，/n所述间隙传感器的校正方法具有构筑步骤，在该构筑步骤中，设定三个以上的用于将所述间隙(g)与所述间隙传感器(31、32)的输出信号(v)建立关联的条件，即约束条件，并且，使用所述约束条件，构筑将所述间隙传感器(31、32)的输出信号(v)转换成所述间隙(g)的转换式。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种间隙传感器的校正方法，所述间隙传感器(31、32)设置于通过电磁力以非接触的形式对悬浮体(5)进行支承的磁轴承(21、22)，并检测所述悬浮体(5)的位置控制中的成为位置的基准的基准物与所述悬浮体(5)之间的间隙(g)，所述间隙传感器的校正方法的特征在于，
所述间隙传感器的校正方法具有构筑步骤，在该构筑步骤中，设定三个以上的用于将所述间隙(g)与所述间隙传感器(31、32)的输出信号(v)建立关联的条件，即约束条件，并且，使用所述约束条件，构筑将所述间隙传感器(31、32)的输出信号(v)转换成所述间隙(g)的转换式。


2.根据权利要求1所述的间隙传感器的校正方法，其特征在于，
所述构筑步骤包括：
使所述悬浮体(5)按照规定的轨迹移动的步骤；
读取步骤，在所述读取步骤中，在所述轨迹上的互不相同的多个位置处，从多个所述间隙传感器(31、32)分别读取输出信号；以及
在所述多个间隙传感器(31、32)相互被约束的、所述间隙(g)与所述轨迹的几何学关系式中应用从多个所述间隙传感器(31、32)分别读取的输出信号，设定三个以上的所述约束条件来构筑所述转换式的步骤。


3.根据权利要求2所述的间隙传感器的校正方法，其特征在于，
所述轨迹是使所述悬浮体(5)在与辅助轴承(6、7)接触的状态下移动的情况下的轨迹，所述辅助轴承(6、7)通过与所述悬浮体(5)接触而进行支承，从而防止所述悬浮体(5)与所述磁轴承(21、22)的接触。


4.根据权利要求2所述的间隙传感器的校正方法，其特征在于，
在所述读取步骤中，至少读取所述悬浮体(5)在可动范围内的上限或下限的位置时的所述间隙传感器(31、32)的输出，
在所述构筑步骤中，基于所述上限或所述下限的位置来设定一个所述约束条件，构筑所述转换式。


5.根据权利要求1所述的间隙传感器的校正方法，其特征在于，
所述构筑步骤包括：
使所述悬浮体(5)按照通过所述悬浮体(5)的可动范围内的上限或下限的位置的轨迹而移动的步...

【专利技术属性】
技术研发人员：阪胁笃，
申请(专利权)人：大金工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP