【技术实现步骤摘要】
一种金箔产品厚度的测量方法
本专利技术贵金属测量领域，具体涉及一种金箔产品厚度的测量方法。
技术介绍
金箔最大的特点就是薄如蝉翼，所以金箔的厚度是该产品的一项重要技术指标，但金箔产品厚度一般在0.1微米左右，很难直接测量其厚度。QB/T1734-2008《金箔》产品标准中对其厚度的测量引用了QB/T1135《首饰金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法》和QB/T1133《首饰金覆盖层厚度的测定方法化学法》两种方法。其中QB/T1135是通过采用X射线荧光能谱仪测量金元素的特征谱线强度，然后根据一系列标准样品拟合而成的校准曲线求得金箔厚度，而QB/T1133是通过化学方法先测得金元素质量，再根据金箔面积算出其厚度。不管是QB/T1135这种无损方法还是QB/T1133化学破坏方法，目前所使用的这两种测量金箔厚度的方法，所测得的最终结果都是纯金层的厚度，并不是金箔的产品厚度。金箔根据其金含量可以分为99金箔(金含量为99％)、98金箔(金含量为98％)、96金箔(金含量为96％)、92金箔(金含量为92％)、77金箔(金...
【技术保护点】
1.一种金箔产品厚度的测量方法，其特征在于包括如下步骤：/n(1)使用游标卡尺测量n张金箔产品的平均长度L
【技术特征摘要】
1.一种金箔产品厚度的测量方法，其特征在于包括如下步骤：
(1)使用游标卡尺测量n张金箔产品的平均长度L1和平均宽度L2，并使用精密天平测得这n张金箔的质量为G；
(2)根据QB/T1734和GB/T21198.6的测定方法对金箔产品进行成分测定，测得这n张金箔产品的主要组成成分及其百分含量分别是Au：m％、Ag：w...
【专利技术属性】
技术研发人员：王鑫磊，黄成，张帆，王亮，
申请(专利权)人：南京市产品质量监督检验院，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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