遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板技术

本发明专利技术涉及一种遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板，遮光层介电常数测量方法包括：在玻璃基板上形成第一金属层；在第一金属层上形成遮光层，其中，遮光层在玻璃基板上的投影与第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；在遮光层上形成第二金属层；获取第一金属层与第二金属层之间的电容值；根据电容值获取遮光层的介电常数。遮光层在玻璃基板上的投影与第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠，使得第一金属层的部分表面曝露，便于检测装置同时与第一金属层和第二金属层接触，从而便于获取第一金属层和第二金属层之间的电容值，进而便于获取第一金属层和第二金属层之间的遮光层的介电常数。

The measurement method of dielectric constant and the detection panel of dielectric constant

【技术实现步骤摘要】
遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板
本专利技术涉及显示屏
，特别是涉及一种遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板。
技术介绍
随着TFT-LCD(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay)显示屏技术的提升，传统的TFT-LCD显示屏主要由偏振片、阵列基板、液晶、彩膜基板等构成，彩膜基板是实现显示屏彩色显示的主要部件，而彩膜基板中由铬金属或者掺黑色颜料的丙烯树脂构成的遮光层，是构成彩膜基板的重要组成部分，主要作用是为了提高对比度，防止显示屏非驱动领域的背光源光线漏出，可以有效防止相邻的像素混色，还可以防止外加光线照射到阵列基板的非晶硅层而增加漏电流。对于传统的TFT-LCD显示屏而言，遮光层的介电常数越高，越容易产生感应电荷形成电场，造成开关机瞬间闪白或边缘发白等不良，因此需要通过获取遮光层的介电常数来判断是否可以用于制作彩膜基板，但是，传统的显示行业并没有专门检测遮光层介电常数的设备，而且，由于彩膜基板的各层厚度较小，不便于现有的电容检测装置检测，使得通过获取遮光层的电容以获取介电常数的检测难度过大，并且，使用现有的电容检测装置无疑会使得显示屏的制作成本过大。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种便于获取介电常数的遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板。一种遮光层介电常数测量方法，包括：在玻璃基板上形成第一金属层；在所述第一金属层上形成遮光层，其中，所述遮光层在所述玻璃基板上的投影与所述第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；在所述遮光层上形成第二金属层；获取所述第一金属层与所述第二金属层之间的电容值；根据所述电容值获取所述遮光层的介电常数。在其中一个实施例中，所述在所述第一金属层上形成遮光层之前还包括：在所述第一金属层上粘贴有胶带层，其中，所述胶带层在所述玻璃基板上的投影与所述第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；所述在所述第一金属层上形成遮光层包括：在所述第一金属层和所述胶带层上形成所述遮光层。在其中一个实施例中，所述获取所述第一金属层与所述第二金属层之间的电容值之前还包括：去除所述胶带层以及位于其上的所述遮光层的部分。在其中一个实施例中，所述根据所述电容值获取所述遮光层的介电常数之后还包括：检测所述介电常数与预设介电常数是否匹配；当所述介电常数与所述预设介电常数匹配时，向监控系统发送第一信号。在其中一个实施例中，所述检测所述介电常数与预设介电常数是否匹配包括：检测所述介电常数是否小于或等于所述预设介电常数；所述当所述介电常数与所述预设介电常数匹配时，向监控系统发送第一信号包括：当所述介电常数小于或等于所述预设介电常数时，向监控系统发送第一信号。在其中一个实施例中，所述检测所述介电常数是否小于或等于所述预设介电常数之后还包括：当所述介电常数大于所述预设介电常数时，向监控系统发送第二信号。在其中一个实施例中，所述预设介电常数为10～20F/m。在其中一个实施例中，所述预设介电常数为12F/m。在其中一个实施例中，所述获取第一金属层的表面与第二金属层的表面之间的电容值包括：获取所述第一金属层的表面的第一电压；获取所述第二金属层的表面的第二电压；根据所述第一电压和所述第二电压获取所述电容值。一种介电常数检测面板，包括：玻璃基板、第一金属层、第二金属层以及遮光层，所述第一金属层设置于所述玻璃基板上，所述遮光层设置于所述第一金属层背离所述玻璃基板的一面，所述第二金属层设置于所述遮光层背离所述第一金属层的一面，所述遮光层在所述玻璃基板上的投影与所述第一金属层在所述玻璃基板上的投影部分重叠。上述遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板中，遮光层在玻璃基板上的投影与第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠，使得第一金属层的部分表面曝露，便于检测装置同时与第一金属层和第二金属层接触，从而便于获取第一金属层和第二金属层之间的电容值，进而便于获取第一金属层和第二金属层之间的遮光层的介电常数。附图说明图1为一实施例的遮光层介电常数测量方法的流程图；图2为一实施例的介电常数检测面板的结构示意图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。本专利技术涉及一种遮光层介电常数测量方法。例如，所述遮光层介电常数测量方法包括：在玻璃基板上形成第一金属层；在所述第一金属层上形成遮光层，其中，所述遮光层在所述玻璃基板上的投影与所述第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；在所述遮光层上形成第二金属层；获取所述第一金属层与所述第二金属层之间的电容值；根据所述电容值获取所述遮光层的介电常数。上述遮光层介电常数测量方法，遮光层在玻璃基板上的投影与第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠，使得第一金属层的部分表面曝露，便于检测装置同时与第一金属层和第二金属层接触，从而便于获取第一金属层和第二金属层之间的电容值，进而便于获取第一金属层和第二金属层之间的遮光层的介电常数。请参阅图1，其为本专利技术一实施例的遮光层介电常数测量方法的流程图。一种遮光层介电常数测量方法10，包括以下步骤的部分或全部。S100：在玻璃基板上形成第一金属层。在本实施例中，由于所述遮光层位于所述第一金属层和所述第二金属层之间，所述第一金属层和所述第二金属层形成测试电容，所述遮光层即为测试电容中的绝缘层，所述第一金属层作为后续用于检测所述遮光层形成的电容的其中一个金属板层。在通电情况下，所述第一金属层作为测试电容的其中一个电极，即所述第一金属层上有电荷聚集，也即所述第一金属层的表面有电位，而且，所述第一金属层表面的电位在其稳定之前是动态的，即所述第一金属层的电位的固定需要一定的时间，也即所述第一金属层和所述第二金属层形成的测试电容在进行充电。这样，所述第一金属层作为测试电容的其中一个电极，便于后续通过所述第一金属层的电位稳定情况获取测试电容的电容值，从而便于根据上述电容值求取所述遮光层的介电常数。S200：在所述第一金属层上形成遮光层。在本实施例中，所述遮光层作为所述第一金属层和所述第二金属层之间的绝本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种遮光层介电常数测量方法，其特征在于，包括：/n在玻璃基板上形成第一金属层；/n在所述第一金属层上形成遮光层，其中，所述遮光层在所述玻璃基板上的投影与所述第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；/n在所述遮光层上形成第二金属层；/n获取所述第一金属层与所述第二金属层之间的电容值；/n根据所述电容值获取所述遮光层的介电常数。/n

【技术特征摘要】
1.一种遮光层介电常数测量方法，其特征在于，包括：
在玻璃基板上形成第一金属层；
在所述第一金属层上形成遮光层，其中，所述遮光层在所述玻璃基板上的投影与所述第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；
在所述遮光层上形成第二金属层；
获取所述第一金属层与所述第二金属层之间的电容值；
根据所述电容值获取所述遮光层的介电常数。


2.根据权利要求1所述的遮光层介电常数测量方法，其特征在于，所述在所述第一金属层上形成遮光层之前还包括：
在所述第一金属层上粘贴有胶带层，其中，所述胶带层在所述玻璃基板上的投影与所述第一金属层在玻璃基板上的投影部分重叠；
所述在所述第一金属层上形成遮光层包括：
在所述第一金属层和所述胶带层上形成所述遮光层。


3.根据权利要求2所述的遮光层介电常数测量方法，其特征在于，所述获取所述第一金属层与所述第二金属层之间的电容值之前还包括：
去除所述胶带层以及位于其上的所述遮光层的部分。


4.根据权利要求1所述的遮光层介电常数测量方法，其特征在于，所述根据所述电容值获取所述遮光层的介电常数之后还包括：
检测所述介电常数与预设介电常数是否匹配；
当所述介电常数与所述预设介电常数匹配时，向监控系统发送第一信号。


5.根据权利要求4所述的遮光层介电常数测量方法，其特征在于，所述检测所述介电常数与预设介电常数是否匹配包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑风云，徐阳，陈建伦，刘力明，雷国奖，
申请(专利权)人：信利惠州智能显示有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44