一种用于单层微波电容器容损测试的夹具制造技术

一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，包括底座、测试探针、支架和驱动机构，底座设置有用于放置单层微波电容器的放置槽，测试探针与放置槽相对可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置在支架上，驱动机构连接并驱动测试探针升降移动，所述放置槽的底面设置有铜排，铜排连接有线缆，当测试探针在第一位置时，测试探针位于放置槽的上方，当测试探针在第二位置时，测试探针下降至放置槽中，单层微波电容器夹紧在铜排与测试探针之间，夹具整体结构简单，操作简单、难度低，提高了测试效率，而且单层微波电容器与铜排和测试探针均具有良好的接触性，大大提高了测试的准确性。

A kind of fixture for measuring the capacitance loss of single layer microwave capacitor

【技术实现步骤摘要】
一种用于单层微波电容器容损测试的夹具
本技术属于电子元件性能测试夹具，具体涉及一种用于单层微波电容器容损测试的夹具。
技术介绍
单层微波电容器在生产制造过程中，需要对产品进行容值损耗测试，根据单层微波电容器在常温下容值和损耗测试数据，以保证产品的合格率及质量一致性。旧有测试方法是先将产品竖立，放置在旧夹具中测试，此种试验方法对产品易造成损伤，存在操作难度高、测试速度低等缺点。在单层微波电容器进行容值损耗测试过程中，需要先用吸笔机将产品吸起来，竖立着放进旧夹具中，操作难度高，经常存在放歪、放倒现象，易损伤电容的金层电极，影响测试数据的可靠性，尤其测试小尺寸电容产品操作难度更高，同时传统夹具不仅放置电容困难更容易掉落电容，甚至遗失，需要重复吸取产品，造成测试速度偏低及产品报废率偏高。且测试过程中不断吸放产品，产品下表面与传统夹具表面摩擦，导致传统夹具夹紧产品位置表面磨损严重，有明显的划痕及沟槽，导致放置产品难度增加及测试数据不准确性，从而无法准确判定产品是否合格，有待进一步改进。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术的缺点，提供一种用于单层微波电容器容损测试的夹具。本技术采用如下技术方案：一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，包括底座、测试探针、支架和驱动机构，底座设置有用于放置单层微波电容器的放置槽，测试探针与放置槽相对可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置在支架上，驱动机构连接并驱动测试探针升降移动，所述放置槽的底面设置有铜排，铜排连接有线缆，当测试探针在第一位置时，测试探针位于放置槽的上方，当测试探针在第二位置时，测试探针下降至放置槽中，单层微波电容器夹紧在铜排与测试探针之间。进一步的，驱动机构包括设置在支架上沿竖直方向延伸的滑轨、设置在滑轨上可上下滑动的滑块和驱动滑块上下移动的驱动装置，所述支架包括设置在放置槽上方与滑块连接的连杆，所述测试探针设置在连杆上。进一步的，所述驱动装置包括设置在支架上可旋转的转动盘、一端与转动盘活动连接另一端与所述连杆活动连接的连接件、连接并驱动转动盘转动的驱动件和设置在驱动盘上限制测试探针处于第一位置或第二位置的限位块。进一步的，所述连接件的中部形成有弯曲部，所述支架的顶面形成有让位孔，所述转动盘可转动地设置在让位孔中，当驱动件驱动转动盘顺时针转动至限位块卡在支架顶面时，测试探针处于第一位置，当驱动件驱动转动盘逆时针向下转动至限位块卡在弯曲部时，测试探针处于第二位置。进一步的，所述驱动件为与转动盘连接的操作手柄。进一步的，所述测试探针包括壳体、探针、压缩弹簧和导线，壳体设置在所述连杆上；探针可上下移动设置在壳体中；压缩弹簧缠绕在探针外周面，一端与探针外壁连接另一端与壳体内壁连接；导线一端伸入壳体中与探针连接，另一端向外延伸。进一步的，所述底座的侧面设置有向内延伸至与放置槽连通的让位孔，让位孔的底面与放置槽的底面相平，所述铜排一端置于放置槽中，另一端置于让位孔中。进一步的，所述放置槽为方形槽。进一步的，所述底座为聚四氟乙烯底座。进一步的，还包括底盘，所述支架和底座均设置在底盘上。由上述对本技术的描述可知，与现有技术相比，本技术的有益效果是：测试时，将单层微波电容器置于放置槽中，驱动机构驱动测试探针下降至第二位置，将单层微波电容器夹紧在测试探针与铜排之间，然后将测试探针和线缆分别与测试装置连接，即可开始测试，夹具整体结构简单，操作简单、难度低，提高了测试效率，而且单层微波电容器与铜排和测试探针均具有良好的接触性，大大提高了测试的准确性；测试探针包括通过压缩弹簧可上下移动地设置壳体中的探针，测试时，探针因为压缩弹簧的作用，而减小固定向下压力，不会过分挤压单层微波电容器，不易损伤单层微波电容器的镀金层，也保持单层微波电容器与探针、铜排的良好接触，保证单层微波电容器的金层及陶瓷基体无损伤。附图说明图1为测试探针处于第一位置时的状态示意图；图2为测试探针处于第二位置时的状态示意图；图中，1-底盘、2-底座、3-支架、4-测试探针、5-驱动机构、6-铜排、7-单层微波电容器、8-铜排接头、9-线缆、21-放置槽、22-让位孔、31-竖杆、32-横杆、33-连杆、41-壳体、42-探针、43-压缩弹簧、44-导线、51-滑轨、52-滑块、53-驱动装置、421-限位部、531-转动盘、532-连接件、533-限位块、534-驱动件。具体实施方式以下通过具体实施方式对本技术作进一步的描述。参见图1至图2所示，一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，包括底盘1、底座2、测试探针4、支架3和驱动机构5。底盘1为金属底盘，可以保证夹具整体的稳定性。底座2设置在底盘1上，底座2设置有用于放置单层微波电容器7的放置槽21，放置槽21从底座2的顶面沿竖直方向向下延伸，放置槽2的底面设置有铜排6，底座2的侧面设置有向内延伸至与放置槽21连通的让位孔22，让位孔22的底面与放置槽2的底面相平，所述铜排6一端置于放置槽21中，另一端置于让位孔22中，铜排6置于让位孔22的一端通过铜排接头8连接有线缆9，铜排6为镀金铜排，镀金铜排作为测试母端，经过特殊的金属化处理，表面为硬化镀金层，不易氧化及磨损，与单层微波电容器7的金电极相匹配，测试更准确，具体的，放置槽21为方形槽，进一步的，底座2为聚四氟乙烯底座，可以保证绝缘性。支架3设置在底盘1，包括竖杆31、横杆32和连杆33，竖杆31设置在底盘1上，横杆32与竖杆31的顶端连接，连杆33设置在放置槽21的上方。测试探针4与放置槽21相对设置，可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置连杆33上，当测试探针4在第一位置时，测试探针4位于放置槽21的上方，当测试探针4在第二位置时，测试探针4下降至放置槽21中，单层微波电容器7夹紧在铜排6与测试探针4之间，具体的，测试探针4包括壳体41、探针42、压缩弹簧43和导线44，壳体41设置连杆33上；探针42可上下移动设置在壳体41中，探针42的底端设置有防止探针完全进入壳体41中的限位部421；压缩弹簧43设置在壳体41中，缠绕在探针2外周面，一端与探针42外周面固定连接，另一端与壳体41内壁连接；导线44一端深入壳体41中与探针42连接，另一端向外延伸，测试时，探针因为压缩弹簧的作用，而减小固定向下压力，不会过分挤压单层微波电容器，不易损伤单层微波电容器7的镀金层，也保持单层微波电容器7与探针42、铜排6的良好接触，保证单层微波电容器7的金层及陶瓷基体无损伤。驱动机构5连接并驱动测试探针4升降移动，包括设置在竖杆31上沿竖直方向延伸的滑轨51、设置在滑轨51上可上下滑动的滑块52和驱动滑块52上下移动的驱动装置53，连杆33与滑块52连接，驱动装置53包括设置在横杆32上可旋转的转动盘531、一端与转动盘531活动连接另一端与连杆33活动连接的连接件532、连接并驱动转动盘531转动的驱动件534和设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，其特征在于：包括底座、测试探针、支架和驱动机构，底座设置有用于放置单层微波电容器的放置槽，测试探针与放置槽相对可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置在支架上，驱动机构连接并驱动测试探针升降移动，所述放置槽的底面设置有铜排，铜排连接有线缆，当测试探针在第一位置时，测试探针位于放置槽的上方，当测试探针在第二位置时，测试探针下降至放置槽中，单层微波电容器夹紧在铜排与测试探针之间。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，其特征在于：包括底座、测试探针、支架和驱动机构，底座设置有用于放置单层微波电容器的放置槽，测试探针与放置槽相对可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置在支架上，驱动机构连接并驱动测试探针升降移动，所述放置槽的底面设置有铜排，铜排连接有线缆，当测试探针在第一位置时，测试探针位于放置槽的上方，当测试探针在第二位置时，测试探针下降至放置槽中，单层微波电容器夹紧在铜排与测试探针之间。


2.根据权利要求1所述的一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，其特征在于：驱动机构包括设置在支架上沿竖直方向延伸的滑轨、设置在滑轨上可上下滑动的滑块和驱动滑块上下移动的驱动装置，所述支架包括设置在放置槽上方与滑块连接的连杆，所述测试探针设置在连杆上。


3.根据权利要求2所述的一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，其特征在于：所述驱动装置包括设置在支架上可旋转的转动盘、一端与转动盘活动连接另一端与所述连杆活动连接的连接件、连接并驱动转动盘转动的驱动件和设置在驱动盘上限制测试探针处于第一位置或第二位置的限位块。


4.根据权利要求3所述的一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，其特征在于：所述连接件的中部形成有弯曲部，所述支架的顶面形成有让位孔，所述转动盘可转动地设置在让位孔中，当驱动件驱动转动盘顺时针转动至限位块卡在...

【专利技术属性】
技术研发人员：林泽清，曾小力，潘甲东，
申请(专利权)人：福建毫米电子有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35