一种光学波片测试台制造技术

本实用新型专利技术涉及测试台技术领域，尤其为一种光学波片测试台，包括测试台主体，所述测试台主体的下侧设置有支撑脚，所述测试台主体的下侧靠近支撑脚设置有移动轮，所述测试台主体的下侧内壁中间处设置有光源发射器，所述横向承载板的上侧中间处设置有起偏器安装台，所述连接板的右上侧固定设置有波片放置台，所述波片放置台的主体中间处开设有波片放置槽，所述测试台主体的上侧中间处设置有检偏器安装台，所述起偏器安装台、检偏器安装台的主体中间处开设有装置安装槽，所述固定座的正面安装有控制显示面板，所述安装连接板的正面中间处安装有光强检测器，通过该工作台使用简单方便，快捷，能够进行结果检测参数对比，使测试的结果更加准确。

An optical wave plate test-bed

【技术实现步骤摘要】
一种光学波片测试台
本技术涉及测试台
，具体为一种光学波片测试台。
技术介绍
光波具有不同偏振态，光学系统中经常需要改变光波的偏振态或检测光波的偏振态，由于光波的偏振态是由其正交振动的振幅比与相位差所决定，因此改变这两个参量就可以改变光波的偏振态，利用光通过晶体改变入射光的相位差的特点而制作的一类光学器件就称为波片，在光学波片零件加工制造过程中，需要反复的研磨、抛光，波片零件需要根据其性能参数进行检测，确保加工的波片零件符合要求，因此需要一种光学波片测试台对上述问题做出改善。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种光学波片测试台，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种光学波片测试台，包括测试台主体，所述测试台主体的下侧设置有支撑脚，所述测试台主体的下侧靠近支撑脚设置有移动轮，所述测试台主体的下侧内壁中间处设置有光源发射器，所述测试台主体的内部位于光源发射器上侧固定连接有横向承载板，所述横向承载板的上侧中间处设置有起偏器安装台，所述测试台主体的内部位于横向承载板的上侧固定连接有连接板，所述连接板的右上侧固定设置有波片放置台，所述波片放置台的主体中间处开设有波片放置槽，所述波片放置槽的内部上侧放置有波片，所述测试台主体的上侧中间处设置有检偏器安装台，所述起偏器安装台、检偏器安装台的主体中间处开设有装置安装槽，所述测试台主体的左上侧左上侧设置有第一支撑立板，所述测试台主体的右上侧设置有第二支撑立板，所述第一支撑立板和第二支撑立板的上侧设置有固定座，所述固定座的正面安装有控制显示面板，所述第一支撑立板、第二支撑立板之间位于固定座的下侧设置有安装连接板，所述安装连接板的正面中间处安装有光强检测器。优选的，所述光源发射器、光强检测器通过电源线与控制显示面板连接。优选的，所述控制显示面板设置有显示屏和控制键。优选的，所述装置安装槽贯穿起偏器安装台、检偏器安装台设置。优选的，所述波片放置槽贯穿波片放置台设置。优选的，所述装置安装槽、放置槽、光强检测器、光源发射器位于同一轴线设置。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术中，通过设置的装置安装槽、放置槽、光强检测器、光源发射器位于同一轴线设置在对起偏器进行转动校准时简单方便，通过控制显示面板设置的显示屏和控制键，能够对光强检测器检测的结果进行更好更直白的展现，并且能够进行参数对比，操作简单方便，测试的精确度高。2、本技术中，通过设置的该工作台使用简单方便，快捷，并且能够进行结果检测参数对比，使测试的结果更加准确。附图说明图1为本技术整体主视图；图2为本技术波片放置台结构图；图3为本技术起、检偏器结构图。图中：1-测试台主体、2-支撑脚、3-移动轮、4-光源发射器、5-横向承载板、6-起偏器安装台、7-连接板、8-波片放置台、9-波片放置槽、10-波片、11-检偏器安装台、12-装置安装槽、13-第一支撑立板、14-第二支撑立板、15-固定座、16-控制显示面板、17-安装连接板、18-光强检测器。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例,基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，本技术提供一种技术方案：一种光学波片测试台，包括测试台主体1，测试台主体1的下侧设置有支撑脚2，测试台主体1的下侧靠近支撑脚2设置有移动轮3，测试台主体1的下侧内壁中间处设置有光源发射器4，测试台主体1的内部位于光源发射器4上侧固定连接有横向承载板5，横向承载板5的上侧中间处设置有起偏器安装台6，测试台主体1的内部位于横向承载板5的上侧固定连接有连接板7，连接板7的右上侧固定设置有波片放置台8，波片放置台8的主体中间处开设有波片放置槽9，波片放置槽9的内部上侧放置有波片10，测试台主体1的上侧中间处设置有检偏器安装台11，起偏器安装台6、检偏器安装台11的主体中间处开设有装置安装槽12，测试台主体1的左上侧左上侧设置有第一支撑立板13，测试台主体1的右上侧设置有第二支撑立板14，第一支撑立板13和第二支撑立板14的上侧设置有固定座15，固定座15的正面安装有控制显示面板16，第一支撑立板13、第二支撑立板14之间位于固定座15的下侧设置有安装连接板17，安装连接板17的正面中间处安装有光强检测器18，光源发射器4、光强检测器18通过电源线与控制显示面板16连接，控制显示面板16设置有显示屏和控制键，装置安装槽12贯穿起偏器安装台6、检偏器安装台11设置，波片放置槽9贯穿波片放置台8设置，通过设置的装置安装槽12、放置槽9、光强检测器18、光源发射器4位于同一轴线设置在对起偏器进行转动校准时简单方便，通过控制显示面16板设置的显示屏和控制键，能够对光强检测器18检测的结果进行更好更直白的展现，并且能够进行参数对比，操作简单方便，测试的精确度高。本技术工作流程：使用时，通过装置安装槽12将起偏器安装在起偏器安装台6上，通过装置安装槽12将检偏器安装在检偏器安装台11上，通过波片放置槽9将波片10放置在波片放置台8，通过控制显示面板16对光源发射器4进行控制发射光源，通过控制显示面板16控制光强检测器18进行控制启用，通过光强检测器18对通过波片的光源进行强度检测，通过控制显示面板16进行显示对比检测，通过设置的装置安装槽12、放置槽9、光强检测器18、光源发射器4位于同一轴线设置在对起偏器进行转动校准时简单方便，通过控制显示面16板设置的显示屏和控制键，能够对光强检测器18检测的结果进行更好更直白的展现，并且能够进行参数对比，操作简单方便，测试的精确度高。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学波片测试台，包括测试台主体(1)，其特征在于：所述测试台主体(1)的下侧设置有支撑脚(2)，所述测试台主体(1)的下侧靠近支撑脚(2)设置有移动轮(3)，所述测试台主体(1)的下侧内壁中间处设置有光源发射器(4)，所述测试台主体(1)的内部位于光源发射器(4)上侧固定连接有横向承载板(5)，所述横向承载板(5)的上侧中间处设置有起偏器安装台(6)，所述测试台主体(1)的内部位于横向承载板(5)的上侧固定连接有连接板(7)，所述连接板(7)的右上侧固定设置有波片放置台(8)，所述波片放置台(8)的主体中间处开设有波片放置槽(9)，所述波片放置槽(9)的内部上侧放置有波片(10)，所述测试台主体(1)的上侧中间处设置有检偏器安装台(11)，所述起偏器安装台(6)、检偏器安装台(11)的主体中间处开设有装置安装槽(12)，所述测试台主体(1)的左上侧左上侧设置有第一支撑立板(13)，所述测试台主体(1)的右上侧设置有第二支撑立板(14)，所述第一支撑立板(13)和第二支撑立板(14)的上侧设置有固定座(15)，所述固定座(15)的正面安装有控制显示面板(16)，所述第一支撑立板(13)、第二支撑立板(14)之间位于固定座(15)的下侧设置有安装连接板(17)，所述安装连接板(17)的正面中间处安装有光强检测器(18)。/n...

【技术特征摘要】
1.一种光学波片测试台，包括测试台主体(1)，其特征在于：所述测试台主体(1)的下侧设置有支撑脚(2)，所述测试台主体(1)的下侧靠近支撑脚(2)设置有移动轮(3)，所述测试台主体(1)的下侧内壁中间处设置有光源发射器(4)，所述测试台主体(1)的内部位于光源发射器(4)上侧固定连接有横向承载板(5)，所述横向承载板(5)的上侧中间处设置有起偏器安装台(6)，所述测试台主体(1)的内部位于横向承载板(5)的上侧固定连接有连接板(7)，所述连接板(7)的右上侧固定设置有波片放置台(8)，所述波片放置台(8)的主体中间处开设有波片放置槽(9)，所述波片放置槽(9)的内部上侧放置有波片(10)，所述测试台主体(1)的上侧中间处设置有检偏器安装台(11)，所述起偏器安装台(6)、检偏器安装台(11)的主体中间处开设有装置安装槽(12)，所述测试台主体(1)的左上侧左上侧设置有第一支撑立板(13)，所述测试台主体(1)的右上侧设置有第二支撑立板(14)，所述第一支撑立板(13)和第二支撑立板(14)的上侧设置有固定座(15)，所述固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐虎林，
申请(专利权)人：泰州晶达光电有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32