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一种基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统及检测方法技术方案

技术编号:23846426 阅读:120 留言:0更新日期:2020-04-18 06:37
本发明专利技术公开了一种基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统及检测方法,属于漆膜厚度测量领域。该检测系统通过共聚焦探头发射的纵向光路,和电涡流探头发射的横向电磁波的路径交汇处,设置透明导电薄膜电极材料;利用透明电极的导电性和透光性,使共聚焦探头与电涡流探头同时测量待测漆膜中同一待测区域的上、下表面,实现非接触式检测。利用该检测系统的检测方法,通过对电涡流探头实施标定操作,消除非接触式测量过程中检测距离对电涡流探头结果的影响,并通过电涡流探头的结果校准,实现非接触式测得的待测漆膜厚度。本发明专利技术实现了漆膜厚度的非接触式漆膜厚度无损检测,具有广阔的应用前景。

A non-contact paint film thickness nondestructive testing system and method based on transparent conductive film electrode material

【技术实现步骤摘要】
一种基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统及检测方法
本专利技术属于漆膜厚度测量领域,涉及一种基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统及检测方法。
技术介绍
为了满足机车、车辆等外观金属的防腐需求,加之现代社会对图案个性化,美观化的强烈追求,往往会对车辆,金属加工件外表面喷涂防腐蚀漆膜或装饰性漆膜。其中,涂层的厚度检测是衡量涂层隔离能力、涂层寿命以及喷涂质量的一项重要指标。不合理的涂层厚度会产生诸如流挂、漆花等涂层缺陷,影响漆膜的外观质量,并提高喷涂成本。因此,对于传统加工业与车辆领域,漆膜厚度的精确测量具有十分重要的意义。目前,传统的漆膜厚度测量方法主要有湿膜法和干膜法。湿膜法主要以湿膜厚度测量法为主。湿膜法可测量平直表面或弯曲表面,但测量过程中需要破坏漆面,且测量过程为局部采样,因此不适合大面积漆膜厚度的测量。干膜测量包括磁性测厚法、磁阻法电磁感应测厚法、同位素X射线荧光测厚法、横截面厚度显微镜测量方法和涡流法漆膜测厚仪。其中,磁性测厚法价格便宜、结构简单、测量不需校准,但是该方法只能测量非磁性本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统,其特征在于,包括共聚焦测量探头和电涡流测量探头;/n其中,共聚焦探头发射的纵向光路垂直于待测漆膜上表面,电涡流探头发射的横向电磁波平行于待测漆膜上表面,在共聚焦探头发射的纵向光路和电涡流探头发射的横向电磁波的路径交汇处设有透明导电薄膜电极材料。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统,其特征在于,包括共聚焦测量探头和电涡流测量探头;
其中,共聚焦探头发射的纵向光路垂直于待测漆膜上表面,电涡流探头发射的横向电磁波平行于待测漆膜上表面,在共聚焦探头发射的纵向光路和电涡流探头发射的横向电磁波的路径交汇处设有透明导电薄膜电极材料。


2.根据权利要求1所述的基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统,其特征在于,透明导电薄膜电极材料与待测漆膜呈45°夹角。


3.根据权利要求1所述的基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统,其特征在于,还包括与共聚焦测量探头和电涡流测量探头电性连接的自动化控制器;所述自动化控制器用于收集、处理共聚焦探头和电涡流探头的检测信号。


4.基于权利要求1~3中任意一项所述的基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)对电涡流探头实施标定操作,获得输出示数标定关系;
2)利用共聚焦探头测量待测漆膜上表面到共聚焦探头的距离;
3)利用电涡流探头得到待测漆膜下表面到电涡流探头的距离输出示数;
4)对共聚焦探头的测量距离和电涡流探头的距离输出示数,利用步骤1)所得输出示数标定关系进行数据校准,得到待测漆膜厚度。


5.根据权利要求4所述的基于透明导电薄膜电极材料的非接触式漆膜厚度无损检测系统的检测方法,其特征在于,步骤1)所述的标定操作,包括以下步骤:
a)用电涡流探头对厚度已知但厚度不同的若干组漆膜样本进行检测,记录不同...

【专利技术属性】
技术研发人员:贾书海江超徐顺建钟德敏
申请(专利权)人:新余学院西安交通大学
类型:发明
国别省市:江西;36

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