纳米颗粒检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种检测装置及方法，尤其是一种纳米颗粒检测装置及方法，属于颗粒检测的技术领域。按照本发明专利技术提供的技术方案，所述纳米颗粒检测装置，包括能产生平面电磁波的电磁波发生器以及与所述电磁波发生器适配的透镜组；在所述电磁波发生器产生平面电磁波的传播方向上设置颗粒检测球体，所述颗粒检测球体包括外球体以及位于所述外球体内的内球体，平面电磁波通过颗粒检测球体产生的纳米射流通过纳米颗粒时，通过透镜组能得到反向散射波，且根据所述反向散射波的强度实现对纳米颗粒的检测。本发明专利技术能有效提高纳米颗粒检测的精度，提高纳米颗粒检测的适应性以及适用范围，安全可靠。

Nanoparticle detection device and method

【技术实现步骤摘要】
纳米颗粒检测装置及方法
本专利技术涉及一种检测装置及方法，尤其是一种纳米颗粒检测装置及方法，属于颗粒检测的

技术介绍
目前，利用平面波照射球体能实现对纳米颗粒的检测，在检测时，放置在被平面电磁波照射的球体的阴影侧的纳米颗粒会使得反向散射波强度显著变化，随着纳米粒子与球体之间的距离以及纳米粒子的尺寸不同，反向散射波的强度也会有所不同。在利用球体对纳米球体进行检测时，球体为单个球体。纳米颗粒放置在球体表面附近时，反向散射波的强度最大，而随着纳米颗粒远离球体时，使得反向散射波的强度迅速减小，从而使得现有对纳米颗粒检测的精度低，检测效果差。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种纳米颗粒检测装置及方法，其能有效提高纳米颗粒检测的精度，提高纳米颗粒检测的适应性以及适用范围，安全可靠。按照本专利技术提供的技术方案，所述纳米颗粒检测装置，包括能产生平面电磁波的电磁波发生器以及与所述电磁波发生器适配的透镜组；在所述电磁波发生器产生平面电磁波的传播方向上设置颗粒检测球体，所述颗粒检测球体包本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种纳米颗粒检测装置，包括能产生平面电磁波的电磁波发生器(1)以及与所述电磁波发生器(1)适配的透镜组；其特征是：在所述电磁波发生器(1)产生平面电磁波的传播方向上设置颗粒检测球体，所述颗粒检测球体包括外球体(3)以及位于所述外球体(3)内的内球体(4)，平面电磁波通过颗粒检测球体产生的纳米射流通过纳米颗粒(5)时，通过透镜组能得到反向散射波，且根据所述反向散射波的强度实现对纳米颗粒(5)的检测。/n

【技术特征摘要】
1.一种纳米颗粒检测装置，包括能产生平面电磁波的电磁波发生器(1)以及与所述电磁波发生器(1)适配的透镜组；其特征是：在所述电磁波发生器(1)产生平面电磁波的传播方向上设置颗粒检测球体，所述颗粒检测球体包括外球体(3)以及位于所述外球体(3)内的内球体(4)，平面电磁波通过颗粒检测球体产生的纳米射流通过纳米颗粒(5)时，通过透镜组能得到反向散射波，且根据所述反向散射波的强度实现对纳米颗粒(5)的检测。


2.根据权利要求1所述的纳米颗粒检测装置，其特征是：所述内球体(4)在外球体(3)内呈非同心分布，且内球体(4)的中心、外球体(3)的中心在与平面电磁波传播方向平行的直线上。


3.根据权利要求1所述的纳米颗粒检测装置，其特征是：所述内球体(4)的介电常数为外球体(3)介电常数的一半。

【专利技术属性】
技术研发人员：阿诺德·阿布拉莫夫，亚历山大·科斯蒂科夫，岳玉涛，王明明，
申请(专利权)人：江苏集萃深度感知技术研究所有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32