光流组件测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光流组件测试设备，包括提供测试功能区的测试柜台以及设置在测试柜台内的：平行设置的介质和滑行轨道；组件承载台，设置在滑行轨道上，可沿滑行轨道移动，其上安装光流组件，且其安装方向与介质的摆放方向呈预设角度，组件承载台滑行时可带动光流组件在介质上方移动以采集介质图像；下压机构和针测结构，设置在组件承载台上且位于光流组件上方，下压机构下压使针测结构顶部的测试针与光流组件的测试点接触；上顶机构，在光流组件移动到上顶机构上方时，上顶机构上顶后与下压后的下压机构共同为光流组件形成一个封闭空间进行测试，本实用新型专利技术操作简单、方便，降低了操作人员工作量，节省了人力成本，也提高了测试效率。

Optical flow component test equipment

【技术实现步骤摘要】
光流组件测试设备
本技术涉及测试领域，尤其涉及一种光流组件测试设备。
技术介绍
目前，对于扫地机器人的光流组件测试，主要是包括光流组件中LED与激光(LASER)功率以及光流组件中传感器通讯测试、传感器测试，此两种测试分为两个工位测试，而且当前测试方案都是采用快速夹结构，整体来说，操作复杂，费时费力，测试效率不高。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种光流组件测试设备。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种光流组件测试设备，包括提供测试功能区的测试柜台以及设置在所述测试柜台内的：平行设置的介质和滑行轨道，所述介质设置在所述滑行轨道的前方；组件承载台，设置在所述滑行轨道上，可沿所述滑行轨道移动，所述组件承载台上安装所述光流组件，所述光流组件的安装方向与所述介质的摆放方向呈预设角度，所述组件承载台滑行时可带动所述光流组件在所述介质上方移动以采集介质图像；下压机构和针测结构，设置在所述组件承载台上且位于所述光流组件上方，所述针测结构连接在所述下压机构底部，所述下压机构下压使针测结构顶部的测试针与所述光流组件的测试点接触；上顶机构，设置在所述介质的端部一侧，在所述光流组件移动到上顶机构上方时，所述上顶机构上顶后与下压后的所述下压机构共同为所述光流组件形成一个封闭空间进行测试。优选地，所述上顶机构包括上顶气缸以及弹性固定在所述上顶气缸顶部的弹性块。优选地，所述滑行轨道为电动滑台，所述电动滑台可在伺服电机的驱动下移动。优选地，所述组件承载台上还固定有一通讯卡，所述通讯卡与所述测试针电连接，所述通讯卡还通过USB线与电脑连接，所述USB线附着于拖链结构上，所述拖链结构位于所述滑行轨道的后方。优选地，所述针测结构包括一底部开放的盒子，所述测试针贯穿所述盒子顶部固定。优选地，所述预设角度为45°角。优选地，所述下压机构包括一下压气缸。优选地，所述测试柜包括上柜体和下箱体，上柜体前方开放，上柜体与下箱体之间形成所述测试功能区，上柜体前方开放处设置光栅，下箱体放置硬件控制部分。本技术的光流组件测试设备，具有以下有益效果：本技术通过下压机构下压使针测结构顶部的测试针与所述光流组件的测试点接触，上顶机构上顶后与下压后的所述下压机构共同为所述光流组件形成一个封闭空间进行测试，如此可以实现光流组件中LED与LASER功率以及光流组件中传感器通讯测试；而且组件承载台沿滑行轨道移动，光流组件的安装方向与所述介质的摆放方向呈预设角度，组件承载台滑行时可带动所述光流组件在所述介质上方移动以采集介质图像，如此可以获取光流组件的二个方向的图像数据，进而便于后续测试光流组件的二个方向位移偏差，从而实现传感器测试，总而言之，本技术实现功能测试合二为一的自动化测试，其操作简单、方便，降低了操作人员工作量，节省了人力成本，也提高了测试效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图：图1是本技术的光流组件测试设备的结构示意图；图2是图1中P区域的放大图；图3是针测结构部分的结构示意图；图4是上顶机构的结构示意图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的典型实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容更加透彻全面。应当理解本技术实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本技术实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。参考图1，本技术的光流组件测试设备，包括上柜体2和下箱体1，上柜体2前方开放，上柜体2与下箱体1之间形成所述测试功能区100，上柜体2前方开放处设置光栅3，上柜体2和光栅3实现防呆功能，避免人手或异物进入测试功能区100造成损伤，下箱体1放置硬件控制部分。参考图1，结合图2，本技术的光流组件测试设备还包括设置在所述测试柜台内的：介质8、滑行轨道12、组件承载台4、下压机构7、针测结构6、上顶机构10。其中，介质8可以是带釉纹磁砖或短毛地毯等，介质8和滑行轨道12平行设置，所述介质8设置在所述滑行轨道12的前方。所述滑行轨道12为电动滑台，所述电动滑台可在伺服电机的驱动下移动。组件承载台4设置在所述滑行轨道12的承载台上，伺服电机工作即可带动组件承载台4沿所述滑行轨道12移动。所述组件承载台4上安装所述光流组件5，光流组件5的安装方向与所述介质8的摆放方向呈预设角度，比如本实施例中光流组件5的安装方向与所述介质8的摆放方向之间呈45°角。测试时，驱动所述组件承载台4滑行，即可可带动所述光流组件5在所述介质8上方匀速移动以采集介质8图像。需要说明的是，光流组件5的安装方向实际上是指的传感器芯片的设置方向，光流组件5的安装方向与所述介质8的摆放方向之间呈45°角，实际上就相当于芯片的一对侧边与介质8的摆放方向一致(此反向即X方向)、另一对侧边与介质8的摆放方向垂直(此反向即Y方向)。另外，需要说的是，光流组件5安装到组件承载台4时不能影响光流组件55的传感器的感应功能，所以组件承载台4上在传感器的感应区域位置开设有通孔。参考图3，下压机构7和针测结构6设置在所述组件承载台4上，且位于所述光流组件5上方，所述针测结构6连接在所述下压机构7底部，所述下压机构7下压使针测结构6顶部的测试针61与所述光流组件5的测试点接触。上顶机构10，设置在所述介质8的端部一侧，上顶机构10平时收纳在下箱体1内，需要进行LED与LASER功率以及光流组件5中传感器通讯测试时，将光流组件5移动到上顶机构10上方，然后控制所述上顶机构10上顶、下压机构7下压，上顶机构10上顶后与下压后的所述下压机构7共同为所述光流组件5形成一个封闭空间进行测试。更具体的，所述针测结构6包括一底部开放的盒子，所述测试针61贯穿所述盒子顶部固定。所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光流组件测试设备，其特征在于，包括提供测试功能区的测试柜台以及设置在所述测试柜台内的：/n平行设置的介质和滑行轨道，所述介质设置在所述滑行轨道的前方；/n组件承载台，设置在所述滑行轨道上，可沿所述滑行轨道移动，所述组件承载台上安装所述光流组件，所述光流组件的安装方向与所述介质的摆放方向呈预设角度，所述组件承载台滑行时可带动所述光流组件在所述介质上方移动以采集介质图像；/n下压机构和针测结构，设置在所述组件承载台上且位于所述光流组件上方，所述针测结构连接在所述下压机构底部，所述下压机构下压使针测结构顶部的测试针与所述光流组件的测试点接触；/n上顶机构，设置在所述介质的端部一侧，在所述光流组件移动到上顶机构上方时，所述上顶机构上顶后与下压后的所述下压机构共同为所述光流组件形成一个封闭空间进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种光流组件测试设备，其特征在于，包括提供测试功能区的测试柜台以及设置在所述测试柜台内的：
平行设置的介质和滑行轨道，所述介质设置在所述滑行轨道的前方；
组件承载台，设置在所述滑行轨道上，可沿所述滑行轨道移动，所述组件承载台上安装所述光流组件，所述光流组件的安装方向与所述介质的摆放方向呈预设角度，所述组件承载台滑行时可带动所述光流组件在所述介质上方移动以采集介质图像；
下压机构和针测结构，设置在所述组件承载台上且位于所述光流组件上方，所述针测结构连接在所述下压机构底部，所述下压机构下压使针测结构顶部的测试针与所述光流组件的测试点接触；
上顶机构，设置在所述介质的端部一侧，在所述光流组件移动到上顶机构上方时，所述上顶机构上顶后与下压后的所述下压机构共同为所述光流组件形成一个封闭空间进行测试。


2.根据权利要求1所述的光流组件测试设备，其特征在于，所述上顶机构包括上顶气缸以及弹性固定在所述上顶气缸顶部的弹性块。


3.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡小玲，刘晖，冯浩鹏，李敏凯，
申请(专利权)人：深圳长城开发科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44