集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备制造方法及图纸

本公开涉及计算机技术领域，尤其涉及一种集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备。所述方法包括：获取待修补集成电路的失效测试单元数据；根据所述失效测试单元数据并结合由深度学习网络构建的类型分析模型获取所述待修补集成电路的失效单元分布类型；根据所述失效单元分布类型在修补算法库中获取各候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标，并将所述修补性能指标最优的所述候选修补算法确定为目标修补算法。本公开使得对每个待修补集成电路的修补均可达到修补率最高、修补电路的使用数量最少、修补分析时间最短等，同时提高了修补效率和准确率，同时也降低了修补成本。

【技术实现步骤摘要】
集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备
本公开涉及计算机
，尤其涉及一种集成电路修补算法确定方法及装置、存储介质、电子设备。
技术介绍
目前，在集成电路的生产过程中需对集成电路进行测试，以得到测试数据，并通过判断测试数据是否存在失效测试单元数据以判断集成电路是否通过测试。为了提高生产良率，对于未通过测试的集成电路，即在测试数据中存在失效测试单元数据时，可以通过修补算法并结合测试数据中的失效测试单元数据生成该集成电路的修补配解信息，并根据修补配解信息对集成电路进行修补。在现有的修补过程中，针对所有未通过测试的集成电路均采用同一个修补算法进行修补，然而，由于每个集成电路的测试数据中的失效测试单元数据不同，因此，对于所有的未通过测试的集成电路，采用同一个修补算法，无法使得对每个集成电路的修补均达到修补率最高、修补电路的使用数量最少、修补分析时间最短等。因此，需要提供一种新的集成电路修补算法确定方法，以根据该集成电路修补算法确定方法对每个集成电路进行修补，使得对每个集成电路的修补均达到修补率最高、修补电路的使用数量最少、修补分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路修补算法确定方法，其特征在于，包括：/n获取待修补集成电路的失效测试单元数据；/n根据所述失效测试单元数据并结合由深度学习网络构建的类型分析模型获取所述待修补集成电路的失效单元分布类型；/n根据所述失效单元分布类型在修补算法库中获取各候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标，并将所述修补性能指标最优的所述候选修补算法确定为目标修补算法。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路修补算法确定方法，其特征在于，包括：
获取待修补集成电路的失效测试单元数据；
根据所述失效测试单元数据并结合由深度学习网络构建的类型分析模型获取所述待修补集成电路的失效单元分布类型；
根据所述失效单元分布类型在修补算法库中获取各候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标，并将所述修补性能指标最优的所述候选修补算法确定为目标修补算法。


2.根据权利要求1所述的集成电路修补算法确定方法，其特征在于，在所述获取待修补集成电路的失效测试单元数据之前还包括：
获取多个集成电路样本的失效测试单元数据；
对各所述集成电路样本的失效单元分布类型进行标记；
根据各所述集成电路样本的失效测试单元数据以及各所述集成电路样本的失效单元分布类型对所述深度学习网络进行训练以得到所述类型分析模型。


3.根据权利要求1所述的集成电路修补算法确定方法，其特征在于，所述根据所述失效单元分布类型在修补算法库中获取各候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标，并将所述修补性能指标最优的所述候选修补算法确定为目标修补算法包括：
获取用户对所述待修补集成电路的修补需求信息；
根据所述失效单元分布类型在修补算法库中获取各候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标；
将所述修补需求信息与各所述候选修补算法对所述失效单元分布类型的修补性能指标进行匹配，并将匹配的所述候选修补算法确定为目标修补算法。


4.根据权利要求1所述的集成电路修补算法确定方法，其特征在于，所述方法还包括：构建所述修补算法库，其中，所述构建所述修补算法库包括：
获取各所述候选修补算法对各...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪锡，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34